庞子博 杨东海 马春喜 张志鹏
(中国电子科技集团公司第四十六研究所,天津,300220)
聚四氟乙烯(PTFE)具有优异的化学惰性、耐候性、热稳定性、难燃性、不黏性和自润滑性[1]。而且PTFE具有已知树脂中最低的相对介电常数(εr为1.800~2.200),并且其损耗因子小于0.000 50、体积电阻高达1018Ω·cm、表面电阻大于1016Ω[2-4]。因此,通常选用PTFE树脂作为低介低损基板的基材。然而,PTFE存在以下缺点:a) 熔点高且黏度大,熔融时需要加很大的压力才能勉强使其微微流动;b) 质地较软、力学性能较差;c) 和铜箔的线膨胀系数相差较大,制成印制电路板后尺寸涨缩较大[5-8]。因此,基于PTFE树脂的基板难以加工成型,对设备和工艺的要求较高。
美国多家企业已开发出多款低介低损基板产品并得到广泛的应用,例如美国Rogers公司的RT/duroid 5000系列、DiClad系列、CuClad系列等产品,它们均具有小于2.700的相对介电常数和小于0.002 00的损耗因子,已广泛应用于天线、滤波器、调制器、混频器等组件的研制[9-13]。
下面以1037型玻璃纤维布增强PTFE浸渍片、PTFE薄膜和铜箔等为原料,通过改变原料比例,采用相同热压烧结程序制得了介质层厚度约0.250 mm、相对介电常数2.120~2.540、损耗因子不大于0.001 40的一系列基板,数据拟合后发现,复合基板介质层相对介电常数与原料体积分数之间的关系符合Lichtenecker对数法则。
1037型玻璃纤维布增强PTFE浸渍片(以下简称“1037布浸渍片”),单位面积质量为58 g/m2,自制;PTFE薄膜,厚度为25 μm,上海华尔卡氟塑料制品有限公司;电解铜箔,厚度为35 μm,THE,山东金宝电子股份有限公司。
真空层压机,VLP-150,活全机器股份有限公司;网络分析仪,N5230C,安捷伦科技有限公司;带状线法测试夹具,自制;数显外径千分尺,340-521,三丰量具中国有限公司。
由于PTFE即使被加热到熔点之上其流动性也很差,并且层压后1037布浸渍片和PTFE薄膜厚度均为25 μm左右,因此在设计介质层目标厚度约为0.250 mm的复合基板时,可将介质层视为由10层厚度为25 μm的料片叠合层压而成。为了提高铜箔的抗剥强度和层间结合强度,将这10层料片中靠近铜箔的2层确定为PTFE薄膜,剩下的8层中1037布浸渍片层数不少于2层。图1为复合基板介质层层叠结构设计示意。
为了在介质层层叠结构设计过程中便于标记和容易理解,约定简记规则如下:1) 将1037布浸渍片用字母A简记,将PTFE薄膜用字母B简记;2) 10层料片自上而下的层叠顺序用简记字母从左往右依次标记;3) 当邻近的几层是相同材质料片时,相同材质料片的层数用下标表示。例如,10层料片中间8层均为1037布浸渍片时,介质层层叠结构可简记为BA8B。
在设计复合基板介质层层叠结构时,一般要使层叠结构具有较高的对称性。应尽量使料片对称分布,不对称的部分尽量分布在中部。例如,10层料片中间有7层为1037布浸渍片、1层是PTFE薄膜时,层叠结构应设计为BA3BA4B。表1中列出了所有可能的介质层层叠结构及1037布浸渍片的体积分数。
表1 0.250 mm基板的介质层层叠结构设计
图2为料片叠合与层压工艺流程。
首先将1037布浸渍片和PTFE薄膜裁切成尺寸为200 mm×200 mm的薄片。按表1的层叠结构设计,将裁切好的1037布浸渍片和PTFE薄膜依次进行叠合,并在其上下表面分别覆盖铜箔,将层叠好的材料置于两张镜面钢板之间,放入真空层压机中,升温速率3 ℃/min,最高温度375 ℃,压力5 MPa,保温时间3 h,降温速率1 ℃/min[14]。冷却至25 ℃,得到复合基板。
介电性能测试按照GB/T 12636—1990进行,频率范围1~20 GHz。
厚度测试:选距离基板边缘(20±5) mm的一角和边的厚度,各测量3次,取平均值。
表2为复合基板介质层厚度与介电性能。
表2 复合基板介质层厚度与介电性能
由表2可以看出:7种层叠结构的介质层厚度为0.252~0.259 mm,符合要求(厚度约0.250 mm);7种层叠结构的相对介电常数为2.127~2.538,且随着1037布浸渍片使用比例的提高而增大;7种层叠结构的损耗因子为0.000 26~0.001 18,均低于0.002 00。
复合材料相对介电常数的理论模型及经验拟合公式较多,如Lichtenecker对数法则、Jayasundere-Smith模型、Maxwell-Wagner模型和Bruggeman方程等。其中,Lichtenecker对数法则如公式(1)所示:
(1)
公式(1)中:εr为复合材料的相对介电常数;εri为各组分的相对介电常数;Vi为各组分的体积分数,%。
复合基板介质层中只有1037型玻璃纤维布和PTFE树脂两种原料,为了便于计算,也可以将两种原料视为1037布浸渍片和PTFE薄膜,于是可以将公式(1)改写成:
ln(εr)= [ln(εrA)-ln(εrB)]VA+ ln(εrB)
(2)
公式(2)中:εr为复合基板介质层的相对介电常数;VA为1037布浸渍片的体积分数,%;εrA和εrB分别为1037布浸渍片和PTFE薄膜的相对介电常数。
将复合基板介质层的相对介电常数取自然对数(如表2所示),并对1037布浸渍片的体积分数作图(如图3所示)。
结合图3,采用线性关系进行数据拟合,所得拟合方程为ln(εr) = 0.294 5VA+ 0.701 2,并且R2=0.996 2,即相关度R为0.998 1,这说明复合基板介质层相对介电常数的自然对数随1037布浸渍片体积分数呈线性变化,符合Lichtenecker对数法则。
此外,基于拟合方程可以得出ln(εrA)=0.995 7和ln(εrB)=0.701 2,进而解出εrA=2.707和εrB=2.016,说明:1) 所采用的1037布浸渍片的相对介电常数为2.707。若层叠结构中10层原料均为该玻璃纤维布浸渍片,基板介质层的最大相对介电常数约为2.700;2) 所采用的PTFE薄膜的相对介电常数为2.016,与公知的PTFE相对介电常数(1.800~2.200)相符;3)基于所采用的1037布浸渍片和PTFE薄膜可以制备出相对介电常数为2.000~2.700的一系列低介低损复合基板,为研制相对介电常数2.200,2.330,2.400,2.450,2.500,2.550等规格的复合基板奠定了配方基础。
a) 通过调整玻璃纤维布增强PTFE浸渍片、PTFE薄膜等材料比例,采用层压法制备出一系列介质层厚度0.250 mm、相对介电常数2.120~2.540、损耗因子不大于0.001 40的复合基板。
b) 复合基板介质层相对介电常数与原料体积分数之间关系符合Lichtenecker对数法则。