余健 赖萌华 张保平
摘 要:采用射频磁控溅射方法在石英片上生长不同厚度Ag薄膜,测试了Ag膜反射率变化随厚度的变化关系,利用AFM和SEM分别研究Ag膜厚度对其表面粗糙度和形貌的影响。结果表明:Ag厚度在130nm以下时,随着厚度的增加,透射率急剧下降,其反射率逐渐增加;当厚度超过130nm时,透射率不再变化,由于表面RMS的增加使得散射损耗增大,使得其反射率随着厚度增加而减小。
关键词:反射率;Ag;SEM;AFM
引言
在金属中,由于金属内有自由电子,自由电子并没有被原子核束缚,当光传播至金属表面时,在其电场作用下自由电子会做受迫振动,然后产生与入射光相同频率的振荡,此振荡又放出与原来光线相同频率的光,这就是金属膜反射的原理。金属薄膜作为反射镜应用越来广泛[1-3]。一些小组也理论研究了金属厚度对其反射率的影响。深圳大学的范平等运用玻耳兹曼方程研究金属薄膜中的电子输运, 考虑了来自表面和晶粒间界的散射,得出电导率随金属薄膜厚度的变化[4]。上海交大的林育琼在此基础上提出了电子平均自由程模型,修正了电导率随厚度变化公式[5]。当金属薄膜厚度小于薄膜中自由电子平均自由程时,其平均自由程随着膜厚的增大而增大,此时薄膜越厚,反射率越高;当膜厚大于或者等于块状材料中的电子平均自由程时,薄膜中的电子平均自由程与块状材料相同,此时薄膜已相当于块状材料,随着膜厚的变化,其反射率基本保持不变。Ag在可见光范围内是最好的反射金属膜。然而,实验测量发现,Ag的反射率并不是保持不变的。以前的研究没有考虑Ag表面粗糙度的对反射率的影响,使得实验结果与理论计算不相符。文章根据Ag厚度对其表面粗糙度的影响,结合已有理论体系,进而得到一个Ag厚度对其反射率影响的修正公式。
1 实验
我们利用磁控溅射设备以44nm/min的速率在石英片上长60,120,160,200,240,1200nm六种不同厚度的Ag,然后用Cary5000紫外-可见-近红外光度计测量其反射率变化。为了分析Ag反射率随厚度变化规律,利用AFM和SEM分别观察Ag表面粗糙度和形貌。
2 结果与分析
2.1 Ag厚度对反射率的影响
利用Cary5000紫外-可见-近红外光度计测量不同厚度Ag膜反射率的变化情况。测量结果如图1所示,当Ag厚度在130nm以下时,随着Ag的厚度增加,Ag的反射率也急剧增加。然而当Ag的厚度超过130nm时,随着Ag的厚度继续增加,其反射率并不是不变,而是减小了。
2.2 Ag厚度对其透射率的影响
我们知道影响Ag的反射率主要有两个因素:第一是透射的影响,第二是散射的影响。为了进一步分析厚度影响Ag反射率的机制,我们利用Cary5000紫外-可见-近红外光度计测量厚度为60nm和120nm的Ag在400~600nm波段的透射率。实验结果如图2所示,我们发现60nm厚的Ag在400nm处的透射率高达6%,而120nm厚Ag的透射率几乎为零。这也就解释了,当Ag厚度低于130nm时,Ag反射率随厚度增加而增加的原因,这是透射率下降导致的。然而,当Ag厚度超过120nm时,透射就不再是影响反射率的因素了。
2.3 Ag厚度对其表面形貌的影响
我们利用扫描电子显微镜(SEM)观察厚度为60nm、130nm,240nm厚Ag的表面形貌(5万倍)。如图3所示,(a)(b)(c)分别是厚度为60、130、240nm Ag的表面形貌,我们发现随着Ag厚度的增加,Ag表面颗粒大小逐渐增大。这也表面厚度的增加使得Ag膜的表面粗糙度增加。
为了进一步定量分析表面粗糙度对Ag反射率的影响,我们利用原子力显微镜(AFM)测量不同厚度Ag的RMS(粗糙度)。如图4所示,随着Ag厚度的增加,Ag的RMS也逐渐增加。然而粗糙度的增加将直接导致散射增加。当Ag的厚度达到800nm时,它的表面粗糙度可达12nm。根据Karl H. Guenther的理论[6],散射对反射率的损失与粗糙度存在式(1)关系:
其中?啄是表面粗糙度,?姿是入射光波长。
根据式(1)计算,如图5所示,随着表面粗糙度的增加,散射损耗也会随之增加。当表面粗糙度为6nm时,散射损耗会超过2%。这充分说明Ag层的表面粗糙度的增加将导致其对入射光的散射增加,而这也使得其反射率减小。
2.4 修正公式
我们根据AFM测量曲线拟合出Ag表面粗糙度随厚度的变化关系:
δ=-0.00001d2+0.023d+1.632 (2)
将式(2)代入式(1)就可计算出Ag厚度变化对其散射损耗的影响。在文章中我们考虑表面散射的因素对Ag反射率的影响,提出了一个修正反射率随厚度变化公式:
R实际=R理论(1-?浊) (3)
根据式(3)计算出Ag实际的反射率随其厚度的变化关系,如图6所示,我们发现考虑了表面散射造成的影响,Ag的反射率计算结果和实验测量的結果基本吻合。因此,经过研究发现当Ag的厚度为130nm时,其反射率达到最高。
3 结束语
为了研究Ag膜厚度对其反射率的影响,我们利用磁控溅射设备在石英片上生长了不同厚度Ag膜样品,测量了样品反射率、透射率、AFM、SEM。结果表明Ag的厚度高于130nm时,其表面粗糙度的增加将使得其反射率下降。提出的修正公式弥补了Ag厚度超过130nm时与实验结果不相符的缺憾。
参考文献
[1]Kyu Sang Kim.Myoung Gyun Suh. and S. N. Cho, Nanometer sized Ni-dot/Ag/Pt structure for high reflectance of p-type contact metal in InGaN light emitting diodes,APPLIED PHYSICS LETTERS 100, 061113 (2012).
[2]I-Chen Chen a,Bo-Yuan Cheng a, Wen-Cheng Ke b, Cheng-Huang Kuo c,Li-Chuan Chang, Improved light reflectance and thermal stability of Ag-based ohmic contacts on p-type GaN with LaAdditive 57 (2013):51-57.
[3]Si. Y. Bae, J. P. Shim, D. S. Lee, S. R. Jeon, G. Namkoong, "Improved Photovoltaic Effects of a Vertical-Type InGaN/GaN Multiple Quantum Well Solar Cell Japanese ,"Jpn.J. Appl. Phys. 50(9R),092301(2011).
[4]范平,伍瑞锋,赖国燕.连续金属薄膜的电阻率研究[J].真空科学与技术,1999.
[5]林育琼,冯仕猛,王坤霞,等.金属薄膜厚度小于电子自由程对其光反射率的影响[J].光子学报,2011.
[6]Karl H. Guenther, Peter G. Wierer, and Jean M. Bennett, Surface roughness measurements of low-scatter mirrors and roughness standards, APPLIED OPTIC,1984,21(23):3820-3826.
作者简介:余健(1988-),男,汉,江西南昌,厦门大学物理系。
赖萌华(1991-),女,汉,福建龙岩,厦门大学电子工程系。
*通讯作者:张保平(1963-),男,汉,河北石家庄,教授,厦门大学电子工程系,研究方向:宽禁带半导体材料与光电子器件,微纳米结构制造及应用。