颅骨钻孔硬脑膜下电极置入视频脑电监测在致灶定位中的应用

2018-12-12 09:32张保中廖毓芝王兆伟张一鸣
武警医学 2018年11期
关键词:挫裂伤永久性颅骨

张保中,张 挺,王 飞,廖毓芝,王兆伟,张一鸣,袁 磊

1 对象与方法

1.2 电极置入方法 颅骨钻孔位置的选择,原则上由电极拟接触的大脑区域决定。最常用颅骨钻孔中心位置是耳廓尖上、后各2.0 cm。此处相当于外侧裂后支末端,这样电极可较准确地分别放置于额、颞、顶和枕叶的表面。具体操作是:取头皮纵向直线切口3.0~5.0 cm,依次切开头皮各层组织,剥开颅骨骨膜;颅骨钻孔,必要时可用咬骨钳适当扩大骨孔;“十”字打开硬脑膜和蛛网膜,可见脑脊液流出;按需要向不同方向分别置入不同规格的条状电极;自深及浅依次分层缝合头皮组织。电极导线从头皮另戳切口引出、固定,连接脑电图仪进行VEEG监测。

2 结 果

2.2 并发症 65例中,发生并发症1例,并发症率1.54%。该例并发症为局部脑组织挫裂伤,原因是放置电极时将电极插入了附近的脑组织。该组患者无永久性神经功能障碍并发症。

3 讨 论

3.2 颅骨钻孔硬脑膜下电极置入VEEG监测的安全性 颅内电极VEEG作为一种有创检查具有一定的风险,可以出现感染、出血、永久性神经功能障碍等严重并发症,甚至可导致死亡。文献[8]显示,颅内电极置入出现永久性神经功能障碍的概率比切除性手术低得多,只有0.5%,导致死亡的更是极为罕见。Ravindra等[9]研究发现,截至2013年,文献报道的颅内电极置入导致死亡的只有5例。本研究显示,颅骨钻孔硬脑膜下电极置入VEEG监测的并发症率1.54%,未造成永久性神经功能障碍。打开硬脑膜和蛛网膜时尽量保持软脑膜的完整、置入电极时勿用暴力可避免将电极误插入脑组织造成局部脑挫裂伤。

尽管本研究出现1例极为罕见的死亡病例。我们仍然同意大多数研究者的结论:颅内电极置入是一种非常安全的检查方法,并发症率极低,死亡极为罕见,是完全能为医师和患者所接受的一种有创检查。

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