基于六西格玛的电子封装内电容桥接问题研究

2016-11-19 03:18陈胜利范菲雅王子伟
关键词:失效分析六西格玛

陈胜利 范菲雅 王子伟

摘 要:本课题通过公司的实际案例来介绍如何分析半导体封装制造后产生重复发生并且极低不良率的失效。六西格玛改进办法是一套有效的改善办法,已经被应用到很多案例之中。A公司通过六西格玛改善方法来优化生产流程,彻底解决这类失效同时提高产品质量。

关键词:六西格玛;电容桥接;失效分析;极低不良率

中图分类号: F273;F416.6 文献标识码: A 文章编号: 1673-1069(2016)12-34-3

1 课题研究的意义

A公司是一家通过电子制造封装设计生产企业,封装产品主要被应用消费电子产品如各类移动设备上。随着市场迅速发展,难以有效解决的不良不仅造成客户投诉还会给公司带来严重的经济损失。为了提高产品质量和服务水平,必须应用有效的改进方法来解决问题。六西格玛是公认的有效的质量改善方法,已经被众多企业广泛采用。本课题介绍A公司通过六西格玛DMAIC改善方法提高产品质量并优化生产流程。

2 问题描述和失效分析

本文专注于运用DMAIC方法解决半导体封装中罕见的回流炉后电容发生焊锡桥接问题。此次发生的电容桥接问题是在客户端汇流炉之后的封装类型失效。通过不良品进行重新测试;发现在厂内测试环节和质量抽检完全可以将不良拦截下来。

进行物理失效分析客退样品,进一步确认发生是由于电容本体表面发生了金属桥接引起电源短路。桥接的位置发生在电容表面和模封塑料结合的界面之间,并且桥接的金属层厚度有10到20微米左右。(图1所示)

通过能谱仪分析桥接物质;其主要成分为焊锡SnAgCu合金其熔点为217℃左右。只有回流炉才有触发焊锡发生桥接的温度条件(峰值温度260℃);因此这类失效只会发生在经过回流炉以后会发生。通过抽检筛选和反复回流炉实验,发现每次都会有新的焊锡桥接失效产生。但最终统计所有发现的不良率却很低只有大约200dppm。这给判断哪个工艺流程或参数异常带来困难;而且这也说明失效会重复发生所以不良的风险极大。

3 成因分析鱼骨图

通过生产流程参数筛查和来料材料特性分析都没有发现明显的异常可以解释这种极低PPM的不良。为了更好地找到问题成因,使用鱼骨图分析法从人,机器,材料,方法,环境,测量六个方面一起研究焊锡桥接的成因;研究结果以鱼骨图的方式表现出来(图2所示):

通过人,机器,材料,方法,环境和测量六个方面推测可能导致电容焊锡桥接的各种因素。由于用测量系统分析和材料分析手段确认了都没有异常;焊锡量应该是最大的影响因素。因此焊锡量对比是下一步需要研究的重点。

4 焊锡量和数据分析

通过成因分析确定焊锡量对焊锡桥接问题有很大的影响。但是在实际生产检测过程中没有方法能对焊锡量进行检测,因此需要利用前文提到的失效分析方法通过抽样对比分析来确认焊锡量是否存在异常。

4.1 焊锡量

焊锡是指用来焊接电容等电子元器件到PCB板和基板的金属合金,它同时也起到导通电子元机件和线路的作用。在SMT中主要用印刷锡膏到开口钢板盖住的PCB板或基板将锡膏印刷在焊盘上面,再将电子元器件上件到锡膏上面。经过回流炉后,将锡膏内的助焊剂等活性成分蒸发后便留下焊锡焊接住电容。焊锡的含量主要由印刷上去的锡膏体积决定,锡膏的体积又由2个因素决定:①印刷钢板厚度;②焊盘面积

因为SMT完成后的焊锡是不规则形状并且依附在电容两端端子上,只能大体观测其大小但是没有精确界定其体积是否出现异常的方法。为了研究焊锡量;用到物理失效分析中金相切片分析的方法统计焊锡高度来表征实际焊锡量。具体方法是找出影响批次产品并对焊锡进行水平切片分析。然后用用测量显微镜测量焊锡高度,通过对比大量影响批次样品的焊锡高度分析其数据分布可以分析焊锡量是否出现异常。

4.2 数据分析

通过调取库存不良批次,影响批次和正常批次进行切片分析。如图3所示,需要统计焊锡4个位置的高度。位置1和位置4是表示电容两端端子的爬锡高度,位置2和位置4是表示电容两端端子底部的焊锡高度。通过比较测量数据,发生电容桥接的不良批次和受影响批次的4个位置的焊锡高度有明显不同,不良批次焊锡高度要远远高于正常批次。

利用微积分可以计算焊锡体积-公式:体积Vsolder=f(x,y)dxdy;S-焊锡底部体积;H-焊锡高度。焊锡底部对焊盘是完全浸润的,因此假设焊锡的底部面积S是一样的;所以决定焊锡体积的唯一因素就只有焊锡高度。通过切片分析后发现不良批次和影响批次焊锡高度偏高说明不良批次的焊锡量明显高于正常批次。通过数据分析还发现实际在好的批次中旧库存未受影响批次中也出现焊锡高度增加的趋向,说明在未受影响批次中也会有发生焊锡桥接问题的较大风险。

在生产流程中锡膏厚度会进行监测,通过重新调查过历史锡膏量记录发现厚度并未超出标准值并且也未显示明显趋势或异常。所以怀疑失效并非是由单个过程导致,而是由于封装本身设计不良的潜在风险导致的边界问题。

5 改进和效果验证

根据原因分析的结论,锡膏量是引起焊锡桥接的最重要因素。而控制锡膏量可以通过更改锡膏印刷钢板来完成;同时对基板版图的设计也增加了更新。锡膏印刷钢板的厚度会决定在焊盘上面锡膏的厚度,因此印刷钢板的厚度和开口大小是控制焊锡量的重要因素。

5.1 基板焊盘设计改进

基板焊盘是用来提供承载锡膏并且最终和形成的焊锡连接一起。用于表面贴装电子元器件的焊盘结构有两种:一种是非阻焊层限定,另外一种是阻焊层限定。

非阻焊层限定,英文简称:NSMD; 是指金属焊盘小于阻焊层开口。所以在表层布线电路板的NSMD焊盘上印刷电路导线的一部分将会受到焊锡的浸润。

阻焊层限定,英文名称:SMD;是指阻焊层开口小于金属焊盘。电路板设计可以自己定义形状位置或者焊盘的额定尺寸,因此阻焊层开口可以控制实际焊盘开口的尺寸。

由于这种电容几乎是电子元器件里面用到的最小的电容,在改善之前一直使用非阻焊层限定设计的基板焊盘。因为这种设计可以将阻焊层开口设计的更大从而保证在模塑时候模塑料的流动性。而对比发现另外一种采用的阻焊层限定的基板焊盘的电容从来没有发生过焊锡桥接的现象,这说明这种阻焊层限定的基板焊盘设计可以有效阻止焊锡桥接问题的产生,因此将问题电容的基板设计也统一改称阻焊层限定的基板焊盘。而且额外在焊盘中间的阻焊层设计了一个长方形开口。这样的好处在于既可以引导模塑料进入阻焊层开口保证模塑料在电容底部的流动性也可以在问题电容上面使用阻焊层限定设计的基板焊盘。同时确认它也能改变模塑料和电容中间的应力分布可以减少潜在发生电容焊锡桥接发生的机率。

5.2 印刷钢板设计改善

根据工程试验结果确认0.06mm厚度的锡膏印刷钢板在试验中没有发现有焊锡桥接的现象,因此属于比较安全的厚度。所以将SMT工艺所有锡膏印刷钢板厚度都减小到0.06mm。并且为了巩固改善效果同时还将印刷钢板的开口面积减少。

减小钢板开口面积是通过减小钢板宽度实现的-从原来的265mm减小到200mm,这样钢板开口面积可以减少到之前面积的75.4%。

5.3 焊锡量改善效果

从钢板开口面积减少再加上钢板厚度减少为0.06mm,整体锡膏盒焊锡量减少到改善之前的45%左右。通过对比金相切片照片也确认焊锡高度在改善后确实有明显缩小。统计更改后锡膏厚度测量CPK保持在1.53到1.75之间;说明其制程能力还属于优良制程完全可以满足生产工艺的要求。

6 控制措施

找到失效原因和实施控制措施之后,更加重要的是保证这些改进措施得到有效控制。在控制措施中,对锡膏印刷进行统计过程控制或SPC控制来监测锡膏印刷品质是否存在异常。统计过程控制,又简称SPC, 这是一种用数理统计方法的一种常用过程控制工具。它能够对实际生产过程进行分析和评价并保证过程在受控同时有能力的状态下进行,从而使产品或服务能稳定地满足客户要求。

6.1 锡膏厚度SPC

锡膏厚度直接影响到焊锡量,所以锡膏印刷是最需要进行控制和监测的流程。在实际生产中,用SPC控制图来检测锡膏厚度是否存在微小偏差。由于SPC可以有各个时间段的连续记录;同时记录不同时间点数据是否存在异常。

6.2 焊锡推力

焊锡推力测试是测试焊锡强度能否满足生产工艺要求。利用推力计逃上推力夹具,在测试时与基板约呈30°~50°。从电容宽处去推将电容除去所用的力,标准是不小于250g.f。通过改善措施将焊锡量减少会导致焊锡和焊盘结合强度降低,需要持续检测避免焊锡强度降低超出生产工艺标准。通过一段时间试验,结果表明最小推力数值也达到331.42g.f,所以改善后的焊锡强度完全可以满足标准。

6.3 在线质量检测

在线质量检测不同于出货抽检,在线质量检测一般是模拟客户端条件,如回流焊,电性条件模拟等。它主要作用是模拟客户端物理和功能测试环境,为了尽早把可能发生在客户端的问题拦截下来。在线质量检测可以模拟客户端条件如回流炉来筛选不良。在客诉发生之后确认最终改善效果是通过在线质量检测流程来筛选任何潜在不良;如下表所示通过在线质量检测确认影响批次和客退批次以及改善后检测结果。(见表1)

在基板和钢板改善措施实施后,为了更有效地拦截不良在线质量检测加严测试条件增加抽样数量-从原来每个批次30颗增加到90颗。从改善措施实施完成后到目前没有发现任何焊锡桥接不良。这说明改善措施已经完全改善了电容焊锡桥接的问题。

7 结论

此案例给研究极低不良率的失效带来明显的指导方法,通过六西格玛DMAIC研究法一步步进行:确认问题和不良失效分析,着重介绍了通过失效分析手段并加入数据分析方法可以发现难以察觉的异常包括这类因为封装设计导致的问题;然后根据分析结果确定主因。从而找到改进流程和最佳参数。通过加入控制手段,可以彻底解决这类极低不良率的失效问题。

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