许晖 尹忠东
摘 要:磁控电抗器(MCR)作为一种新型的可控电抗器,其补偿容量可以连续调节,从而实现无功的就地平衡、降低网损。但是损耗和温升限制了其优势的发挥。文章对其损耗和温升进行了全面分析,为其结构优化提供了思路和方法。
关键词:MCR;损耗;温升;磁场
引言
磁控电抗器简称MCR(Magnetic Control Reactor),它是一种容量可调的并联电抗器,基于MCR的磁控式静止无功补偿器主要用于电力系统的动态无功补偿。它利用铁磁材料的磁饱和特性,通过控制绕组上直流激励源的激磁作用来改变铁芯的磁饱和度,进而实现电抗器输出无功功率的连续平滑调节。随着电力系统的发展,电压等级不断提高,对无功的需求也越来越苛刻[1][2]。MCR以其显著的优势,非常适合应用在高压系统的无功补偿中。为突破其损耗和温升的限制,进一步扩大其应用范围,需要更合理的设计其结构。但在实际当中,设计周期长、费用大,这无疑增加了应用成本。为弥补以上不足,文章利用有限元分析软件ANSYS对MCR进行了合理建模,对损耗和温升问题进行了研究。
1 MCR分析
1.1 磁场分析
损耗包括铁损、铜损和杂散损耗。在这些运行损耗中,除绕组的电阻损耗外,其余损耗都是由磁通产生的。而损耗的计算是温度场分析的基础[3],因此首先需要分析MCR的磁路分布。这里选用的分析对象是单相干式MCR,电压等级为380V,额定电流IN=13A。
为更准确全面的分析MCR,在ANSYS中采用了3D模型,求解方式为瞬态求解法。根据后处理模块得到的磁路分布图可以看出,当只有直流激磁电流时,左右铁心柱的电流方向相反。因此中间磁轭的磁通相互抵消,磁通基本只分布在左右两边的铁心柱上。交流电流处于正向峰值时,左边铁心柱中的交流和直流方向一致,有助磁作用,右边铁心柱中的交流和直流方向相反,有消磁作用。所以左边磁路饱和,右边不饱和,中间铁轭有磁通。交流电流处于反向峰值时,左边铁心柱中的交流和直流方向相反,有消磁作用,右边铁心柱中的交流和直流方向一致,有助磁作用。所以左边磁路不饱和,右边饱和,中间铁轭有磁通。磁感应强度在中间铁芯处的值较小,为0.472T。这是因为中间铁芯没有绕组,仅作为磁路的通道。而在两边铁芯的磁阀处,磁感应强度达到了最大值2.231T,这个时候磁阀已经接近磁饱和。
1.2 损耗分析
MCR的损耗主要由磁滞损耗和涡流损耗构成。在工频条件下,取向和非取向的低碳硅钢片中磁滞损耗和涡流损耗的大小基本一致。在低频下,工程计算一般采用(1)式:
由式(1)可知,在得出了磁通密度的情况下,就能算出损耗值。这里,用ANSYS软件的单元表和自动计算功能,通过输入相应的参数,得到的涡流损耗为15.76W。由于软件功能的限制,无法显示其各个节点损耗值的分布,只能得出总体损耗,但这并不影响对损耗的分析和理解。由于涡流损耗与磁通密度B成正比,因此我们可以通过磁通密度分布图间接的定性分析损耗的分布,整体的定量分析就可以交给软件自动计算。对于厚度为0.35mm的硅钢片制造的MCR来说,涡流损耗约占磁滞损耗的43%。在额定电压下,铁耗和铜耗的值相当。因此可利用这个比例算得,此MCR的总损耗为:
此MCR的容量为3000VAR,可知此损耗占容量的百分比为1.9%。MCR损耗的理论值占总容量的1%至2%左右,因此这个值可以认为是合理的,可以为设计新结构的MCR以减小损耗提供对比数据。
1.3 温升分析
温升主要是由MCR运行中所产生的损耗引起的[4][5]。这里把磁场中求得的损耗焦耳热作为生热源,并通过ANSYS耦合模块加载到温度场分析中。在不影响精度的情况下,做出了以下简化:(1)远离绕组的空气温度恒定,相对压强为零;(2)认为空气为理想气体,其参数不随温度和压强而变化;(3)忽略匝间绝缘、垫块、夹件。铁芯温升数学表达式为:
式中:Tc为铁芯温升;qc为铁芯的有效表面负荷;Pc为铁芯损耗;Sc为铁芯有效散热面积。
在温度场分析前,读入磁分析结果库中的数据,作为载荷施加在实体模型上。通过耦合场求得的温度分布图中可知:铁芯的温度分布并不均匀,从低端到顶端的总体温度呈又高到低,又由低到高的马鞍形分布。通过温度和磁场的路径分布图可以看出,其分布规律和趋势基本一致,这是由于磁滞损耗与磁场强度成正比,涡流损耗与磁通密度成正比,温度又与损耗成正比。因此在磁饱和区域,温度较高。其余未饱和区域,温度较低。
2 结束语
从以上分析可知,磁饱和的位置为磁阀处。此处的损耗的温升都为最高值,属于运行薄弱环节。因此在运行中应加强此处的检测和管理。在结构优化设计中,应该着重改进此处的结构,降低此处磁场强度。
文章所建立的三维模型,可以为MCR的结构优化设计提供建模方法和理论依据。同时也能缩短设计周期,降低设计成本,为提高产品质量和经济效益有积极意义。
参考文献
[1]余梦泽,陈柏超,田翠华,等.采用磁控电抗器的静止型高压动态无功补偿装置[J].高电压技术,2009,35(7):1770-1775.
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[3]代忠滨.干式空心电抗器损耗及温度场研究[D].沈阳:沈阳工业大学,2012.
[4]Jansak L,Zizek F,Jelinek Z,et al.Loss analysis of a model transformer winding[J].IEEE Transactions on Applied Super Conductivity,2003,13(2):2352-2355.
[5]Rahimpor E,Azizian D.Analysis of temperature distribution in cast-resin dry-type transformers[J].Electrical Engineering,2007,89(4):301-309.