钱萍 陈驰 陈文华 吴山奇 郭明达
摘要:
针对电连接器用聚氨酯胶密封件在长贮条件下的寿命评估问题,从机理层面分析了聚氨酯胶密封件内聚破坏和边界破坏导致性能下降的原因。依据从机理层面建立的电连接器用聚氨酯胶密封件贮存可靠性统计模型,利用聚氨酯胶密封件温湿度综合应力加速退化试验数据,综合应用粒子群优化算法和回归分析、AD检验及拟合优度等检验方法,从数据统计层面验证了电连接器用聚氨酯胶密封件失效物理方程和退化轨迹模型的合理性。利用扫描电镜和能谱分析验证了失效机理分析的正确性。最后,利用所建模型评估了电连接器用聚氨酯胶密封件在贮存环境下的可靠寿命。
关键词:电连接器;密封失效机理;加速试验;统计检验;可靠性评估
中图分类号:V442;TB114
DOI:10.3969/j.issn.1004132X.2024.05.014
开放科学(资源服务)标识码(OSID):
Accelerated Test Verification and Evaluation of Storage Reliability Statistical
Model of Polyurethane Sealing Elements for Electrical Connectors
QIAN Ping CHEN Chi CHEN Wenhua WU Shanqi GUO Mingda
Zhejiang Provinces Key Laboratory of Reliability Technology for Mechanical and Electrical Product,
Zhejiang Sci-Tech University,Hangzhou,310018
Abstract: In order to address the issues of life evaluation for polyurethane sealing elements used in electrical connectors during prolonged storage conditions, the underlying mechanism behind cohesion failure and boundary failure that contributed to performance degradation of these seals was analyzed. The reliability statistical model of polyurethane sealing elements for electrical connectors, established at the mechanism level, was validated at a statistical level by comprehensively applying particle swarm optimization algorithm and regression analysis, AD test and goodness of fit test methods to the comprehensive stress accelerated degradation data of temperature and humidity on polyurethane sealing elements. The validity of the failure mechanism analysis was confirmed through SEM and EDS techniques. Ultimately, the developed model was employed to assess the reliable lifespan of polyurethane adhesive seals for electrical connectors under the storage environment.
Key words: electrical connector; seal failure mechanism; accelerated test; statistical test; reliability evaluation
收稿日期:20231230
基金項目:浙江省重点研发计划(2021C01133)
0 引言
长期贮存、一次使用的型号装备在服役后绝大部分时间处于贮存状态,电连接器作为一种基础机电元件,是型号装备的电气系统中传递电能和信号必不可少的关键元器件,其贮存可靠性对型号系统的寿命影响很大。
目前对电连接器贮存可靠性的研究主要集中在接触性能[1-3]和绝缘性能[4-6]。密封件作为电连接器中的核心组件之一,其主要功能是保护电连接器的内部结构,实现电连接器内外空间的隔离。密封件在贮存环境的长期作用下,其性能会逐渐下降,从而影响接触性能和绝缘性能,造成内部电路的损坏[7]。
目前国内外对密封件模型的研究主要集中在工作环境下性能变化的模型研究[8-9]和设计参数对密封性能影响的模型研究[10-11],通过以上模型可以很好地反映密封件在工作环境下的性能变化情况,为密封件的设计提供参考。对于贮存状态下密封件的可靠性模型,目前已有的研究报道尚少,主要为基于数据的可靠性模型[12-13]研究以及少量的机理层面模型[14]研究,然而上述研究所采用的模型是否能确切描述密封件性能在贮存环境下的演变规律,并未经过严格验证,模型的偏差将导致密封件可靠性评估产生较大误差,因此有必要通过实施加速试验,从统计角度对失效机理层面建立的密封件可靠性统计模型进行验证,以获得较高的估计精度。
目前,对可靠性模型的验证主要从退化量分布检验[15]、退化轨迹模型检验[16]和失效物理方程检验[17]等角度展开,并根据模型的种类选择合适的角度进行模型验证。本文所验证的可靠性模型为基于失效机理的贮存环境应力下密封件的可靠性模型,包含退化量分布、退化轨迹模型以及失效物理方程三个方面的内容,因此有必要从上述三个角度对模型进行验证,以保证模型的正确性。
本文以电连接器常用的聚氨酯胶密封件为对象,基于失效机理层面建立的性能退化模型和加速模型,通过实施温湿度综合应力加速试验,利用试验数据和统计检验方法对所建模型的合理性和正确性进行验证;进一步地,基于检验后的模型评估电连接器用聚氨酯胶密封件在实际贮存环境下的可靠寿命。
1 电连接器用聚氨酯胶密封件在温湿度综合应力作用下的可靠性统计模型
电连接器用聚氨酯胶密封件是一种通过混合JA-2S和MOCA固化剂并在制胶工艺后注入电连接器中形成的一层密封层,通常灌装在两层绝缘板之间,如图1所示,能够实现电连接器内外空间的隔离,阻止有害物质进入到电连接器内部,避免由于密封问题导致的电连接器失效。
1.1 失效机理
聚氨酯胶密封件中含有大量的醚基、氨基甲酸酯和脲基基团[18],在温度和湿度应力的综合作用下,电连接器用聚氨酯胶密封件会发生氧化和水解反应[19-20],主要表现为醚基与空气中氧气的氧化反应以及氨基甲酸酯和脲基与空气中水分的水解反应,导致聚氨酯胶中醚基、氨基甲酸酯和脲基基团化学键断裂,造成聚氨酯胶密封件致密度下降和边界吸附能力降低,从而导致电连接器用聚氨酯胶密封件发生内聚破坏和边界破坏[21-22],造成密封性能的下降。
在贮存环境下,电连接器用聚氨酯胶密封件受到温度和湿度的共同作用而发生氧化和水解并且两个反应过程相互促进。温度升高不仅加快氧化速率,还使得水解反应分子的活性增强,从而促进水解反应过程的进行;湿度提高,水解反应速率加快,更易引起致密度下降,导致内部孔隙产生,使得氧气更容易接触到聚氨酯胶内部,促进氧化反应的进行。
随着时间的推移,在氧化和水解反应的共同作用下,密封件的致密度和分子吸附能力逐渐下降,内聚破坏和边界破坏的程度逐渐加剧,加速了聚氨酯胶密封件的老化过程,导致密封件的密封性能越来越差。
1.2 失效物理方程
贮存环境下,聚氨酯胶密封件中的醚基与空气中的氧气发生反应,其化学反应式为
(CH2)4O(CH2)4+O2→(CH2)3COOH(CH2)4OH
该反应导致醚基发生断键造成孔洞数量增加,醚基消耗越多,密封性能下降越明显。根据质量作用定律[23],由醚基氧化导致的表征密封件内部孔洞变化的性能退化参数GT可表示为
GT=Aexp(-EaKBT)C(CH2)4O(CH2)4CO2t(1)
式中,A为活化分子碰撞数;Ea为活化能,eV;KB为玻尔兹曼常数,J/K;T为绝对温度,K;C(CH2)4O(CH2)4为醚基的浓度;CO2为氧气的浓度;t为时间,h。
在湿度应力下,聚氨酯胶中的氨基甲酯和脲基会同时与空气中的水发生反应,其化学反应方程式分别为
RNHCOOR+H2O→RNHCOOH+ROH
RNHCONHR+H2O→RNHCOOH+H2NR
以上反应将导致聚氨酯胶中的氨基甲酯和脲基发生降解断键,造成孔洞数量增加,引起密封性能下降,氨基甲酯和脲基降解越多,密封性能下降越明显。根据质量作用定律,由氨基甲酯和脲基水解导致的表征密封件内部孔洞变化的性能退化参数GRH可表示为
GRH=k1k2CRNHCOORCRNHCONHRC2RHt(2)
式中,k1为氨基甲酯的水解速率常数;k2为脲基的水解速率常数;CRH为环境湿度;CRNHCOOR为氨基甲酯的浓度;CRNHCONHR为脲基的浓度。
在贮存环境温湿度的作用下,聚氨酯胶的氧化和水解反应同时进行且相互促进,令G表征由氧化和水解反应共同引起的密封件内部孔洞变化的性能退化参数,由式(1)和式(2)可知,它与温湿度之间的关系可表示为[14]
G=GTGRH=Z1C2RHexp(-EaKBT)t2(3)
Z1=Ak1k2C(CH2)4O(CH2)4CO2CRNHCOORCRNHCONHR
1.3 退化轨迹模型
聚氨酯胶密封件的内聚破坏主要是由于聚氨酯胶材料的氧化水解造成聚氨酯胶密封件内部孔隙数目增加以及孔隙尺寸增大。由内聚破坏引起的气体泄漏率主要与内外两侧压强差Δp、横截面积S以及聚氨酯胶密封件的厚度w有关,其表达式[14]为
Q1=Gγp-SΔp4ηw(4)
式中,Q1为由内聚破坏导致的气体泄漏率,Pa·m3/s;γ为气体扩散随机系数,γ~N(μγ,σγ),μγ、σγ分别为γ的均值和标准差;p-为孔隙内平均压力,Pa;η为气体黏度,Pa·s。
边界破坏主要是由于聚氨酯胶表面吸附能力降低造成聚氨酯胶与接触件和壳体粘接界面的粘接力减小。根据Roth密封理论[24],密封件的边界破坏引起的气体泄漏率主要与气体温度T0、单个气体分子质量m0、接触面粗糙度H、接触周长L、密封件厚度w、表面密封系数RS、内外两侧压强差Δp以及作用在密封件表面的应力σn有关,其表达式[14]为
Q2=8KBT0πm0H2LwΔpexp(-3σnRS)(5)
式中,Q2为由边界破坏导致的气体泄漏率,Pa·m3/s;L~N(μL,σL),μL、σL分别為L的均值和标准差。
根据Morse吸附理论[25]和Maxwell模型[26],可确定密封件表面的应力σn为
σn=Z3(exp(2Z2G)-exp(Z2G))+σ0exp(-tE0χ)(6)
式中,Z2、Z3为待估参数;σ0为密封件灌装在绝缘板之间的初始弹性应力,MPa;E0为聚氨酯胶的弹性模量,MPa;χ为聚氨酯胶的黏度系数,Pa·s。
电连接器用聚氨酯胶密封件的泄漏率由内聚破坏泄漏率和边界破坏泄漏率组成,依据未知内聚破坏和边界破坏的所占比例,引入比例系数Z4、Z5,则电连接器用聚氨酯胶密封件的泄漏率退化轨迹模型为
Qt=Q0+Z4Gγp-SΔp4ηw+
Z58KBT0πm0H2LwΔpexp(-3σnRS)(7)
式中,Q0为聚氨酯胶密封件气体泄漏率初值,Pa·m3/s;Qt为在t时刻下聚氨酯胶密封件气体泄漏率,Pa·m3/s。
1.4 可靠性统计模型
在长期贮存过程中,电连接器聚氨酯胶密封件的性能会逐渐退化,其气体泄漏率值将逐渐增大。当泄漏率达到失效阈值QD时电连接器会发生密封失效,此时对应的寿命te的数学表达式如下:
te=inf{t:Qt>QD}(8)
由于气体扩散随机系数γ和接触周长L服从正态分布,故t时刻下聚氨酯胶密封件的气体泄漏率Qt服从正态分布,分布函数为
FQt(X)=∫X012πσQtexp(-(Qt-μQt)22σ2Qt)dQt(9)
式中,X为随机变量;FQt(X)表示Qt≤X的概率;μQt为Qt的均值;σQt为Qt的标准差。
在贮存时间t时刻下,电连接器用聚氨酯胶密封件的可靠度函数为
R(t)=P(Qt≤QD)=
∫QD012πσQtexp(-(Qt-μQt)22σ2Qt)dQt(10)
2 温湿度综合应力加速试验方案的确定
2.1 试验应力水平和截尾时间
根据聚氨酯胶材质特性,聚氨酯胶密封件的最高耐受温度为85 ℃,为保证聚氨酯胶密封件在加速试验过程中的失效机理不变,将试验的最高温度应力水平设定为75 ℃,同时为保证试验具有一定的加速性,其余温度设置为55 ℃和65 ℃。结合试验设备的可行域,本文将湿度应力设置为96%RH、84%RH 和72%RH 。根据国家标准GB/T 2689.1—1981中的有关要求[27],为保证试验评估精度,每个应力水平下投放12个样品。
考虑到统计精度和模型验证的要求,基于中心复合设计法可以挖掘出因素与响应值之间的关系并且具有延顺性的特点[28],选取其中5组温湿度应力水平组合开展试验。由于聚氨酯胶密封件在不同应力水平组合下的退化速率不同,为了获取尽可能多的试验数据,确定(55 ℃,72%RH)、(65 ℃,96%RH)、(65 ℃,84%RH)水平组截尾时间为1500 h,(75 ℃,96%RH)、(75 ℃,72%RH)水平组截尾时间为1000 h,测试间隔均为336 h。具体试验方案如表1所示。
2.2 失效判据及试样制备
为保证试验样品能够真实反映聚氨酯胶密封件在电连接器中的实际状态,同时考虑到节约人力和物料资源,制备图2所示的试验样品,其中密封件材料为聚氨酯胶,上下用绝缘板固定,绝缘板中间安装10根插针。
根据聚氨酯胶密封件性能退化模型,确定试验测试参数为气体泄漏率,测试时按GJB1217—1991[29]规范进行测试,测试仪器为VSBR152型号氦气质谱检漏仪,其主要技术指标如表2所示。
依据GJB 142—1986[30],确定电连接器用聚氨酯胶密封件的气体泄漏率失效阈值为1×10-6 Pa·m3/s。
3 加速试验数据统计分析与模型验证
按照表1所示的试验方案,对聚氨酯胶密封件实施5组温湿度综合应力下的加速退化试验,
截止到规定的试验时间,所有样品均未发生密封失效,各组试验应力水平下聚氨酯胶密封件的退化轨迹如图3所示。
3.1 模型参数估计
根据聚氨酯胶密封件的材料、结构和加速试验的相关参数,可确定退化模型中的部分参数值如表3所示,模型中的随机参数Z1、Z2、Z3,比例系数Z4、Z5,接触周长的均值μL和标准差σL,扩散系数的均值μγ和标准差σγ,初始弹性应力σ0,黏度系数χ,密封性能参数RS以及活化能Ea为待估参数。
基于粒子群算法精度高、优化速度快等优点[31],此处采用粒子群算法对模型参数进行估计。首先,建立一个适应度函数为
Ffit=∑Ni=1(yi-y^i)2N(11)
式中,yi(i=1,2,…,N)为样品在第i次测试时的实测值均值;y^i为样品在第i次测试时的气体泄漏率拟合值;N为样品测试次数。
将试验数据和模型代入下式所示的粒子群算法中[32]进行运算:
v(m+1)kd=v(m)kd+c1Vrand(pkd-x(m)kd)+
c2Vrand(pgk-x(m)kd)
x(m+1)kd=x(m)kd+v(m+1)kd(12)
式中,x(m)kd为第m次迭代后参数k粒子群中粒子d的估计结果;v(m)kd为第m次迭代时参数k粒子群中粒子d的数值变化量;c1、c2为加速因子;Vrand为0~1之间的随机数; pkd为参数k粒子群中粒子d搜索到的最优值; pgk为参数k粒子群中所有粒子搜索到的最优值。
求得待估参数后,分别单独对每个样品进行参数估计并得到对应的L和γ值,根據下式即可得到接触周长和扩散系数的标准差σL和σγ:
σ2=1n∑nr=1(xr-μ)2(13)
式中,n为样品的数量;xr为第r个样品的参数估计值;μ为参数估计值的均值。
经过多轮迭代即可估算出所需未知参数的值,如表4所示。
3.2 失效物理方程的验证
失效物理方程的验证,即验证该方程能否准确描述产品性能退化参数在试验应力下的变化规律。为了验证表征电连接器用聚氨酯胶密封件性能退化参数G与温湿度之间的数学关系失效物理方程(式(3))的合理性,对式(3)两边取对数,令z=ln G,x=1/T,y=ln CRH,可将式(3)转换为z关于x和y的线性方程。在三维空间内,若不同应力水平下的三维空间点(x,y,z)在一个平面内则可证明式(3)成立,否则不成立。采用回归分析法对5组应力水平组合下的各点(xj,yj)(j=1,2,3,4,5)对应的zj共面性进行检验,建立如下二元线性回归模型:
zj=γ0+γ1xj+γ2yj(14)
其中,zj=ln Gj,可根据某一时刻下的气体泄漏率和式(7)所示的退化轨迹模型确定;xj=1/Tj;yj=ln CRHj;γ0、γ1、γ2为回归模型的待估参数。
取5组应力水平的共同测试点t=1008 h,利用此时刻下的气体泄漏率数据点代入式(7)可计算出对应的zj;利用最小二乘法对参数γ0、γ1、γ2进行估计,得到对应的估计值依次为γ^0=-6.48,γ^1=-18 916,γ^2=2。
三维空间点(xj,yj,zj)和拟合平面z^j=γ^0+γ^1xj+γ^2yj在三维空间内的位置如图4所示。
为了进一步定量检验失效物理方程是否准确,采用基于反映二元线性回归模型(式(14))和试验数据拟合程度的方差分析法来构造检验统计量,具体表达式如下[33]:
FH(M,K-M-1)=(VSS-VSSE)/MVSSE/(K-M-1)(15)
VSSE=∑Kj=1(z^j-zj)2(16)
VSS=∑Kj=1(zj-z-)2(17)
z-=1K∑Kj=1zj(18)
式中,VSS為回归平方和;VSSE为残差平方和;z^j为对应温湿度下的回归模型拟合值,z-为K组zj值的平均值;M为应力的个数,此处取M=2;K为应力水平的数目,此处取K=5。
基于式(15)~式(18),二元线性回归模型的方差分析结果如表5所示。
取显著性水平α=0.01,查F分布表[34]得F0.01(2,2)=99,由方差分析可知,FH>F0.01(2,2),即在显著性水平α=0.01下失效物理方程成立,故当温度在85 ℃以下、湿度在96%RH以下时,式(3)所描述的密封性能退化参数G与温湿度之间的关系在显著性水平α=0.01下成立。
3.3 退化量分布的验证
为了验证模型中关于电连接器用聚氨酯胶密封件的气体泄漏率服从正态分布的假设,采用A-D检验法[35],取显著性水平α=0.05,若根据A-D统计量分布计算出的P值大于0.05,则接受气体泄漏率服从正态分布的假设。对5组试验样品在不同检测时间点的气体泄漏率进行正态性检验,检验结果如表6所示。
从表6中可以看出,5组样品在各个时刻下退化量的正态性检验结果P值均大于0.05,可在95%置信度认为聚氨酯胶密封件的气体泄漏率服从正态分布,验证了所建模型中退化量服从正态分布假设的正确性。
3.4 退化轨迹模型的验证
由于电连接器用聚氨酯胶密封件性能退化轨迹模型为非线性模型,基于RNL拟合优度的灵敏度和分辨率较高且可以用于检验非线性轨迹模型[36],故此处采用RNL表示曲线模型的拟合优度,则RNL的表达式为
RNL=1-∑Ni=1(yi-y^i)2∑Ni=1y2i(19)
其中,RNL的取值范围为(0,1),该值越接近于1,表明模型的拟合程度越高,5组试验的拟合优度RNL计算结果如表7所示。
由表7可知,5组试验的RNL计算结果均大于0.95,表明电连接器用聚氨酯胶密封件的退化轨迹模型能较好地拟合试验数据,验证了聚氨酯胶密封件退化轨迹模型的正确性,从而验证了所建的聚氨酯胶密封件贮存可靠性模型的合理性。
3.5 贮存可靠寿命估计
基于验证后的电连接器用聚氨酯胶密封件的性能退化轨迹模型、失效物理方程和可靠性统计模型,利用最小二乘估计和极大似然估计法计算得到25 ℃、50%RH贮存环境下密封件的可靠寿命,如表8所示。
4 失效机理验证
为了验证电连接器用聚氨酯胶密封件在贮存状态下失效机理分析的正确性,利用扫描电子显微镜对试验后的聚氨酯胶密封件的形貌进行扫描,结果如图5所示,可以看出聚氨酯胶内部产生了孔洞和塌陷,可认为内聚破坏是密封性能下降的主要原因之一。
通过对聚氨酯胶密封件与铝合金壳体、接触件接触处的粘接面进行能谱分析,如图6所示,发现在粘接面处未出现铝元素和金元素,故可认为聚氨酯胶未与铝和金发生反应产生化学键连接,其连接主要依靠聚氨酯胶的物理吸附力和弹性力。根据极性相似原则[37],吸附力由聚氨酯胶中的分子基团提供,故可判定密封件发生边界破坏是由分子基团氧化水解引起的,从而验证了失效机理分析的正确性。
5 结论
本文利用加速退化试验对从失效机理层面建立的电连接器用聚氨酯胶密封件失效物理方程、密封性能退化轨迹模型和可靠性统计分布模型进行了验证,并评估了聚氨酯胶密封件在贮存环境下的可靠寿命,主要结论如下:
(1)通过开展5组温湿度综合应力下加速试验,获得了聚氨酯胶密封件在不同温湿度应力下的性能退化数据,利用粒子群算法对模型参数进行估计,联合回归分析法、AD检验法和RNL拟合优度等统计检验法验证了所建模型的正确性,给出了实际贮存环境下电连接器用聚氨酯胶密封件的贮存可靠寿命。
(2)对试验后的样品进行电镜扫描和能谱分析,验证了电连接器用聚氨酯胶密封件的失效机理分析的正确性。
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(编辑 胡佳慧)
作者简介:
钱 萍, 女, 1983 年生,副教授。研究方向为可靠性试验与统计分析。E-mail: qianping@zstu.edu.cn。