齿科锥体束CT与头颅侧位片判断安氏I类错颌畸形患者上颌磨牙后间隙的准确性对比

苗 博，李 欢，赵 强

（航空总医院口腔医学中心，北京 100012）

临床中，安氏I类错颌畸形是比较常见的错颌畸形类型。对于安氏I类错颌畸形而言，通常需要进行患者牙弓内的间隙管理，亚洲人多见于牙列拥挤，导致患者面部美学受到严重影响。如需解除牙列拥挤带来的影响，则需要考虑促进牙量与骨量的协调，常见的方法有减数拔牙、片切、扩弓和推磨牙向后等。对于推磨牙向后的治疗手段而言，需要对第二磨牙远中的骨量进行精确地测量，如数值有较大误差，则会对正畸方案的制订造成重大的影响。拍摄头颅侧位片是研究颅颌面部区域软硬组织形态和生长的主要方法之一[1]。在头颅侧位片上，正畸医生可以通过观察颈椎椎骨的形态，大致判断患者的生长状态，用来预测其何时进入快速生长期。但头颅侧位片也存在天然的劣势，即双侧结构在X线片上的重叠有可能会给医生的正畸测量带来误差。锥形束CT（CBCT）于1998年在欧洲引入牙科，并于2001年在美国被批准使用[2-3]。在口腔正畸学中，CBCT可以更好地使医生评估牙齿与骨的生长位置，同时显像效果也更加优秀，可以发现更细微的病情变化[4]。在咬合判断方面，CBCT也有其独特的优势，如偏颌、开合患者不仅需要排除颅面骨形异常的情况，还需要通过图像分析咬合不调的类型，而传统的2D片无法精确测量出双侧髁突、下颌升肢的差值，但CBCT可以准确地测量，为病情的评估带来无可估量的价值[5-6]。但有研究指出：在进行X线诊疗的时候需要遵循最小放射剂量原则[7-8]。相较于CBCT，头颅侧位片在辐照剂量上更少，具有优势[9]。基于此，本研究通过对80位安氏I类错颌畸形患者进行CBCT及头颅侧位X线检测报道，并分析测量结果数据，判断二者在临床检测中的价值，具体如下。

1 资料与方法

1.1 一般资料本研究的对象是2020年1月至12月在航空总医院口腔医学中心诊疗的安氏I类错颌畸形患者，共80例。其中男性40例，女性40例；年龄18～29岁，平均年龄（23.5±3.5）岁。所有患者都签署了知情同意书，并被告知其数据可能用于研究目的。本研究获得了航空总医院医学伦理委员会批准（编号HK2002-38）。纳入标准：①恒牙列完好；②上颌第二磨牙已建合且无修复体；③无牙周病；④未进行过牙拔除术。排除标准：①有正畸史；②有全身系统性疾病。安氏I类错颌畸形的诊断标准为：上下颌骨及牙弓的近、远中关系正常，即当正中颌牙合时，上颌第一恒磨牙的近中颊尖咬合于下颌第一恒磨牙的近中颊沟内[10]。

1.2 研究方法

1.2.1 数据收集 由一位拍片员使用同一部X线机（SHINVA口腔综合治疗机，中国山东淄博市）拍摄CBCT及头颅侧位片。设备见图1。CBCT采用电压85 KV，电流为16 mA，曝光时间9.5 s。头颅侧位片电流为5 mA，电压为110 kV，扫描范围15 cm×15 cm，曝光时间3.6 s。

图1 SHINVA口腔综合治疗机

1.2.2 测量方法 CBCT的测量方法：如图2，测量右侧磨牙后间隙。先确定上颌第一磨牙、上颌第二磨牙的颊尖连线，再确定合平面，过左上颌第二磨牙远中面釉牙骨质界做垂直于合平面的垂线，交合平面于A点。过左侧上颌结节做垂直于合平面的垂线，交合平面于B点，A与B的距离为L1。对侧同理，测出L2。则两侧磨牙后间隙的平均值L=（L1+L2）/2。3次测量后取平均值。

图2 CBCT的磨牙后间隙测量

头颅侧位片的测量方法：如图3，先确定合平面的直线，过双侧上颌第二磨牙釉牙骨质界做垂直于合平面的垂线，交合平面于B。过双侧上颌结节远中做垂直于合平面的垂线，交合平面于A点，A与B的距离为L。如双侧第二磨牙出现重影现象，则取点为两个重影位置的中点。3次测量后取平均值。

图3 头颅侧位片的磨牙后间隙的测量

1.3 统计学分析应用SPSS19.0统计学软件对数据进行分析。计量资料以以（±s)）表示，检测样本方差齐性后进行独立样本t检验。如方差齐性差，则进行秩和检验，P＜0.05为差异有统计学意义。

2 结果

2.1 对比两种测量方法所得的上颌磨牙后间隙长度 CBCT组测量的上颌磨牙后间隙长度与头颅侧位组测量的结果对比，差异无统计学意义（P＞0.05），见表1。

表1 对比两种测量方法所得的上颌磨牙后间隙长度（±s)）

表1 对比两种测量方法所得的上颌磨牙后间隙长度（±s)）

组别例数上颌磨牙后间隙长度（mm）CBCT组805.84±1.09头颅侧位组806.02±1.14 t值-1.043 P值＞0.05

2.2 CBCT检测同一患者两侧磨牙后间隙长度的对比CBCT检测同一患者两侧磨牙后间隙长度的结果对比，差异无统计学意义（P＞0.05），见表2。

表2 CBCT检测同一患者两侧磨牙后间隙长度的对比（±s)）

表2 CBCT检测同一患者两侧磨牙后间隙长度的对比（±s)）

组别例数上颌磨牙后间隙长度（mm）CBCT组（左）805.76±1.09 CBCT组（右）805.92±1.08 t值-0.940 P值＞0.05

2.3 头颅侧位片检测男性组与女性组两侧磨牙后间隙长度头颅侧位片检测不同性别患者两侧磨牙后间隙长度的结果对比，差异无统计学意义（P＞0.05）,见表3。

表3 男性组与女性组上颌磨牙后间隙长度的对比（±s)）

表3 男性组与女性组上颌磨牙后间隙长度的对比（±s)）

组别例数上颌磨牙后间隙长度（mm）男性405.65±1.25女性406.03±0.87 t值-1.566 P值＞0.05

3 讨论

正畸是口腔医学中的重要分支，主要针对各种类型的牙齿错颌畸形、颌骨错颌畸形和颌骨周围肌肉神经不协调。在正畸中，临床常利用各种不同类型的矫治器，矫正上下颌骨、上下牙齿及颜面部神经肌肉的发育异常。对于错颌畸形导致牙列拥挤的患者而言，患者需要排齐整平牙列，就需要更多的能够使牙齿排齐的空间。除了常用的片切、扩弓、牵引等手段外，推磨牙向后也是常用的手段。磨牙后间隙就是推磨牙向后法可利用的空间。考虑到患者牙齿的健康及创伤最小化原则，医生们通常更倾向于用创伤更小的方式来达到治疗的目的从而改善患者颜面部的美观。

有学者认为，在女性13岁、男性16岁后，牙弓的长度、宽度不会发生显著变化[11]。这证明在上述年龄段之后，人颅骨的横向发育基本定型，而此时患者牙弓长度如果小于牙列长度，则会造成拥挤。如果患者具有智齿的牙胚埋在骨内，则智齿的萌出会挤占前牙的空间，进一步造成患者牙列的拥挤，在此情况下，需要拔除患者智齿的牙胚，然后通过推磨牙向后的方式整平、排齐牙列，同时获得美观的容貌。这就需要临床能够通过X线摄影提前预估通过推磨牙向后能够提供多少间隙。如果间隙估算的误差过大，则会对整个治疗计划造成巨大影响，甚至带来严重的医患纠纷。

CBCT和头颅侧位片经常被应用于正畸的方案制订之中。本文希望通过二者的比较，观察头颅侧位片是否可以替代CBCT成为测量上颌磨牙后间隙的证据。根据得出数值的统计学测算，CBCT与头颅侧位片两种测量方法所得到的上颌磨牙后间隙的数值是没有统计学差异的。本研究随后又以CBCT测量了同一批患者的双侧测量数据对比，发现对于安氏I类患者，双侧的磨牙后间隙测量值差异无统计学意义。反之，如果两侧的测量结果有较大差异，则通过头颅侧位片测这种左右侧重叠为一张片子的影像技术测量，会发生比较大的数据偏差，可能不会反映患者双侧的真实数据。基于此，建议用头颅侧位片来替代CBCT进行磨牙后间隙的测量，并尽可能地减少患者拍片的辐射次数及剂量，合理地选择需要给予患者拍摄的X线片类型；同时，希望X线操作员能够严格遵守拍片机的操作说明，通过积极判断患者的类型来调整辐射剂量，确保在最小剂量下成功地完成对患者的X线检查。如此这样能在减少患者辐照量的同时保证测量的准确性。

这里需要强调：磨牙后间隙的量不等同于上颌后牙向后移动的量。因为在测算上颌磨牙后间隙时，把上颌骨后缘骨皮质、上颌结节的倾斜部分都包含在内，故上颌磨牙后间隙的数据会大于实际可用推磨牙向后的量。具体的上颌牙列移动方式、移动速度和移动量也在临床上受到诸多因素的影响，如：牙根吸收的情况、上颌第二磨牙是融合根还是分叉根、牙弓拥挤度、患者是高角型还是低角型、前牙是否有深覆合趋势、是否有牙根扎入上颌窦底皮质骨内、使用隐形矫治还是固定矫治等[12-14]。目前推磨牙向后的单侧距离多为2～3 mm，因个体差异而不同，供临床医师参考[12-14]。

综上所述，通过头颅侧位片来测量上颌磨牙后间隙，在保证最小辐射量原则的基础上，可保障测量数据的准确性，临床可根据患者实际情况加以选择。