高热惊厥患儿脑电图结果的临床意义分析

谢顺红

（广州市白云区妇幼保健院，广东 广州 510000）

0 引言

惊厥为临床上十分常见的儿科急症，高热则是导致小儿惊厥发生的重要因素。相关调查研究发现，在5岁以下儿童中，高热惊厥的发生率达到了3%[1]。高热惊厥患儿一般临床症状有意识障碍、口吐白沫、肌群不自主收缩等，如果没有采取及时有效地治疗，可能会导致窒息、脑损伤等的发生，对患儿生命健康安全造成威胁[2]。高热惊厥有着复杂的发病机制，可能是因为小儿的神经系统还没有发育完全，外界轻微的刺激即有可能会导致脑部神经元异常放电。相关研究结果显示，通过脑电图检查可以观察高热惊厥患儿病情，判断其预后情况[3]。因此本研究通过回顾性分析200例高热惊厥患儿的临床资料及脑电图检查结果，探讨高热惊厥患儿脑电图临床意义。

1 资料与方法

1.1 一般资料。回顾性分析广州市白云区妇幼保健院在2018年1月至2020年1月收治的200例高热惊厥患儿，患儿年龄6个月至8岁，平均(3.39±0.36)岁。患儿的临床资料及脑电图结果；所有患儿均为因呼吸道、消化道感染性疾病引起的高热所发生的惊厥，且临床资料完备；排除因其它原因引起的惊厥，存在中枢神经系统感染，既往有癫痫病史以及低钙血症等。

1.2 方法。所有患儿均在高热惊厥发生后的1周内进行脑电图检查，检查设备为KTCMS-M397389型脑电图机（北京中西远大科技有限公司生产），根据具体情况选择使用单、双极导联，将记录盒中的旧信息清空，清除完后备用。采用10/20系统法进行电极安置选点，导电膏装满银盘状电极内，使用阻抗仪测量两电极间的阻抗低于5000，固定好电极后开机，患儿的脑电活动被记录仪自动记录，然后记录检查结果。检查完成后参照《小儿脑电图图谱》及《临床脑电图学》相关标准对脑电图报告进行评阅[4]。检查之前详细了解患儿的性别、初发年龄、发作持续时间、发作次数、发作时临床表现、家族史等信息。

1.3 观察指标。观察脑电图的异常情况，分析患儿性别、初发年龄、发作持续时间、发作次数、家族史等与脑电图的关系。

1.4 统计学分析。通过SPSS 22.0统计分析，计数资料用χ2检验，P<0.05差异有统计学意义。

2 结果

200例高热惊厥患儿行脑电图检查显示，正常122例，异常88例，脑电图异常率为44.00%（88/200）。大部分表现为慢波明显增加，枕部明显；其中71例为广泛性慢波异常，17例为癫痫样放电呈棘波、尖波、尖慢复合波发放。高热惊厥患儿初发年龄、发作持续时间、发作次数、家族史均与脑电图异常有关，初发年龄越大，发作持续时间越就久，发作次数越多，以及有家族史者，脑电图异常率越高，差异有统计学意义（P<0.05），详见表1。

表1 不同因素与脑电图异常的关系

3 讨论

高热惊厥常见于6个月至3岁的小儿，通常情况下预后较好；6岁以上儿童较少见到高热惊厥者，可能是因为其大脑逐渐发育完善，故不容易发生惊厥，高热惊厥往往发生在呼吸道感染或者其它感染性疾病的早期，患儿体温迅速升高超过38℃，且需要排除中枢神经系统感染引起的惊厥以及代谢异常或一些器质性病变所引起的惊厥[5]。目前还没有完全弄清高热惊厥发生的具体病因，可能与遗传、年龄、感染等因素有着一定联系，惊厥的发生有着一定的遗传倾向，而惊厥发生的条件则为发热，感染则是导致发热的病因，惊厥发生的内在基础则与年龄相关[6]。故本研究探讨分析高热惊厥患儿脑电图的临床意义，以评估脑电图在高热惊厥患儿中的应用价值。

高热将会使机体的中枢神经系统兴奋性升高，从而会增加脑细胞对各环境中刺激的灵敏度，导致惊厥阈值明显下降，且机体神经元的代谢不断地增强，从而会大量增加机体的耗氧量，机体的脑细胞功能将会出现紊乱，导致脑神经元异常放电，出现惊厥。相关研究结果显示[7]，高热惊厥患儿的脑电图检查结果存在一定异常。有学者[8]分析了高热惊厥患儿的脑电图检查结果后发现，高热惊厥患儿的发病年龄、发作次数、发作持续时间均与脑电图异常有着明显的相关性，发病年龄越大，发作持续时间越长，发作次数越多，脑电图结果的异常率越高。本研究也得到了相似的结果。

本研究结果中，200例高热惊厥患儿中，脑电图异常者88例，脑电图异常率为44.00%。大部分表现为慢波明显增加，枕部明显；其中71例为广泛性慢波异常，17例为癫痫样放电呈棘波、尖波、尖慢复合波发放。可见高热惊厥的发生也会对脑细胞造成一定程度的器质性破坏。高热惊厥所导致的异常脑电图通常为出现在枕区的慢波或者棘波、尖波、尖慢复合波，脑电图的异常表现通常是由于脑组织在惊厥发作时出现短暂的缺血、缺氧[9]，一旦发作时间较长将会对神经细胞造成损伤，使其结构发生改变，甚至会引起癫痫的发生[10-11]。本研究中，高热惊厥患儿初发年龄、发作持续时间、发作次数、家族史均与脑电图异常有关，初发年龄越大，发作持续时间越就久，发作次数越多，以及有家族史者，脑电图异常率越高，差异有统计学意义（P<0.05）。从本研究结果可以看出患儿发病年龄与脑电图异常有一定的联系，发病年龄越大，脑电图结果异常率越高；大部分高热惊厥患儿6个月至3岁时初次发病，目前普遍认为高热惊厥的发生与患儿的年龄以及其大脑生理、生化、解剖结构等发育不成熟有关。其次通过本研究结果还可看出发作持续时间≥20 min者的脑电图异常率明显高于＜20 min者，且高热惊厥次数≥2次者脑电图异常率明显高于＜2次者；可见高热惊厥的反复发生以及长时间的发生将会增加损伤脑组织的风险，从而增加脑电图异常率。另外高热惊厥还有一定的遗传倾向，有家族史者也更容易出现脑电图异常，可能与有家族史者更容易复发有关。

综上所述，高热惊厥患儿初发年龄、发作持续时间、发作次数、家族史等可能为脑电图异常的影响因素，通过脑电图检查有利于发现脑电图异常患儿，并及时进行处理。