廖花妹 罗凌虹 吴也凡 石纪军 程亮 宋福生 卢泉
(景德镇陶瓷学院,景德镇:333001)
BaTiO3系列电子陶瓷是近几十年来发展起来的一类新型现代功能陶瓷。虽然它的发展历史并不长,但由于其具有压电性、铁电性、热释电性能等优良的介电性能而被广泛地研究[1]。而异常晶粒长大现象对BaTiO3陶瓷的性能有一定的影响,即BaTiO3陶瓷基片的机械强度明显降低,其介电性能变差(介电损耗升高,介电常数降低等)。国外有很多研究者对钛酸钡异常晶粒长大进行了研究。Sung Bo Lee[2]认为过量TiO2会导致BaTiO3异常晶粒长大,也有研究者提出了加入适量的A l2O3可以抑制BaTiO3异常晶粒长大[3-4]。有文献报道通过控制烧成气氛中的氧分压[5-6]和烧成温度[7]也可以控制Ba-TiO3异常晶粒长大。Young-Sung Yoo[8]研究发现加入SiO2会在1260℃时产生液相,并且用TPRE(the tw in-plane re-entrant edge)长大机理解释了导致异常晶粒长大的原因。同时也有一些研究者也探讨了一定量的SiO2会导致BaTiO3异常晶粒长大[9-11]。M.Baurer[12]解释了在高纯的BaTiO3和SrTiO3中在晶界处的非化学计量引起的异常晶粒长大。本文主要探讨了两种商业粉体的不同以及可能引起s-1#粉钛酸钡异常晶粒长大的原因。
首先将山东东营国瓷功能材料有限公司生产的BaTiO3粉体、聚丙烯酸PAA(南京化学试剂厂,化学纯)、蒸馏水、氨水(上海试剂一厂,分析纯)和锆球磨子混合球磨12h,使其分散,再加入B-1070粘结剂(Rohm-Hass公司,化学纯)、PEG400增塑剂(南京化学试剂厂,化学纯)和正丁醇除泡剂(南京化学试剂厂,分析纯)等有机添加物继续球磨12h,形成稳定分散的流延浆料,过160目筛,真空除泡,然后在LYJ-240型流延机上进行流延,流延速率为1m/m in,将流延坯片在一定条件下干燥。将干燥后的流延坯片切制成30×40(mm×mm)大小的坯片,置于洛阳神佳窑业有限公司生产的1700型快速升温箱式炉中,在1300℃保温2h烧结。
表1 BaTiO3粉体XRF分析结果Tab.1 the XRF resultof BaTiO3
通过JSM-6700F型场发射扫描电子显微镜(SEM)观察两种粉体的粒径和形貌;通过X荧光(Axios Advanced,荷兰帕纳科公司)分析元素含量并进行对比;通过SEM分析BaTiO3陶瓷烧结体的晶体形态并进行对比;通过用X射线衍射仪(D8 Advance,德国Bruker AXS)分析粉体和烧结体的晶相;最后通过对烧结体不同区域进行能谱分析。采用SEM的能谱对烧结体三个不同区域(小晶粒区域,小晶粒与大晶粒交界处,大晶粒表面)的硅含量进行粗略分析,为了分析数据的尽可能准确,所得元素含量数据是十次能谱分析结果的平均值。
3.1 XRF和SEM分析
图1a,b分别为s-1#和s-2#粉体的SEM图,由照片可知两种粉体均为大小约100nm的球形颗粒。s-1#和s-2#粉体的XRF分析结果见表1。
由表1可知,s-1#粉体SiO2含量(3.143%)较s-2#粉体SiO2含量(1.59%)高,从数值上比较,s-1#粉体的SiO2含量为s-2#粉体SiO2含量的两倍多。
烧结是陶瓷生坯在高温下的致密化过程和现象的总称,随着温度的上升和时间的延长,固体颗粒相互键联,晶粒长大,空隙(气孔)和晶界渐趋减少,通过物质的传递,其总体积收缩,密度增加,最后成为坚硬的具有某种显微结构的多晶烧结体[13]。由图2可见,s-1#粉的陶瓷烧结体中存在两种不同形态的晶体形貌,而s-2#粉的烧结体中,晶粒大小均匀,无异常晶粒长大现象。由于s-1#粉硅含量较高,在烧结时,聚集在一部分BaTiO3小颗粒表面的硅,降低了其熔化温度,产生一定量的液相,使得此时的烧结可以通过速率较大的溶解-沉淀的方式进行烧结,较小颗粒的BaTiO3熔化,再不断富集在较大的BaTiO3颗粒表面,导致个别晶粒不断长大。
3.2 XRD分析
图3和图4为s-1#和s-2#粉体的XRD衍射图。由图4可知,在45°角左右,两种粉体都只有一个衍射峰,说明其都为立方晶型的BaTiO3粉体。
图2 s-1#(a,b,c)和s-2#(d,e,f)粉烧结体的不同SEM形貌照片Fig.2 SEM of s-1#(a,b,c)and s-2#(d,e,f)ceram ic sheets
图5为s-2#BaTiO3粉体与该粉体经流延成型在1300℃下烧结而成的BaTiO3陶瓷基片的XRD衍射图。
由图5可见,烧结片的峰向高角度偏移。由XRF荧光结果可见,粉体中含有一定量的Sr。一般来说,合成粉体的温度较低,Sr以SrO的形态简单混合在粉体中,而没有固溶进Ba-TiO3的晶格。烧结时,在1300℃下,Sr固溶进BaTiO3的晶格间,粉体为立方晶型,由布拉格方程
图7 a,b,c区域的能谱示意图Fig.7 EDS spectras of the a,b,c area
表2 s-1#烧结体三个不同区域元素含量表Tab.2 Atom ic of the a,b,c area
当Sr2+掺杂到BaTiO3晶格里时,由于Sr2+的半径明显小于Ba2+的半径(RSr2+<RBa2+),导致BaTiO3的晶格常数a下降,进而导致d值下降。而在布拉格方程中,nλ为常数,所以sinθ必须增大,才能保持方程的平衡,本实验的XRD测量范围都小于90°,即θ增大,因而烧结片的峰会往高角度偏移。
3.3 能谱分析
图6、图7及表2为s-1#粉体的陶瓷烧结体的不同区域的能谱分析,其中a为小晶粒区域,b为小晶粒与大晶粒交界处,c为大晶粒表面。
由图7及表2可以看出,在小晶粒及大晶粒交界处(即b区域),Si含量最高,大晶粒表面(即c区域),Si含量次之,小晶粒区域(即a区域),Si含量最少。这与前面的推测相吻合,Si富集在较大的钛酸钡颗粒表面,促进周围小颗粒不断熔解,以大晶粒为晶核,不断生长,造成异常晶粒长大。
本实验对两种商业上常使用的BaTiO3粉体的烧结过程进行了研究,发现在1300℃烧结,两种粉体所获得的烧结体晶相均为钛酸钡立方晶相;通过比较s-2#粉体及其烧结体的XDR结果,发现烧结过程中Sr的固溶使得烧结体相对于粉体会出现衍射峰向高角度方向偏移。同时研究发现,硅含量较高的s-1#粉烧结体中出现异常晶粒长大的现象,在烧结时,聚集在一部分BaTiO3小颗粒表面的硅,降低了其熔化温度,产生一定量的液相,使得此时的烧结可以通过速率较大的溶解-沉淀的方式进行,较小颗粒的BaTiO3熔化,再不断富集在较大的BaTiO3颗粒表面,导致其个别晶粒不断长大。
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