陈庆广,赵 ,黄 升,曾裕民,姬常晓,刘洪文,王成宇,彭 浩,易文杰
(1.中国电子科技集团公司第四十八研究所, 湖南 长沙 410111;2.湖南杰楚微半导体科技有限公司, 湖南 长沙 410205)
立式扩散/ 氧化设备主要用于直径150 mm以上晶圆的半导体器件工艺制程中的初始氧化层、牺牲氧化层、栅氧化层等氧化膜生产工序,是深亚微米IC 生产线的关键设备之一[1]。目前,晶圆直径日益增大、特征尺寸不断缩小、栅氧化层趋薄。晶圆越大,同一片上可生产的IC 越多,成本越低,但对材料和生产技术的要求越高[2]。
与卧式炉相比,立式炉具有5 个方面的优点:(1)反应室内氧气浓度低、自然氧化层薄;(2)片间温度均匀性好、硅片翘曲小;(3)颗粒污染低,片内膜厚均匀性更好;(4)自动化程度高、系统可靠性好;(5)占地面积小,且功耗更小。鉴于立式炉的诸多优点,其在新的IC 线上得到了广泛使用。立式炉设备用量大,机械、电气和软件方面设计复杂,在20 世纪80 年代末到90 年代初,国际上许多设备制造厂商研制成功了立式扩散,到现在已非常成熟,在200 mm(8 英寸)晶圆器件生产线上已取代卧式炉[3,4]。由于技术、财力、供应链等多方面条件的限制,国内200 mm 及以上集成电路生产线上使用的立式扩散均以国外品牌为主。国产立式扩散虽然有一些“点”的突破,但仅停留在非关键工艺制程环节,关键环节仍依赖进口设备。为提高我国集成电路产业的自主可控水平,需要加快立式扩散/氧化设备的国产化进程。
对标国际领先,本文研究的立式扩散/氧化设备的主要技术指标如表1、工艺指标如表2 所示。
表1 主要技术指标
表2 工艺指标
设备整体由炉体系统、传送系统、水气系统和电控系统等组成,采用分离式结构,如图1 所示。炉体及传送系统放置在主机柜中,气路及电控系统放置在气源柜中,两柜通过桥架连接。
图1 立式扩散实物图
炉体系统是设备的核心,主要由工艺炉体、炉口密封罩和存储舟架组成。
2.1.1 工艺炉体
炉体安装于炉体底座上,炉体内部各装有1层碳化硅管和石英管,碳化硅管装于多晶莫来石纤维材料的底座上,石英管装于水冷法兰上,在水冷法兰上和水冷法兰下之间装有石英领,石英领具有高强度、低热膨胀系数、良好伸展性等特点。连接石英点火器的是反应气体入口,炉体结构布局如图2 所示。
图2 工艺炉体三维图
2.1.2 炉口密封罩
炉口密封罩的作用是提高炉口的保温效果,其组成材料除橡胶密封垫外均采用316 不锈钢,结构采用双层设计,摆动炉门处于两层之间,其内壁上焊有2 个水管接头,用于炉体水冷法兰上、下和摆动炉门的冷却循环水的进出。左部设计为可拆卸维修板,方便对炉口和摆动炉门进行检修。炉口抽风罩是炉口密封罩内的气体排出口,同时也是水路的中转口。
2.1.3 存储舟架
储片舟架是晶圆进入炉体的载体,如图3 所示,舟架为石英或碳化硅材质。舟架置于舟架底座上,舟架底座安装在升降模组的滑块上。
图3 储片舟架三维图
舟架底座装有电机通过同步带轮带动旋转盘旋转,旋转盘上设计有一槽口与舟架配合,使得舟架随旋转盘同步旋转,在舟架随升降模组进入炉体后,旋转电机驱动舟架旋转,保证晶圆水平面方向受热均匀;底托盘不仅托起整个舟架,且内部还设有一冷却水路,其顶部设有一密封圈,在舟架升至炉体内部时与炉体下水冷法兰对接。
针对高自动化和高洁净度的生产要求,晶圆传送过程由机械手完成,如图4 所示,传送系统主要由取盒机械手、取片机械手、缓存架和出料架组成。
图4 传送系统三维图
取盒机械手安装于一垂直模组上,垂直模组底部安装于水平模组上,故取盒机械手能同时竖直和水平移动,垂直模组的顶部还设有导向机构,用于保持其运动平稳性。
取片机械手安装于另一个竖直模组上,底座只做垂直运动,负责缓存架和舟架之间的晶圆传输,取片机械手拥有两只手臂,其中一只手臂有5个手指,可一次取5 片晶圆,另一只手臂有1 个手指,用于抓取单片晶圆。为控制方便,取片机械手只抓取缓存架第二层和第三层中间片盒的晶圆,两片盒下方均设有对射式光电开关。
净化系统包括3 个独立的循环系统和1 个排气装置,循环系统包括料架(缓存架和出料架)净化、晶圆传输净化(取片机械手和舟架)和片盒净化(取盒机械手和小机架)三部分。
每个系统配备独立离心风机和高效过滤器,高效过滤器外为一块均风板,均风板上开有1 万个以上的φ5 mm 通孔,使离心分机带进的风均匀分布。晶圆过滤单元配备4 个离心风机,自下而上吹进高效过滤器;片盒过滤单元配备4 个离心风机,自上而下吹进高效过滤器,小机架过滤单元配备一个离心风机,自右向左吹。
工艺排气装置共有3 个排气口,均在炉体柜上。一个接点火器,排气装置末端配有1 个氢气探测器,检测氢气是否泄漏。工艺排气装置,管路和连接块均用聚四氟乙烯制成,工艺排气口连接工艺石英管的输出口,并由顶部输入一路水,将可溶气体溶于水进入排水桶。另外一个接炉口抽风罩,用于把炉口散失的热量和工艺泄露的气体排出炉体。
水路用于设备各高温结构的冷却,冷却循环水由入水口统一进入,排水系统分成4 路,分别用于炉体、炉口、炉门和承载台的冷却。炉体水路用于高温炉体的冷却;炉口水路用于水冷法兰、炉口隔热板、工艺排气管的冷却,各支路串接在一起;炉门水路用于摆动炉门和点火枪的冷却,两支路串接在一起;承载台水路用于边缘密封圈和不锈钢底座的冷却。
气路分为动力气路和工艺气路,动力气路包括小机架上2 个气缸、取片机械手上的吸片气。摆动炉门顶缸和摆缸为动力气,通过软管接于气源柜的阀岛上,气管均为不锈钢管。顶部3 根管为氢气、氧气和氮气进气口,为工艺气路,经由气盘控制分流,各支路配有压差表和数显压力计等仪器实时检测各气路情况。
分为操作界面和查看界面(见图5),为用户提供2 个接口,系统采用EtherCAT 总线通讯,用于实现片盒传送、晶圆传送、舟架升降旋转、炉内温度控制、工艺气体控制、气流压力监控及相关互锁等功能。
图5 电控系统原理图
热场设计洁净度高,均匀性好。在保证恒温区长度的前提下,尽量减小炉体高度,以降低设备整体高度。另外,如何减少热损失,提高热效率,改善升降温特性,都是研制炉体时需要统筹兼顾的问题。针对控温精度及升降温速率的要求,在保证热负荷和保温特性的前提下,根据炉体热分布特性改进热场。
采取的技术路线:采用双层腔体结构,加热腔采用圆形钟罩式结构,加热器沿圆周呈环形均匀分布。采用模拟仿真方式,合理设计炉丝分布、加热段数量以及反应管尺寸。为提高降温速率,炉体外部及顶部设有水冷系统。根据调研及模拟仿真结果,采用石英或碳化硅作为腔体材料,炉体系统设计与制造风险小。
恒温区温度均匀性直接影响工艺效果,进而影响产品良率。针对控温精度及升降温速率的要求,在保证热负荷和保温特性的前提下,根据炉体热分布特性提高温度控制精度。此外,进气端通过流量计控制进气量大小,出气端和尾气系统相连,一定程度上炉管压强取决于尾气系统,炉管压强无法自主可控,从而影响气流场稳定性,进而产生工艺效果不均匀问题。
采取的技术路线:炉体采取分段加热方式,每个温区均采用串级控温方式独自控温,PLC 为主控制器,串级温度控制器依据设定的温度值,经内部PID 模块计算后输出信号给加热电源,实现温度的闭环自动控制。在气流场控制方面,在炉管进气端、出气端和尾气系统衔接处均设置压强检测传感器,在出气端设置压力调节气路,通过分析各处压力变化的关系找出三者间的内在联系,设置合适的功能参数,达到高灵敏性调控气流场的目的。
传送系统决定了设备自动化水平,其关键技术点在于传送效率、精度和污染控制。
采取的技术路线:系统功能采用Loadport(片盒接口)、片盒搬运机械手、片盒储存装置、晶圆搬运机械手、电机模组、气缸、传感器等功能模块,并通过计算分析其在智能化传输系统中的功能、作用和结构衔接性,优化其衔接匹配性,经组装后实际应用验证达到智能化传输要求。
立式扩散/氧化设备完成装配调试后,搭建工艺验证平台,工艺试验条件:温度1 000 ℃、氧气流量10 L/min、DCE 流量235 mL/min。经膜厚测试,二氧化硅膜厚为50 nm 左右,并炉尾、炉中、炉口3 个位置的晶圆生长的二氧化硅薄膜厚度均匀性进行了监控测量。连续三批的测试结果如表3 所示。
表3 氧化工艺试验结果
其中第二批的氧化膜厚度的具体测试结果如图6 所述。
图6 炉尾/ 炉中/ 炉口的氧化膜厚度均匀性表征图
由表3 可以看出,氧化生长的二氧化硅无论是晶圆片内、片间、还是批间的膜厚均匀性均优于2%的工艺指标要求,可以满足某器件产品的工艺制程要求。
本文研究的立式扩散/ 氧化设备已在用户端产线上完成调试并进行了流片工艺试验。设备结构紧凑、体积小,各部件均采用模块化设计,方便整体拆装;控制系统独自开发,人机界面直观,易操作,设备自动化效率、精度高,工艺效果良好,达到了IC 的工艺制程要求。