多种类型缺陷的漏磁场特性研究*

2018-01-16 01:25韩文花张玉祥汪素青苏晓燕
火力与指挥控制 2017年12期
关键词:漏磁波峰轴向

韩文花,张玉祥,原 野,汪素青,苏晓燕

(上海电力学院自动化工程学院,上海 200090)

0 引言

随着工业的发展和铁磁性材料的普遍使用,漏磁检测在诸多领域有着重要应用,如油气管道[1]、储罐[2]、轨道[3]、武器装备[4]等。由于服役时间增长,这些设施又多处于较恶劣的环境下,为防止发生诸如油气泄露,污染环境等恶劣影响,需要对其进行定期检测维护[5]。漏磁检测与其他检测技术相比,具有速度快、效率高、成本低、易于实现检测自动化、受外界环境影响小等优点,并广泛应用于铁磁性材料设备的腐蚀、裂纹和机械损伤等缺陷的检测与评估[6],尤其在石油和天然气管道的检测中,漏磁检测已经成为使用最广泛的非破坏性在线检测技术[7]。漏磁检测技术近年来发展迅速,从早期的仅能检测较大面积腐蚀,到现在可以检测和识别出各类微小的缺陷,并能重构出缺陷轮廓[8-9],其原因有检测装置性能的提高,数据分析能力的进步,漏磁检测多年来的使用经验,以及对各类型缺陷特征提取的技术积累。

近年来,漏磁检测的数值模拟和缺陷漏磁信号的处理方面进行了大量研究,包括三轴漏磁检测模拟[10]、多种缺陷的建模[11-12]、基于智能算法的缺陷重构[8-9]等,这些研究为漏磁检测中缺陷的识别和量化提供了宝贵的理论依据。

本文利用ANSYS软件建立了二维漏磁检测模型,分析影响漏磁场的因素以及邻近缺陷漏磁场的相互作用,并研究相似漏磁场与缺陷真实特征的对应关系,以期为漏磁检测中缺陷的识别和量化提供更可靠的依据。

1 缺陷漏磁场的建模

在ANSYS软件中对缺陷漏磁场进行建模,模型主要包括被测管壁、磁铁、轭铁、铁刷以及空气5部分,二维漏磁检测仿真模型如图1所示。需定义材料属性如下:①管壁采用X52号钢,设定相应的B-H曲线;②磁铁采用钕铁硼磁铁,根据其励磁方向设定矫顽力的大小和方向,磁铁产生的磁力作为整个结构的载荷;③轭铁和铁刷的相对磁导率设为186 000;④空气部分的相对磁导率设为1。然后对模型进行网格划分,磁力线分布密集的部分要进行细致划分。ANSYS软件会将永磁材料转化为等效电流并加载到每个单元和节点上,因此,只需定义无限远场单元为INFIN110,而无需其他设定,求解处理采用静态的通用标势法[15]。后处理阶段通过对路径提取可获得漏磁场的轴向分量和径向分量,磁感应强度云图如图2所示,从图中可以直观地观察到漏磁场的分布情况。

2 缺陷漏磁场有限元分析

2.1 单个对称缺陷漏磁场仿真分析

首先,为研究缺陷宽度与漏磁场的关系,将缺陷简化为矩形,对6个不同宽度的缺陷进行了建模,其中缺陷深度为50%(4mm),提离值为2mm,缺陷宽度分别为 a:2mm,b:5mm,c:8mm,d:11mm,e:15mm,f:20mm,相应的漏磁场分布如图3所示。

从图3可以看出,随缺陷宽度的增加,轴向分量的峰值先升后降,缺陷宽度大于10mm之后,漏磁场轴向分量由单波峰变为双波峰,径向分量的峰值先升后降,峰峰值亦先升后降,波峰和波谷之间水平间距逐渐增大。漏磁场轴向分量峰值和径向分量的峰峰值随宽度的变化曲线如图4所示,可以看出,宽度为5mm时轴向分量波峰值为最大。

其次,为研究缺陷深度与漏磁场的关系,对6个不同深度的缺陷进行了建模,其中缺陷宽度为10mm,提离值为 2mm,缺陷深度分别为 a:20%,b:30%,c:40%,d:50%,e:60%,f:70%,相应的漏磁场分布如下页图5所示。

从图5可以看出,随缺陷深度的增加,轴向分量峰值增大,径向分量峰峰值增大,而漏磁场轴向分量峰值和径向分量峰峰值随深度的变化曲线,如下页图6所示。

为研究不同的传感器提离值与漏磁场的关系,缺陷宽度为10mm,深度为50%,提离值分别为a:1mm,b:2mm,c:3mm,d:4mm,e:5mm,f:6mm,相应的漏磁场分布如下页图7所示。

从图7可以看出,随提离值的增大,检测到的漏磁信号变小,不利于准确的识别和量化缺陷,所以为获取较完整的漏磁信号特征,提离值应取较小一些。在实际工程设计中,要综合考虑检测装置、管壁材料、工作环境等条件,设定合适的传感器提离值。

2.2 单个不对称缺陷漏磁场仿真分析

实际检测中遇到的缺陷包括坑状腐蚀缺陷、裂纹等多种类型,本文将底部不平整的缺陷简化为三角形进行建模。

首先,对5个不同宽度的缺陷进行了建模,其中缺陷最大深度为50%,缺陷宽度分别为a:2mm,b:5mm,c:10mm,d:20mm,e:30mm,相应的漏磁场分布如图8所示。

从图8可以看出,随缺陷宽度的增大,轴向分量波峰发生偏移,保持单波峰,且波峰增大,径向分量波峰和波谷也发生偏移,波峰增大,波谷变小,峰峰值增大。

其次,缺陷深度不同时,缺陷宽度为10mm,缺陷最大深度分别为 a:10%,b:30%,c:50%,d:70%,e:90%,相应的漏磁场分布如下页图9所示。

从图9可以看出,随缺陷深度的增加,轴向分量波峰值增大,径向分量的峰值增大。关于对称缺陷与不对称缺陷,缺陷宽度对漏磁场的影响规律是类似的。

2.3 邻近缺陷漏磁场及其相互作用仿真分析

在实际检测中会存在两个甚至多个缺陷距离较近的情况[6],漏磁场之间会存在相互作用,为此,对两个邻近缺陷以及3个邻近缺陷的漏磁场相互作用进行了研究。

首先,假定两个缺陷相邻,对6个不同间距的邻近缺陷进行了建模,其中两个邻近缺陷中的单个缺陷宽度均为10mm,缺陷深度为50%,缺陷间距分别为 a:1mm,b:2mm,c:5mm,d:10mm,e:15mm,f:20mm,相应的漏磁场分布如图10所示。

从图10可以看出,当间距较小时,漏磁场相互作用很大,轴向分量波峰近乎重合,邻近缺陷的漏磁场可近似看作一个缺陷形成的漏磁场,随间距的增大,漏磁场的相互作用逐渐减弱,当间距为20mm时,邻近缺陷之间的漏磁场相互作用可以忽略,并且轴向分量的波峰位置会相对移动到漏磁场的两边。

对6个不同间距缺陷进行了建模,其中两个邻近缺陷中的单个缺陷宽度均为20mm,缺陷深度为50%,缺陷间距分别为 a:2mm,b:4mm,c:10mm,d:20mm,e:30mm,f:40mm,相应的漏磁场分布如图 11 所示。

从图11可以看出,缺陷宽度为20mm时漏磁场随间距的变化规律与缺陷宽度为10mm时漏磁场随间距的变化规律类似,在间距大于20mm之后,两个缺陷之间的漏磁场相互作用可以忽略。

对4个不同深度的缺陷进行了建模,其中两个邻近缺陷中的单个缺陷宽度均为10mm,缺陷间距为 2mm,缺陷深度分别为 a:20%,b:40%,c:60%,d:80%,相应的缺陷漏磁场分布如图12所示。

从图12可以看出,即使深度变化,在间距20mm时两个缺陷之间的漏磁场相互作用都可以忽略。

从图10~图12可以看出,在间距大于20mm时两个缺陷之间的漏磁场相互作用可以忽略。

其次,假定3个缺陷相邻,缺陷宽度均为10mm,缺陷深度为50%,缺陷间距分别为,a:1mm,b:2mm,c:5mm,d:10mm,e:15mm,f:20mm,相应的缺陷漏磁场分布如图13所示。

从图13可以看出,在间距接近20mm时,可以完全区分出3个缺陷漏磁场,而在间距较小时中间缺陷的波峰和波谷会消失,可近似看成两个邻近缺陷产生的漏磁场,或者一个缺陷产生的漏磁场。

此外,从图3、图10、图13可以看出,宽度和深度相同的情况下,3个邻近缺陷比两个邻近缺陷漏磁场的轴向分量峰值小,2个邻近缺陷又比单个缺陷漏磁场的轴向分量峰值小,图14给出单个、2个邻近、3个邻近缺陷且间距为2mm缺陷漏磁场的轴向分量峰值随宽度的变化曲线。

为研究邻近缺陷漏磁场峰值降低的规律,对单个深度50%缺陷与2个等宽深度为65%间距为2mm的邻近缺陷进行了建模,单个缺陷和2个邻近缺陷的漏磁场轴向分量峰值随宽度的变化曲线如图15所示,可以看出缺陷宽度大于12mm时,两种缺陷漏磁场的轴向分量峰值变化基本一致。

3 相似漏磁场与缺陷真实特征的对应关系

从上述实验得知,不同的缺陷会产生相似的漏磁场,实测漏磁信号,可能对应单个缺陷或多个缺陷,为此,研究相似漏磁场与缺陷真实特征的对应关系,前提是单个缺陷的宽度和两个邻近缺陷加上其间距的总宽度相同。

首先,关于对称缺陷,深度30%为例,对多个不同宽度的单个缺陷和两个邻近缺陷,其相应的缺陷漏磁场的轴向分量峰值随宽度的变化曲线如图16所示,可以看出在缺陷宽度大于12mm后,两种缺陷的峰值变化基本相同,可推断,在缺陷宽度大于12mm之后,单个缺陷和2个邻近缺陷会产生相似漏磁场。

缺陷深度均为30%。第一组宽度22mm、间距1mm,相应的缺陷漏磁场分布如图17所示。第二组宽度32mm、间距2mm,相应的缺陷漏磁场分布如图18所示。第三组宽度10mm、间距2mm,相应的缺陷漏磁场分布如图19所示。图17、18中,漏磁场分布情况基本相同,图19中轴向分量峰值稍有不同,这是因为缺陷宽度为10mm,正如图16中小于12mm。因此,上述推论成立,缺陷宽度小于12mm时,是否会产生相同的漏磁场,则需进一步研究。

其次,关于不对称缺陷,假定单个不对称缺陷最大深度60%,宽度22mm,2个相邻等宽缺陷深度分别为30%和60%,间距2mm,相应的不对称缺陷漏磁场分布如下页图20所示。从图20可以看出,对于不对称缺陷,上述推论仍然成立。

最后,关于3个邻近缺陷,从图14可以看出3个邻近缺陷产生的漏磁场轴向分量峰值非常低。实验发现,只改变缺陷宽度,3个邻近缺陷很难产生与单个缺陷或两个邻近缺陷类似的漏磁场。

据图15中的规律,对相同宽度34mm的深30%的单个缺陷和深50%的3个邻近缺陷,漏磁场分布如图21所示,可看出漏磁场分析情况基本相同。可见,存在3个邻近缺陷与单个缺陷产生相似漏磁场的情况,但缺陷轮廓特征需满足一定的规律,经过验证,改变缺陷宽度,漏磁场分布情况仍然相同。

4 结论

本文利用有限元方法对缺陷进行建模,除了常规的矩形缺陷外,还有不对称的三角形缺陷、2个邻近缺陷、3个邻近缺陷,获得了包括宽度、深度、提离值等因素对缺陷漏磁场的影响规律,得到了缺陷的漏磁场发生相互作用的间距范围,及漏磁场在相互作用时随间距变化的规律,发现了相似漏磁场可能由不同种类缺陷产生,可以得到以下4个结论:

①对于单个对称缺陷,随宽度的增大,轴向分量峰值先增后降,由单波峰变为双波峰,径向分量峰峰值先增后降;随深度的增加,轴向分量峰值增大,径向分量峰峰值增大;提离值较小时漏磁检测装置能够检测到较完整的漏磁信号。

②对于单个不对称缺陷,随宽度的增大,漏磁场的波峰随着缺陷最深处的位置移动而发生偏移,轴向分量波峰值增大,径向分量波峰值增大,波谷值的绝对值变小,峰峰值增大;随深度的增加,轴向分量峰值增大,径向分量峰峰值增大。

③随邻近缺陷间距的增大,漏磁场相互作用减弱,间距大于20mm时相互作用可以忽略,此规律受缺陷宽度和缺陷深度影响较小;邻近缺陷漏磁场相互作用时,轴向分量波峰位置会相对移动到漏磁场的两边,波峰值较单个缺陷产生的漏磁场轴向分量波峰值小,相互作用的漏磁场越多,此规律越明显,且峰值降低的规律和缺陷深度的变化对峰值的影响有一定对应关系。

④检测到的漏磁场,可能是由一个缺陷产生,也可能是由多个缺陷的漏磁场相互作用产生,给出了不同缺陷产生相似漏磁场的规律,在实际检测过程中可以利用这些规律,为快速、准确地识别和量化缺陷提供理论依据。

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