高热惊厥患儿的预后及危险因素分析

叶英姿

辽宁辽阳市第二人民医院儿科　辽阳　111000



高热惊厥患儿的预后及危险因素分析

叶英姿

辽宁辽阳市第二人民医院儿科辽阳111000

【摘要】目的分析高热惊厥(febrile convulsion，FC)患儿的预后情况，探讨相关危险因素。方法随机选取75例高热惊厥患儿为研究对象，搜集所有入组患者的临床、随访及问卷调查资料，对可能影响高热惊厥患儿预后的因素，如性别、初发年龄、持续时间、发作次数、脑电图、家族史进行回顾分析。结果75例患儿中，62例(82.67%)预后良好，余13例(17.33%)预后不良。高热惊厥初发年龄、持续时间、发作次数、脑电图、家族史与患儿预后存在相关性(P<0.05)；性别与患儿预后无相关性(P>0.05)。多因素Logistic 回归分析显示，初发年龄<1岁、持续时间≥10 min、发作次数≥3次患儿预后不良的可能性大，其风险比(OR)值分别为1.59、5.46、3.97。结论高热惊厥患儿多预后良好，初发年龄<1岁、持续时间≥10 min、发作次数≥3次是影响高热惊厥患儿预后的独立危险因素。

【关键词】高热惊厥(FC)；预后；危险因素

本研究通过回顾分析75例高热惊厥患儿的临床、随访及问卷调查资料，旨在探讨可能影响高热惊厥患儿预后的危险因素，为临床预防、诊治及预后判断提供依据。

1资料与方法

1.1资料选取随机选取2014-01—2015-05我院儿科75例高热惊厥患儿为研究对象，男39例，女36例，平均年龄(2.16±1.79)岁。所有入组患儿均符合高热惊厥诊断标准，即均具有高热惊厥典型临床特征，如发热>38.5 ℃、突发全身抽搐、强直、意识障碍、呼吸及消化系统感染等，排除由于其他系统功能障碍引起的发热惊厥，内环境紊乱引起的发热惊厥。同时对所有入组患儿进行定期随访及问卷调查，回顾分析临床、随访及问卷调查资料。

1.2研究方法搜集所有入组患者的临床、随访及问卷调查资料，对可能影响患儿预后的因素，如性别、高热惊厥初发年龄、持续时间、发作次数、脑电图、家族史进行回顾分析，探讨上述因素与患儿预后的关系。

1.3预后判断预后良好：出院后无需治疗或正规药物治疗后无高热惊厥复发者；预后不良：高热惊厥未得到控制而放弃治疗自动出院者，出院后长期正规药物治疗后高热惊厥仍反复发作者，出院后出现癫痫症状、智力障碍、脑梗死或死亡者。

1.4统计学方法采用SPSS 17.0软件进行统计分析，计数资料以频数和率(%)表示，比较采用χ2检验。采用Logistic回归模型分析影响高热惊厥患儿预后的影响因素，P<0.05为差异有统计学意义。

2结果

2.1随访预后情况本组75例高热惊厥患儿，62例预后良好，预后良好率82.67%，余13例预后不良，预后不良率17.33%，其中惊厥反复发作8例，出现癫痫症状2例，智力障碍1例，因颅内感染、脑梗死等并发症死亡2例。

2.2预后影响因素高热惊厥初发年龄、持续时间、发作次数、脑电图、家族史与患儿预后有相关性(P<0.05)；性别与预后无明显相关性(P>0.05)。见表1。

表1　影响患儿预后的单因素分析

2.3预后的相关因素分析以预后良好与不良为因变量，将患儿预后的影响因素中有统计学意义的变量引入Logistic 回归方程进行分析，结果显示，初发年龄<1岁、持续时间≥10 min、发作次数≥3次患儿预后不良的可能性大，其风险比(OR)值分别为1.59、5.46、3.97，提示初发年龄<1岁、持续时间≥10 min、发作次数≥3次是影响高热惊厥患儿预后的独立危险因素。见表2。

表2　影响患儿预后的多因素Logistic 回归分析

3讨论

高热惊厥(febrile convulsion，FC)是特发于儿童期的发病率较高且病情较危重的儿科常见神经系统疾病。美国儿科学会(AAP)对高热惊厥的定义为惊厥合并非颅内感染及代谢紊乱且无高热惊厥史的发热性疾病[1]。关于高热惊厥的发病机制，目前尚无统一认识，多数学者认为其与婴幼儿神经系统结构发育不全、功能发育不完善相关[2]。但部分学者认为，呼吸系统、消化系统或其他系统的感染侵袭神经系统导致短暂的神经系统调节紊乱而引起高热惊厥。由于高热惊厥患儿多预后良好，但少部分反复发作患儿病死率较高，因而近年来得到越来越多临床儿科医生的关注。

高热惊厥患儿多预后良好，可能由于其发作持续时间较短，呈一过性，短时间即可恢复正常，且长期正规干预可使发作次数减少，神经系统损伤减小，因而并发症减少。本研究显示，高热惊厥患儿预后良好率82.67%，与皮贵荣[3]等报道的82.00%基本一致。

本研究发现，初发年龄<1岁、持续时间≥10 min、发作次数≥3次是影响高热惊厥患儿预后的独立危险因素。高热惊厥初发年龄越小，预后越差，其原因为年龄越小，患儿机体结构及生理发育越不完善，其中大脑皮质及神经传导通路发育不全导致兴奋传导障碍、神经细胞异常放电而引起高热惊厥；另外，由于此阶段血脑屏障尚未完全形成，细菌及毒素物质进入脑组织引起颅内感染[4]。高热惊厥持续时间越长、发作次数越多，脑组织耗氧量越多，缺氧症状呈进行性加重，引起脑组织水肿，大脑皮质结构及功能改变，神经细胞经神经传导通路持续异常放电，进一步加重神经系统的损伤，增加高热惊厥并发症发生风险，进而影响预后[5]。

综上所述，高热惊厥患儿预后多良好，但也有部分反复发作导致严重的神经系统损伤。高热惊厥预后受多种因素共同影响，因此，临床中对影响高热惊厥的危险因素应早期发现、及早预防，并及时采取干预措施，以改善患儿预后，降低病死率。

4参考文献

[1]American Academy of Pediatrics. Febrile seizures： Guideline for the neurodiagnostic evaluation of the child with a simple febrile seizure[J]. Pediatrics, 2008,121(6)：1 281-1 286.

[2]Pavlidou E, Panteliadis C. Prognostic factors for subsequent epilepsy in children with febrile seizures[J]. Epilepsia, 2013,54(12)：2 101-2 107.

[3]皮贵荣,廖宏.高热惊厥患儿预后及其影响因素分析[J].医学理论与实践,2014,27(8)：1 081-1 083.

[4]Cantalupo G, Meletti S, Miduri A, et al. Facial emotion recognition in childhood： the effects of febrile seizures in the developing brain[J]. Epilepsy Behav, 2013,29(1)：211-216.

[5]孙晓俐,武丽英.热性惊厥患儿认知功能随访调查(附87例临床分析)[J].临床医药实践杂志,2007,16(1)：25-26.

(收稿 2015-03-20)

【中图分类号】R720.597

【文献标识码】A

【文章编号】1673-5110(2016)03-0086-02