业界首台变阵列涡流检测仪（VAECT）问世

2012年7月，由爱德森（厦门）电子有限公司独创的世界首台变阵列涡流检测仪（variable array eddy current testing，简称变阵涡流）问世。该仪器具有独创的128通道任意激励／接收变换扫描功能，可根据检测要求随意设置变换扫描法则，可以快速精确地检测出任意方向缺陷，单元检测最高精度达20μm，大大超过了此前业界30μm的极限精度。该功能可进一步扩展至漏磁和磁记忆、声阻抗的点、线、面阵列调控。

该独创的功能改变了目前业界较为单一的阵列涡流扫描功能，使阵列涡流具有了与超声相控阵一样的可变、多样、多重性能，形成点、线、面的多频扫描能力。通过变频手段，改变涡流在金属表面的集肤深度，检测范围、速度、精度都得到了进一步的提高。该功能具有自主知识产权，功能定义也将写入相关国家标准中。

附：术语定义

变阵涡流检测

variable array eddy current testing

点、线、面阵列涡流探头中各阵元线圈激励／接收方式可以改变的一种阵列涡流检测技术。

变阵涡流扫描规则

variable array eddy current scanning rule

根据检测要求，采用电子切换技术改变和控制阵列涡流探头中每个阵元的激励顺序及频率、强度、滤波等参数的激励／接收方式。