雷宏刚,吴谨辉
(太原理工大学,山西 太原 030024)
Lei Honggang,Wu Jinhui
螺栓球节点网架的疲劳问题引起了越来越多学者的关注。笔者通过实验数据得出了高强螺栓S-N曲线,得出的容许应力幅比疲劳规范对应的容许应力幅的要小,显然是数据的离散性导致这一现象。疲劳是一个非常复杂的问题,文章从应力集中、直径和加载顺序3个方面说明其对螺栓球节点疲劳强度的影响。
大量的疲劳破坏事故和试验研究都表明,疲劳源总是出现在应力集中的位置。实际钢结构中,构件常存在孔洞、缺口、凹角、截面突变及钢材内部缺陷等,在构件形状突然改变或材料不连续的地方,出现应力局部增大的现象,叫做应力集中。塑性较好的材料在静载荷作用下,破坏前构件内的应力已趋于均匀化,所以应力集中对塑性较好的材料影响较小,对脆性材料影响较大。
表1 高强度螺栓的应力集中系数
表2 相关方程及相关系数
图1 d和呈线性关系
图2 螺栓直径D与其应力集中系数K t呈线性关系
图3 比值d与应力集中系数Kt呈线性关系
通过实验数据结合国内外已有数据,笔者汇出了M30以上及M30以下的SN曲线,并比较见图4、图5。
图4 M30以上、M30以下常幅乘幂曲线比较
图5 M30以上、M30以下常幅S-N曲线比较
其中:M30以上疲劳公式:
l gN=16.702-5.376 lgΔσ±1.340
或Δσ=1 278 N-0.186,其中R2=0.575 7;
M30以下疲劳公式:
l gN=14.128-3.998 lgΔσ±1.332
或Δσ=3 414.1 N-0.2501,其中R2=0.616 1;
全部数据疲劳公式:
1 gN=15.010 7-4.472 31gΔσ±1.325
或Δσ=2 272.2N-0.2236其中,R2=0.578 0
高强螺栓的疲劳性能在M30以下和M30以上存在很大差异,M30以上的S-N曲线斜率较大,容许应力幅较小,而M30以下的S-N曲线斜率较小,容许应力幅较大。说明了高强螺栓随直径的增加,其疲劳数据急剧离散,疲劳性能非常不均匀,螺栓直径越大,发生疲劳破坏的概率越大,因此对M30以下和M30以上高强螺栓疲劳设计分析需分别进行,并且应尽量避免用大直径螺栓,同时应选择特制的疲劳性能好的高强螺栓。
以S-N曲线上一离散点M30-6为例,分析疲劳端口,说明数据离散原因见图6:
图6 M30-6宏观断口
图7 M30-6微观断口(源区)
图8 M30-6微观断口(扩展区)
图9 M30-6微观断口(瞬断区)
Δσ=118.9 MPa;N=27.22×104,观察图 6,有一个疲劳源,位于断口上部第一螺纹处。扩展区相对平滑,面积约占整个断口面积的70%左右。瞬断区位于断口下方,有一个尖锐的缺口,相对别的M30断口,此断口的瞬断区面积稍大,约占断口面积的30%左右。通过金相切片分析,出现此现象的原因可能是由于该螺栓的回火温度过高,材质达不到应有的标准。图7是放大1 000倍的源区,图中可见该处有较多冶金缺陷,多数为气孔。图8是放大500倍的扩展区,由于热处理缺陷及冶金缺陷的存在,使得材质不均,导致了在此区域出现了较多的二次裂纹,也能看到有气孔的存在,同时在此区域并没有发现应属于该区域的明显疲劳断裂特征——疲劳条纹。图9是放大1 000倍的瞬断区,与其他两个区域比较,该区域本应相对粗糙,而从图中看出:由于源区及扩展区比较粗糙,却显得瞬断区比另两个区域相对光滑,而且瞬断区也能看到有气孔的存在(右下角)。该螺栓虽然也属于疲劳破坏,但由于大量冶金缺陷及热处理缺陷的存在,在加载过程中由于缺陷引起的应力集中导致疲劳强度过低。
在变幅疲劳试验中共采用“低→高”、“高→低”、“低→高→低”、“高→低→高”的加载顺序,在数据的统计过程中将加载顺序归结为二级程序试验[4],即“低→高”、“低→高→低”归结为“低→高”,而将“高→低”、“高→低→高”归结为“高→低”。
利用常幅疲劳试验所得到的疲劳曲线,对变幅疲劳试验结果利用进行折算,再回归分析,见图10。
回归方程为:lgN=10.774 4-2.229 4 lgΔσ±0.652 8
r=-0.648 4
从图10中可以看出,加载顺序为低→高的试验数据点拟合直线的斜率较全部试验数据点的小。说明了材料在次负荷下,疲劳裂纹顶端产生塑性区,塑性区产生一定的压应力,使应变强化、时效、强度增加及对外力产生了部分抵消作用,使裂纹扩展受到阻止,只有在更高的循环应力作用下才会使疲劳裂纹扩展,这种现象称为次负荷锻炼。
从图中还可以看出,加载顺序为从高→低的4个试验数据点使LgN-LgΔσ曲线的斜率较未包含这4个试验数据点的要大,说明高→低的加荷顺序会加快疲劳裂纹的扩展速度。
图10 对变幅疲劳试验数据双对数回归曲线对比
(2)螺栓直径越大,发生疲劳破坏的概率越大,应尽量避免用大直径螺栓。
(3)不同的加载顺序,损伤效应是不同的,高—低加载次序损伤最大,低——高加载次序损伤小。