贾倩倩,冯春明,张立欣,李强,王军山
(中国电子科技集团公司第四十六研究所,天津 300220)
随着电子通信装备的频率越来越高,聚四氟乙烯(PTFE)由于其优异的高频介电特性、耐化学性和耐腐蚀性,成为高频介质材料的首选基材[1-3]。然而,PTFE具有尺寸稳定性差、热膨胀系数(CTE)过高、加工难度高等缺点,限制了其应用[4-5]。玻璃纤维的主要成分为二氧化硅,介电常数较低,又具有极低的CTE,是制备PTFE介质基板常用的增强材料[6-8],其能够提高基板力学性能,降低CTE,增加尺寸稳定性。然而,无机物表面与PTFE树脂基体结合性较差,需经过表面改性,才能实现有效结合[9-11]。聚酰亚胺(PI)是一种具有高强度、高韧性、低介电常数和低CTE的高分子材料,同时具有耐高温特性,逐渐成为研究的热点。宋超然等[12]制备了低CTE共聚型PI薄膜,CTE达到1.3×10-5K-1,具有良好的尺寸稳定性。张帆[13]研究了低介电PI的合成,介电常数可降低至2.64~2.88。邱军利[14]通过研究PI的制备方法,获得了CTE为18.23×10-6K-1的PI薄膜材料。陈俊等[15]利用溶液静电纺丝法,制备出直径仅1.18 μm的PI纤维。
基于PI的优良特性,笔者制备一种具有低介电和低CTE的PI纤维掺杂的PTFE基板,研究了PI纤维的平均长度和质量分数对PTFE基板的影响。利用曲面响应设计建模,采用响应优化器,对PTFE基板的介电性能和CTE进行优化。
PI纤维:平均直径约1.5 μm,自制;
PTFE乳液:DISP40,科慕化学(上海)有限公司;
铜箔:CF-Ad,苏州福田金属有限公司。
磨碎设备:自制;
湿法混料机:SDF550型,上海儒佳机电科技有限公司;
纤维分析仪:YG002S型,常州市中纤检测仪器设备有限公司;
电热鼓风干燥箱:DHB-101型,天津中环电炉股份有限公司;
三辊压延机:XY-I230型,青岛君林机械有限公司;
层压机:VLP-260型,中国台湾活全机器股份有限公司;
场发射扫描电子显微镜(SEM):SUPPRA 55VP型,德国蔡司公司;
网络分析仪:N5224型,美国Agilent公司;
热机械分析仪:Q400EM型,美国TA公司。
采用压延方法制备PTFE基板样品,实验过程如图1所示。
图1 压延方法制备PTFE基板实验流程
首先,采用磨碎设备对PI纤维进行磨碎预处理,制备得到4个样品,采用纤维分析仪表征其平均纤维长度分别为50,65,80 μm和90 μm。
然后,采用图1所示的实验流程进行基板样品的制备。将不同纤维长度的磨碎PI纤维制成水基浆料,然后分别按照纤维质量分数5%,7%,9%和11%的比例,与PTFE乳液混合,经过烘干和压延成型等步骤,制备成为一定厚度的PTFE基片,双面覆铜箔热压,制成PTFE介质基板材料。
(1)微观形貌表征:PTFE基板的微观形貌由场发射SEM进行分析,基板样品在液氮保温10 min后脆断,表面喷金后观察其横截面形貌。
(2)介电性能测试:采用网络分析仪配合带状线测试夹具对样品在X波段(8~12 GHz)的介电常数进行测试,测试标准参考GB/T 12636-1990。
(3)基板厚度方向(Z轴) CTE (Z-CTE)测试:通过热机械分析仪测试,采用拉伸模式,测试标准参考GJB 1651A-2017。
将相同质量分数(5%)、不同平均长度的PI纤维制备PTFE基板样品进行断面SEM分析,结果如图2所示。图2中的基板断面均呈现纤维在PTFE基体中随机分布的形貌,有机无机界面结合良好。纤维作为增强材料,对PTFE复合材料的介电常数和CTE均具有一定的调节作用。但当纤维比例过高时,有可能产生团聚,将会对性能产生一定的影响。
图2 PI纤维质量分数为5%时,不同PI纤维平均长度的PTFE基板断面形貌
研究含有不同平均长度PI纤维基板的介电常数随PI纤维质量分数的变化趋势,结果如图3所示。图3中,随PI纤维质量分数的提高,不同长度的PI纤维制备的基板介电常数均呈现升高的趋势。PTFE的理论介电常数为2.1~2.2,PI纤维的理论介电常数为3.2,根据混合法则,基板的介电常数随PI纤维的比例增大而升高[16]。比较不同PI平均长度纤维基板的介电常数,可以看出介电常数随PI纤维长度的变化并不明显。
图3 PTFE基板介电常数随PI纤维长度和质量分数的变化
为了更明显地看出PI纤维平均长度和质量分数两个因子对PTFE基板介电常数影响大小,利用Minitab查看PTFE基板介电常数的主效应图,如图4所示。当图4中数据连线与均值具有交叉且坡度很大时,代表该影响因子对响应具有显著影响。从图4看出,纤维质量分数对基板介电常数有显著影响,而纤维平均长度的影响并不显著。进一步地,选用交互作用图来分析PI纤维平均长度和质量分数两个因子是否有交互作用,如图5所示。从图5看出,各条数据线均无交叉,说明两个因子对两个响应的影响是独立的,互不影响。
图4 PTFE基板介电常数的主效应图
图5 PTFE基板介电常数的交互作用图
研究含有不同平均长度PI纤维的基板的ZCTE随PI纤维质量分数的变化趋势,如图6所示。从图6变化规律看出,随PI纤维质量分数的提高,基板Z-CTE均呈现降低的趋势,当PI纤维质量分数达到9%以上时,Z-CTE趋于稳定。随着纤维平均长度的升高,Z轴CTE在平均长度从50 μm提高至80 μm时,Z-CTE明显下降,然而,从80 μm再增大时,Z-CTE反而上升。PTFE是CTE很大的一种高分子材料,纤维质量分数越高,基板的CTE越低[17]。同时,纤维的长径比越大,可为基板提供更强的增强作用,有助于降低Z-CTE,然而当纤维长度过长,将不利于分散,出现团聚,此时对Z-CTE的贡献将大大减弱,致使PTFE基板的Z-CTE出现恶化的情况。
图6 PTFE基板Z-CTE随PI纤维长度和质量分数的变化
同样,以Minitab中的主效应图来进一步判断PI纤维平均长度和质量分数对PTFE基板Z-CTE的影响,如图7所示。由图7可见,PI纤维质量分数和平均长度对基板Z-CTE均产生显著影响。进一步地,选用交互作用图来分析PI纤维平均长度和质量分数两个因子是否有交互作用,如图8所示。从图8看出,各条数据线几乎没有交叉,说明两个因子对两个响应的影响是独立的。
图7 PTFE基板Z-CTE的主效应图
图8 PTFE基板Z-CTE的交互作用图
基于PTFE基板的应用需求,介电常数要求为2.18~2.22,Z-CTE为0~240×10-6K-1,越小越好。利用Minitab,将实验得到的所有数据绘制重叠等值线图,如图9所示。从图9明显看出,灰色区域所围合的白色区域即为同时满足介电常数和Z-CTE性能的配方。
图9 PTFE基板介电常数和Z-CTE的重叠等值线图
利用Minitab中的响应曲面设计工具,建立曲面响应回归方程,并进行响应优化[18]。利用Minitab自定义响应曲面设计的响应优化器工具,设定介电常数2.20,Z-CTE最小化。软件自动计算纤维质量分数和纤维平均长度的最佳取值,结果如图10所示。根据理论模型,当纤维质量分数为7.363 6%,纤维平均长度为67.777 8 μm时,复合合意性最佳,此时,基板理论介电常数为2.200 4,理论Z-CTE为233.54×10-6K-1。
图10 PTFE基板介电常数和Z-CTE的响应曲面设计
将理论模型获得的最佳配方进行实验验证,通过相同的实验和表征方法,制备PI纤维质量分数7.36%,PI纤维平均长度68 μm的PTFE基板样品,测试其介电常数和Z-CTE,结果分别为2.201 5和234.5×10-6K-1,与理论计算结果基本相符。
采用压延方法,以不同平均长度和质量分数的PI纤维和PTFE树脂为原料制备PTFE基板材料,研究PI纤维长度和含量对基板介电和CTE的影响。结果显示,随纤维质量分数的提高,不同长度的PI纤维制备的基板介电常数均呈现升高的趋势,基板Z-CTE均呈现降低的趋势。纤维平均长度对介电常数的影响不明显,而随PI纤维平均长度的升高,ZCTE呈先下降后上升的趋势。通过建立曲面响应回归方程,利用响应曲面设计,找到最佳配方。以该理论为基础,设计实验配方为PI纤维质量分数7.36%,PI纤维平均长度68 μm,在该配方下制备PTFE基板材料样品并进行验证,发现介电常数和Z-CTE分别为2.201 5和234.5×10-6K-1,与理论计算结果相符。