神经突触高精度三维结构获解析

桂运安

近日，中国科学技术大学、中国科学院深圳先进技术研究院双聘教授毕国强和刘北明团队，与美国加州大学洛杉矶分校教授周正洪合作，通过发展前沿冷冻电镜断层三维成像技术，解析了首个完整脑神经突触在分子水平的高精度三维结构，并实现了对中枢神经系统中两类最主要突触——兴奋性与抑制性突触的精确区分以及结构特征的定量化分析。相关研究成果发表于《自然—神经科学》。

这项研究成果首次利用冷冻电镜断层成像技术对受体蛋白进行定位研究分析，为受体分子等蛋白质的原位高分辨解析以及相應药物作用机理和开发研究奠定了基础。