于宏伟 王雪琪 齐哲真 王晓萱 张 蕊 戎 媛
(石家庄学院 化工学院,河北 石家庄 050035)
聚四氟乙烯(PTFE),CAS号9002-84-0,是由四氟乙烯经聚合而成的高分子化合物,具有优良的化学稳定性、密封性、高润滑不粘性和电绝缘性,广泛应用在材料工程[1]、金属加工[2]和军事工业[3]等领域。与其他传统高分子材料不同,PTFE可在30~250 ℃的温度范围内长期使用。PTFE的优良耐高温性能与其特殊理化结构有关。中红外(MIR)光谱及变温中红外(TD-MIR)光谱广泛应用在高分子材料的结构研究领域[7-9]。PTFE的主要红外吸收模式包括:F—C—F伸缩振动模式(νCF2)和F—C—F弯曲振动模式(δCF2),相关MIR研究已有较多文献报道[10]。而PTFE的C—F伸缩振动模式(νC-F)[11]具有重要的光谱信息,但未见相关文献报道。
以PTFE的C—F伸缩振动模式(νC-F)为主要研究对象,分别开展了三级MIR光谱研究,为PTFE的应用及材料改性提供了有意义的科学借鉴。
聚四氟乙烯密封带,市售。
Spectrum 100型中红外光谱仪,美国PE公司;Golden Gate型ATR-FTIR变温附件,英国Specac公司;WEST 6100+型ATR-FTIR变温控件,英国Specac公司。
1.3.1红外光谱仪操作条件
PTFE试样固定在红外光谱仪的变温附件上,以空气为背景,每次试验对信号进行8次扫描累加,测定范围4 000~600 cm-1,测温范围30~250 ℃,变温步长10 ℃。
1.3.2数据获得及处理
PTFE的一维MIR光谱包括:一维MIR光谱、二阶导数MIR光谱、四阶导数MIR光谱和去卷积MIR光谱。
PTFE的一维MIR光谱数据获得采用Spectrum v 6.3.5软件;PTFE的二阶及四阶导数MIR光谱数据获得采用Spectrum v 6.3.5软件(平滑点数为13);PTFE的去卷积MIR光谱采用Spectrum v 6.3.5 软件(Gamma=2.0;Length=10.0);PTFE的2D-MIR光谱数据获得采用TD Versin 4.2软件(Interval=2 cm-1;Contour Number=30);图形处理采用Origin 8.0软件。
采用MIR光谱开展了PTFE的结构研究,见图1。
图1 PTFE的MIR光谱(4 000~600 cm-1)
首先开展了 PTFE 的一维 MIR 光谱研究,见图 1(A)。其中 1 202.64 cm-1(νCF2-1-一维)和 1 147.59 cm-1(νCF2-2-一维)频率处的吸收峰归属于 PTFE 的 F—C—F 伸缩振动模式(νCF2-一维),637.98 cm-1(δCF2-1-一维)和 625.10 cm-1(δCF2-2-一维)频率处的吸收峰归属于PTFE 的 F—C—F 弯曲振动模式(δCF2-一维)。PTFE 的二阶导数 MIR 光谱、四阶导数 MIR 光谱和去卷积 MIR 光谱得到同样的光谱信息,分别见图1(B)、图1(C)和图1(D)。相关研究在前期工作中已有详细介绍[10],而在800~700 cm-1频率范围,强度较弱的红外吸收峰,则归属于PTFE/νC-F。
在800~700 cm-1频率范围,进一步开展了PTFE/νC-F的MIR光谱的研究,见图2。
图2 PTFE/νC-F的MIR光谱(800~700 cm-1)
开展了PTFE/νC-F的一维MIR光谱研究,见图2(A),其中740.67cm-1频率处强度较弱的吸收峰归属于PTFE的C—F伸缩振动模式(νC-F-一维)。进一步开展了PTFE/νC-F的二阶导数MIR光谱和四阶导数MIR光谱研究,见图2(B)和图2(C),并没有发现明显的红外吸收峰。研究发现:二阶导数MIR光谱和四阶导数MIR光谱并不能增加原谱图的分辨能力。最后开展了PTFE/νC-F的去卷积MIR光谱研究,见图2(D),其谱图分辨能力有了一定的提高,其中742.63 cm-1(νC-F-1-去卷积)和740.03 cm-1(νC-F-2-去卷积)频率处的吸收峰分别归属于PTFE的C—F伸缩振动模式(νC-F-去卷积)。
由于PTFE/νC-F一维MIR光谱和去卷积MIR光谱具有较高的谱图分辨能力,因此,进一步开展了PTFE/νC-F的一维TD-MIR光谱和去卷积TD-MIR光谱研究,见图3。考查温度变化对于PTFE分子结构的影响。
图3 PTFE/νC-F的TD-MIR光谱(800~700 cm-1)
在30~250 ℃温度范围内,首先开展了PTFE/νC-F-一维一维TD-MIR光谱研究,见图3(A)。研究发现:随着测定温度升高,PTFE/νC-F-一维对应的吸收频率没有规律性改变,但吸收的强度略有增加。而测定温度超过120 ℃时,PTFE/νC-F-一维对应的吸收峰趋于消失,相关一维TD-MIR光谱数据见表1。进一步开展了PTFE/νC-F-去卷积的去卷积TD-MIR光谱研究,见图3(B)。试验发现:PTFE/νC-F-去卷积对应的吸收频率没有明显的改变,但相应的吸收强度略有增加,相关去卷积TD-MIR光谱数据见表1。
表1 PTFE/νC-F的TD-MIR光谱数据(30~250 ℃)
表1(续)
2D-MIR光谱通过研究PTFE主要官能团吸收峰对于热的敏感程度及变化快慢顺序,进一步探索其热稳定性[12-15]。但由于PTFE的玻璃化温度约为115 ℃,因此,分别选择PTFE玻璃化温度前(30~120 ℃)和PTFE玻璃化温度后(130~250 ℃)两个温度区间,进一步开展PTFE的2D-MIR光谱研究。
2.4.1低于玻璃化温度时PTFE/νC-F-below-Tg-二维的2D-MIR光谱研究
首先在30~120 ℃的温度范围内(低于玻璃化温度时),开展了PTFE/νC-F-below-Tg-二维的同步2D-MIR光谱研究,见图4(A)。
在(740 cm-1,740 cm-1)、(747 cm-1,747 cm-1)和(752 cm-1,752 cm-1)频率附近发现了3个相对强度较大的自动峰,证明PTFE在该频率(740 cm-1、747 cm-1和752 cm-1)处官能团对于温度变化比较敏感。
此外在(740 cm-1,752 cm-1)频率处发现1个相对强度较大的交叉峰,证明PTFE在(740 cm-1,752 cm-1)频率处对应的吸收峰之间存在着较强的分子内相互作用。
在30~120 ℃的温度范围内,进一步开展了PTFE/νC-F-below-Tg-二维的异步2D-MIR光谱研究,见图4(B)。在(740 cm-1,750 cm-1)和(750 cm-1,755 cm-1)频率附近发现了2个相对强度较大的交叉峰。PTFE/νC-F-below-Tg-二维的2D-MIR光谱数据证明,其对应的吸收频率包括755 cm-1(νC-F-1-below-Tg-二维)、750 cm-1(νC-F-2-below-Tg-二维)和740 cm-1(νCF-3-below-Tg-二维),相关2D-MIR光谱数据及解释见表2。
A 同步 2D-MIR 光谱
B 异步 2D-MIR 光谱
表2 PTFE/νC-F-below-Tg-二维的2D-MIR光谱数据及解释
由NODA原则[12-15]和表1数据可知,在热扰动下,PTFE/νC-F-below-Tg-二维吸收峰变化快慢的顺序为:740 cm-1(νC-F-3-below-Tg-二维)>755 cm-1(νC-F-2-below-Tg-二维)>750 cm-1(νC-F-2-below-Tg-二维)。
2.4.2高于玻璃化温度时PTFE/νC-F-above-Tg-二维的2D-MIR光谱研究
在130~250 ℃的温度范围内(高于玻璃化温度时),开展了PTFE/νC-F-above-Tg-二维的同步2D-MIR光谱研究,见图5(A)。
A 同步 2D-MIR 光谱
B 异步 2D-MIR 光谱
在760~720 cm-1频率范围内,并没有出现明显的自动峰和交叉峰。进一步开展了PTFE的νC-F-above-Tg-二维异步2D-MIR光谱研究,见图5(B)。在760~720 cm-1频率范围内,同样没有发现明显的交叉峰。这是因为在室温条件下,PTFE分子中的CF2单元按照锯齿形状排列,形成一个螺旋状的扭曲链,氟原子几乎覆盖了整个高分子链的表面。这种分子结构形成了PTFE的各种优异的应用性能,而随着测定温度升高(130~250 ℃),破坏了PTFE分子螺旋状的扭曲链结构,而在高分子链的表面,氟原子数目相应减少,PTFE的热稳定性则进一步降低。研究发现:PTFE/νC-F的2D-MIR光谱对于温度变化高度敏感,而相应的2D-MIR光谱则有较大的差异性变化。
以PTFE/νC-F为研究对象,采用三级MIR光谱研究了PTFE的结构及热稳定性研究。研究发现:当测试温度低于PTFE的玻璃化温度时(30~120 ℃),随着测定温度升高,PTFE/νC-F吸收峰变化快慢的顺序为:740 cm-1(νC-F-3-below-Tg-二维)>755 cm-1(νC-F-2-below-Tg-二维)>750 cm-1(νC-F-2-below-Tg-二维);当测试温度高于PTFE的玻璃化温度时(130~250 ℃),PTFE/νC-F对应的吸收峰对于热的敏感程度及变化快慢顺序都有很大的改变,而PTFE的热稳定性则进一步降低。为研究PTFE的结构与热稳定性建立一个方法学,具有重要的理论研究价值。