锥形束CT成像系统分析上颌第二磨牙远中根管口分布状况的价值应用

刘东阳

（佛山市口腔医院 广东 佛山 528000）

在形态结构方面，上颌第二磨牙冠与第一磨牙存在一定的相似性，而且伴有较多的根管数据，结构与形态响度复杂。站在发育的角度来讲，由于牙齿与牙槽骨的发育存在差异，牙槽骨无法将所有萌出的牙齿全部容纳起来；再加之上颌第二磨牙处于牙弓最后方位置与此同时，因为上颌第一磨牙很容易与未正常萌出的第三磨牙拥挤，所以，萌出及发育期间很容易在外籍因素作用下，减小牙根根分叉[1]；远中根很容易移动至近中，或者产生牙根融合现象，但是牙根融合很容易引发根管变异和融合，最后增加了根管定位难度，其中定位难度最大的是远中根管口定位[2]。本次研究主要针对锥形束CT成像系统分析上颌第二磨牙远中根管口分布状况进行探析，以下是具体报道。

1 资料与方法

1.1 一般资料

将2017年6月—2018年5月本院接收的进行第二恒磨锥形束CT成像系统的70例患者纳入至本次研究中，其中，有40例男患，30例女患，年龄18岁～75岁，均龄值数（45.62±3.47）岁；36例右侧患牙，34例左侧患牙。入组标准：①经本院伦理委员会批准[2]；②均由患者本人签署了知情研究协议书；排除标准：①存在严重心理及精神疾病者；②存在意识及认知障碍者。

1.2 方法

让所有患者站立在成像系统前，在颏托内部放置颏部，低头时，确保眶耳平面与水平面平行，于控制面板上对相应模式进行选择，让上牙与下牙整列进入至投照视野。扫描条件：电压与电流分别是80kV和5.0mA，曝光时间和像素分别是17s和0.125mm，剪切厚度是1.0mm，实施CBCT影像扫描的过程中，在确保影像质量的同时，尽可能的降低放射剂量，与此同时，让所有患者扫描过程中必须穿戴铅衣，以此实现屏蔽放射线的目的。

1.3 观察指标

分析70颗上颌第二磨牙的根管数据及近中颊侧根管口与远中颊侧根管口的距离（DM）。

1.4 统计学方法

应用统计学软件SPSS18.0对本次实验中计数资料（%）和计量资料（±s）进行处理，分别采用χ2和t进行检验，组间对比检验值是P，若P＜0.05则代表差异具有统计学意义。

2 结果

2.1 分析上颌第二磨牙根管数据

本次研究70颗上颌第二磨牙中，存在3根管的上颌第二磨牙最多，最多是40颗，占比为57.14%；其次是具有4个根管的上颌第二磨牙，存在25颗，占比是37.71%；存在2个独立根管的有3颗，占比为4.29%；具有1个根管的有1颗，占比为1.43%；存在5个根管的上颌第二磨牙有1颗，占比为1.43%，见表1。

表1 上颌第二磨牙根管数目分析

2.2 分析近中颊侧根管口与远中颊侧根管口距离（DM）分布范围

通过分析65颗上颌第二磨牙根管口位置可知，近中颊侧根管口与远中颊侧根管口分布与0.5～5.0mm之间，其中，分布最多的是2.1～2.5mm，有21颗，占比为32.31%，见表2。

3 讨论

由于上颌第二磨牙处于牙弓最后放，无法进行全面清洁，很容易造成远中龋坏或者颊侧龋坏，而龋坏发现难度较大，造成临床患病时间增加[3]。基于此，口腔内部在多种因素作用下，长时间的刺激造成远中根管口牙本质持续堆积，形成远中根管口的钙化，增加了远中根管口定位难度[3]。就解剖位置而言，上颌第二磨牙位置处于牙弓最远位置，通常因为远中骨量发育前去，进而产生萌出位置异常现象，包括舌侧位、颊向位等。该类状况导致根管治疗操作范围缩小显著，增加了临床操作难度，进而无法进行全方位的根管治疗。

自20世纪90年代末开展，锥形束CT被应用于口腔当中，其属于一项新型技术，能够将口腔颌面部三维组织结构清楚地显示出来，将以往X线压片尽可以将二维影像缺陷记录的不足弥补袭来。现阶段，较为常用的根管形态观察方法有透明压法和切片法等，该类方法均会导致牙齿原始结构发生改变，而且分辨率与微米级的显微CT相似，因此无法用于口腔检测。相比于传统螺旋CT，锥形束CT具有较低的辐射剂量，较高的空间分辨率。据有关资料显示[5]，通过锥形束CT可以将组织学与根管形态数据间的关联充分显示出来。利用锥形束CT能够对不同角度的牙齿进行准确测量，在根管系统识别方面，其具有较高的精确性。通过三维重建技术能够将复杂的根管空间走向显示出来，现阶段，其被视为根管形态检测的主要方法。

表2 分析近中颊侧根管口与远中颊侧根管口距离（DM）分布范围

经过本次研究结果可知，本次研究70颗上颌第二磨牙中，存在3根管的上颌第二磨牙最多，最多是40颗，占比为57.14%；其次是具有4个根管的上颌第二磨牙，存在25颗，占比是37.71%；存在2个独立根管的有3颗，占比为4.29%；具有1个根管的有1颗，占比为1.43%；存在5个根管的上颌第二磨牙有1颗，占比为1.43%；通过分析存在3个或者4个根管的65颗上颌第二磨牙可知，结果提示，上颌第二磨牙DM分布主要集中在1.5～3.0mm间，该区域被称为DM的常规区域，处于该范围内，医生可以准确定位和查找远中根管口，该区域内部可根据以下两种状况对医生定位远中根管口进行指导：①上颌第二磨牙牙体结构无异常，因为存在较长的患病时间，在多种临床病理因素作用下，使得远中根管口产生钙化；②年轻医生缺乏探查远中根管口定位能力。本次实验结果显示，位于0.5～1.5mm之间的上颌第二磨牙有5颗，该范围内近中根管口与远中根管口分布相距较近，在远中根管口定位方面难度较大，因此被称为DM的特殊范围。该区间内部，近中根管与远中根管大约处于同一部位，有些则需要在完成根管与背后对近远中根管口进行发现，所以需要加强对该现象的重视。通过锥形束CT系统呈现可以将上颌第二磨牙远中根管口具体分布状况清楚的显示出来，以便医生及早诊断和治疗。

总而言之，将锥形束CT系统成像技术应用于上颌第二磨牙远中根管诊断中，可以将上颌第二磨牙根管数目及近中颊侧根管口与远中颊侧根管口距离（DM）分布清楚的反应出来，为诊断和治疗该病提供重要的数据参考。