徐 希,燕 颖,任 鑫,姚 政,时 雯,余文琪
(上海大学 纳米科学与技术研究中心, 上海 200444)
在电力行业的迅速发展情况下,对电路中电子元件要求越来越高。送电电压高压化,电子元件的高质化、小型化、轻型化成为新常态。而 ZnO线性电阻有着体积小,重量轻,能量密度高,线性度好等优点,使得ZnO线性电阻电子元件具有广阔的应用前景,在电力-电子、能源、通信、风力发电等方面有着广泛的应用,受到了国内外人士越来越多的关注[1]。
早在1986年,日本日立公司就已经成功研发出了ZnO线性电阻,并已商品化[2]。国内由于在ZnO线性电阻方面的研究起步相对较晚,导致国内使用的高性能的线性电阻基本需要从国外引进,国内线性电阻市场基本被国外垄断。目前,国内越来越重视基础行业技术,自主研发掌握核心技术打破国外技术壁垒势在必行。
ZnO线性电阻是一种以ZnO为基础,通过添加其他金属氧化物(如:MgO、Al2O3等)相结合的一种半导体电阻材料[3-7]。由于ZnO线性电阻负温阻系数较小或为正值的特性,使ZnO线性电阻受温度影响较小,与传统的线性电阻相比,能在更高的温度环境下使用。同时ZnO线性电阻具有满足伏安特性的线性关系,大功率工作环境下无电感等优点,使ZnO线性电阻在电力-电子行业有很大的应用潜力和很高的研究价值。本文以ZnO-Al2O3-MgO的线性电阻体系,改变体系中Al2O3的含量,研究Al2O3的含量对ZnO线性电阻的微观结构和电气性能的影响。
实验粉体原料为电子级的ZnO粉体和分析纯的MgO,Al2O3等粉体;实验所使用的粘结剂为PVA17-88(上海石化),分散剂为聚丙烯酸盐类物质。ZnO,MgO和Al2O3以质量比为5.5 : 1 : 3.5的比例混合,加入适量去离子水和分散剂,通过滚筒式球磨分散均匀后取出烘干、粉碎,将粉碎后的粉体在1150 ℃煅烧2 h制得添加剂粉体。将添加剂粉体与ZnO、Al2O3以一定的比例混合,加入适量去离子水、粘结剂和分散剂,通过滚筒式球磨混合均匀制成混合浆料。而后通过喷雾造粒、含水、陈腐、干压成型,制得φ48 mm× 16 mm的圆柱形坯体。将坯体在450 ℃排胶2 h,然后在1320 ℃保温2 h煅烧成瓷,得到φ43 mm× 14 mm的线性电阻。最后经过磨片清洗,喷涂铝电极后制得D1-D5系列ZnO线性电阻(Al2O3粉体占总分体的质量百分比分别为1%,1.5%,2%,2.5%,3%)。
采用X射线衍射仪(XRD)对烧结后的样品进行晶相扫描分析;采用日立SU-1510型钨灯丝扫描电镜(SEM)观察烧结样品的微观结构形貌;使用常州创捷CJ1033型压敏电阻测试仪测试烧结样品非线性系数;使用吉时利2410数字仪表对烧结样品进行电阻率和U-I曲线测试;使用DZW电阻温度特性测定仪对烧结样品进行温阻特性的测试;使用自组装稳压稳流电源对烧结样品进行能量耐受测试。
图1 D1-D5系列ZnO线性电阻XRD图Fig.1 XRD patterns of D1-D5 series ZnO linear resistors
D1-D5系列线性电阻的晶相分析如图(1)所示。从XRD图谱显示的结果可以看出,D1-D5系列线性电阻的主要晶相包括主晶相ZnO,镁铝尖晶石相,锌铝尖晶石相和少量的SiO2相。随着Al2O3含量的提升,ZnO线性电阻的晶相种类没有发生改变,镁铝尖晶石相和锌铝尖晶石相衍射峰强度增大,即尖晶石含量增加。
图(2)是D1-D5系列线性电阻的微观结构图。通过统计计算D1-D5的平均晶粒尺寸为:7.82 μm,9.69 μm,10.67 μm,14.7 μm,9.12 μm。这是由于Al在浓度较低时,Al会导致ZnO烧结温度降低,引起晶粒尺寸变大[8]。随着Al2O3含量的提升,Al与ZnO、MgO形成ZnAl2O4和MgAl2O4相,使进入ZnO晶格间隙的Al的掺杂量减少,同时更多的ZnAl2O4相和MgAl2O4相能更好地抑制ZnO晶粒的生长,从而导致晶粒尺寸的减小[9]。
表(1)是D1-D5系列线性电阻的基础性能的数据。从表中的数据结果分析得出,随着Al2O3含量的提升,ZnO线性电阻的密度呈下降趋势,电阻率呈上升趋势,非线性系数略微上升基本保持不变。这是由于随着Al2O3含量的提升,ZnO线性电阻中锌铝尖晶石相和镁铝尖晶石相逐渐增多,尖晶石相的存在阻碍了烧结过程,同时Al2O3密度远小于ZnO,导致ZnO线性电阻的密度减小。同时由于尖晶石相属于绝缘晶相,尖晶石相的增多使ZnO线性电阻的电阻率增大。
D1-D5系列的V-I曲线如图(3)所示,表(2)为D1-D5系列U-I曲线进行线性拟合后的相关系数R值(|R|值 ≤ 1,当R值越接近1,拟合度越好,曲线越接近直线,从而可以反应出ZnO线性电阻的线性度)。从图中U-I曲线和R值都可以看出D1-D5系列的ZnO线性电阻的线性度很好,Al2O3含量的增加并没有改变ZnO线性电阻的线性度。
图4是D1-D5系列ZnO线性电阻的温阻系数αT的趋势图。随着Al2O3含量的提升,ZnO线性电阻温阻系数呈下降趋势,分别为:1.48 × 10-3/℃、1.21 × 10-3/℃、-2.61 × 10-4/℃、-1.6 × 10-3/℃、-2.07 × 10-3/℃。这是由于Al2O3含量的提升,导致ZnAl2O4相的增多。而锌铝尖晶石相的线膨胀系数为5.96 ppm/℃,使得ZnO晶粒的内部压强随着温度的升高而升高[10]。晶粒的内部压强影响着晶界电阻率温度系数,锌铝尖晶石相增多使ZnO晶粒的内布压强的升高,从而导致ZnO线性电阻的温阻系数降低。
图2 D1-D5系列ZnO线性电阻微观结构SEM(D1-D5的晶粒尺寸分别为 7.82 μm,9.69 μm,10.67 μm,14.7 μm,9.12μm)Fig.2 SEM micromorphologies of D1-D5 series ZnO linear resistors (The grain sizes of D1-D5 are 7.82 μm, 9.69 μm,10.67 μm, 14.7 μm, and 9.12 μm, respectively)
图3 D1-D5系列ZnO线性电阻U-I曲线(左图为D1系列ZnO线性电阻U-I曲线,右图为D2-D5系列U-I曲线)Fig.3 U-I curves of D1-D5 series ZnO linear resistors(The left picture shows the U-I curve of the D1 series ZnO linear resistor, and the right pictures show the U-I curves of the D2-D5 series)
表1 D1-D5系列ZnO线性电阻基础性能Tab.1 Basic performance of D1-D5 series ZnO linear resistors
表2 D1-D5系列UI曲线|R|值Tab.2 UI curve |R| of D1-D5 series
D1-D5系列的能量密度曲线如图(5)所示。随着Al2O3含量的提升,ZnO线性电阻的能量密度呈下降趋势,分别为:592 J·cm-3、495 J·cm-3、361 J·cm-3、228 J·cm-3、173 J·cm-3。这是由于过多的尖晶石相阻碍了ZnO线性电阻的烧结过程,使其密度降低,致密性下降,而均匀性和密度影响着能量密度[11]。
图4 D1-D5系列ZnO线性电阻温阻系数Fig.4 Temperature coef fi cients of resistance for D1-D5 series ZnO linear resistors
图5 D1-D5系列ZnO线性电阻能量密度Fig.5 Energy densities of D1-D5 series ZnO linear resistors
(1)在以ZnO-Al2O3-MgO为体系的ZnO线性电阻中,随着Al2O3的含量的提升,ZnO线性电阻晶粒尺寸先增大后减小,在Al2O3的含量为2.5wt.%时,晶粒尺寸最大为14.7 μm。
(2)当ZnO线性电阻Al2O3的含量从1wt.%增加到3wt.%时,其电阻率从267 Ω·cm增加到14710 Ω·cm,同时,ZnO线性电阻的非线性系数保持在1.00左右,对线性度影响较小;ZnO线性电阻的密度从4.28 g·cm-3下降到3.99 g·cm-3;能量密度逐渐减小,从592 J·cm-3下降到173 J·cm-3;温阻系数逐渐减小,由1.48 × 10-3/℃下降到-2.07 × 10-3/℃,并在Al2O3含量为2.0wt.%时由正值变为负值。
(3)通过添加Al2O3的含量可以调节ZnO线性电阻的电阻率,同时保持良好的线性度,但在Al2O3的含量过多的时,对ZnO线性电阻的其他电气性能有一定影响。当Al2O3的含量在1.5wt.%时,制备的ZnO线性电阻综合性能最好,密度为4.28 g·cm-3,电阻率为821 Ω·cm,非线性系数为1.00,温阻系数为1.21 × 10-3/℃,能量密度为495 J·cm-3。当Al2O3的含量在1wt.%-1.5wt.%时,能较小幅度的调节ZnO线性陶瓷电阻率,同时获得较好的电气性能。