SSM： x-view密度分析法
2016-09-18 01:52:27宫海飞
国际纺织导报 2016年6期
SSM： x-view密度分析法
瑞士Schärer Schweiter Mettler(SSM)公司在2013上海纺织工业展览会上介绍了x-view密度分析法，这一最新方法可进一步提升SSM公司的络筒工艺。
密度分析法的第一部分是利用电子扫描器(XRCT)完成的。X光从不同方向扫描筒子纱，记录数据，由电脑模拟成三维图像，该电脑模型作为原始数据用于最终分析。通过测量多个横截面(图1)可获得所测卷装的平均密度。利用XRCT的密度分析法可针对不同需求，精确调整络筒工艺参数，有助于SSM公司改进卷绕工艺，生产客户所要求的纱线卷装。
图1 筒子纱横截面
x-view为注册商标。
宫海飞 译颜雪 校
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