专利申请号:CN201110362349.6
公开号:CN102417156A
申请日:2011.11.15
公开日:2012.04.18
申请人:北京大学
本发明公开了一种刻蚀金属钼材料的方法,在金属钼材料上形成刻蚀掩膜,然后采用高密度等离子体(如ICP、TCP 等)干法刻蚀工艺,产生高密度、高能量离子和自由基,实现了对金属钼体材料的高速率、各向异性刻蚀。刻蚀速率可达2.63 μm/min,刻蚀结果侧壁的陡直度可达70°。基于本发明的方法,可利用金属钼衬底基片作为制备MEMS 器件的主体材料。