王 俊 ,张友贤
(1、三峡电力职业学院,湖北宜昌,443000;2、宜昌市供电局,湖北宜昌,443000)
发光二极管(LED)具有寿命长,耗电小,发光效率高等优点,成为当今半导体照明技术的发展热点,在照明、图形图像显示、信号指示等领域得到了广泛的应用。其中,大功率LED更是掀起了人类第三次照明革命。
在如火如荼的大功率LED照明应用中,三大技术关键是:热管理、驱动电源和LED性能质量。前两项已有许多改进成果,唯独第三项仍是沿袭着前人的故道蹒跚而行。由多粒大功率LED阵列或大功率多晶集成(IC)组成的光源中,剔除早期和次早期失效的LED器件,历来都是繁琐和头疼的问题,LED器件经规范条件测试合格后,最后的把关便是通用的老化试验了,然而常规的老化试验只能剔除部分早期失效的大功率LED,对次早期失效的大功率LED却无能为力。同时这一方法用于剔除早期失效的大功率LED的近期效果也极为有限,因而人们期望延长老化时间来达到预期目标,有的甚至将老化时间延长至240小时,但在实际应用中,大功率照明的早期和次早期失效的LED器件仍不断出现,这对昂贵的大功率LED路灯而言,也就瑕疵难掩,难附长寿命之实,不免憾然!究其原因,就在于对LED照明的可靠性研究中,对器件的性能测试难深入解决其寿命问题,加速老化试验预测寿命也只是概率性方法,小概率事件仍然存在;同时,通常易将注意力集中在局部的器件失效上,而对系统失效却忽视或忽略。
为改变这一现状,本文根据大功率LED照明装置系统失效机理和LED器件失效机理,将LED照明装置置于系统和局部的安保措施之下,提出了一系列常规老化测试之外的补充方法,用以剔除早期和次早期失效的大功率LED器件,提高装置系统的可靠性。
正向电压是判定LED器件性能的一个重要参数。对于一个正常的LED器件,其正向电压与结温的关系为:
K:电压随温度变化系数。
对于正常的LED器件,电压随温度的变化是可恢复的。但是,对于早期或次早期失效的LED器件,会由于结区缺陷与杂志的聚集,造成额外复合电流的增加,从而使得正向电压下降,最终导致器件损坏。
鉴于LED电压与结温的线性关系,在供电电源额定电流运行工况下,剔除LED阵列中压降异常的器件,此器件是系统的不安全因素。在实际操作中,可以使LED在额定电流下运行一小时以上且温度稳定后,测试其正向电压,剔除LED阵列中一小时前后压差异常的器件,此器件结温异常,将是早期或次早期的失效品。也可将LED置于硅油内加温至130℃,每降2℃-10℃在脉冲电压下测其正向压降,以获得此批次LED器件的曲线,从而剔除不良品。
所有LED的电性能都是不一样的,每支LED的阀值电压Vf都有差异,这就是说LED的发光强度与驱动电流是不完全相同的,甚至会相差很大,因此设计者就需要针对实际情况加以分析采用最合理的设计方案。由于LED属于电流型器件,严格的说只能采用串联工作方式,在并联工作状态下,必须对所并联的发光管二极管进行严格筛选,利用LED启动阀值和(或)关闭阀值的差异,剔除LED阵列中不安全的不协调品,从而避免因为LED的阀值电压的不同而导致器件的早期失效。
LED早期老化失效的和结温有着巨大的联系,封装过程中键合处常常存在巨大的接触电阻,从而产生巨大的热效应。为了剔出由于封装原因导致的早期失效器件,可以将LED置于氟碳惰性液体中(其优点是试品不会留下污染性痕迹),在规范允许的高低温下,进行热震荡试验,加温至指定温度和指定时间(按产品规范),多次循环、反复储藏,以期利用LED封装材料膨胀系数和收缩比差异产生的应力,使键合点位移增大、金线(或铝线)提前疲劳损坏,以剔除金线键合不良易开路的早期失效器件。
LED器件的伏安特性的离散性很大,即使是同一型号的LED其伏安特性在每个器件中也是不同的。同时,由于PN结上的电流密度常是非均匀分布,这一现象又因电流差异而随机变化,可采用面测温方式在设定的运行条件下,剔除高电流密度器件。
对于一个LED器件,发光区材料的禁带宽度值直接决定了器件发光的波长或颜色。当温度升高时,材料的禁带宽度将减小,导致器件发光波长变长,颜色发生红移。根据这一原理,可以使LED在额定电流下运行一小时以上且温度稳定后,测试其波长红移量,剔除LED阵列中一小时前后红移异常的器件,此器件结温异常,将是早期或次早期的失效品。
LED老化测试在产品质量控制中是一个非常重要的环节,而常规的老化试验只能剔除部分早期失效的大功率LED,对次早期失效的大功率LED却无能为力。本文根据产生LED老化的原因,提出了剔除大功率LED早期和次早期失效的非老化方法,包括利用LED电压与结温的关系,剔除电压降异常器件;利用LED启动阀值和(或)关闭阀值的差异,剔除不协调品;利用LED封装材料膨胀系数和收缩比差异产生的应力,剔除封装不良器件;采用面测温方式,剔除高电流密度器件;利用波长红移效应,剔除波长红移异常器件。采用这些方法选择LED器件,并采用导热良好的复合石墨均温板制作出的LED路灯,已挂网运行多年,效果良好。
[1] 陈宇彬,李炳乾,范广涵,白光LED老化机理研究进展,国外电子元器件 [J],2007(1):8~12
[2] 林亮,陈志忠,陈挺,童玉珍,秦志新,张国义,白光LED的加速老化特性,发光学报[J],2005年第5期
[3] 赵阿玲,尚守锦,陈建新,大功率白光LED寿命试验及失效分析,照明工程学报[J],2010年第一期
[4] 李艳菲,张方辉,张静,大功率LED的电流老化特性分析,发光学报[J],2012年第11期