2010 安捷伦测试测量大会在成都拉开帷幕

安捷伦科技宣布，2010年“安捷伦测试测量大会”于1月20日～21日在西部蓉城——成都拉开帷幕。此次大会是继一年一度的“安捷伦电子测量仪器展暨专题研讨会”之后，安捷伦为广大用户精心准备的又一次汇聚领先技术的饕餮盛宴。此次大会涉及无线通信与数字测试、国防与航空航天科技两大领域的20多个专题。

在此次会议中，来宾亲临现场见证安捷伦科技70年的技术飞跃与烁世贡献：从“泛在网络”的全面测试方案，到3G～4G的无线测试大全；从高速数字技术的深入解析，到复杂电路的自动化设计程序；从航空航天的尖端测试设备，到国防科技的集中专题探讨；从DANL可逼近到-172dBm理论极限值的高端频谱分析仪，到基于PNA-X的非线性网络测试划时代的创新产品；从复杂电磁环境下的信号监测，到高速数字总线的测试方案。来宾经历了一次像遨游科技迷宫一样的高集成度、科技与测试专业课题的研讨大会。

今年的“安捷伦测试测量大会”成都站为期两天，特别引入多个分论坛，以侧重方向的不同区分每天的内容与用户进行更深入的探讨，设立更全面、更有针对性的现场展示环节，并邀请业界权威讲师，与安捷伦科技全球范围各应用领域内的资深技术专家、经验丰富的工程师共同为用户现场讲解与演讲。