一种磁角度传感器测试装置

申请号: 202311308515.3

【申请日】2023.10.10

【公开号】CN117232383A

【公开日】2023.12.15

【分类号】G01B7/30

【申请人】美新半导体（无锡）有限公司

【发明人】李妍君;黄黎;柯亮;刘茜

【摘 要】本发明提供一种磁角度传感器测试装置，其包括：第一基板；电机，其设置于第一基板下方，电机的电机轴贯穿第一基板；转轴，其设置于第一基板上方，转轴的一端部与电机轴同轴连接；磁场源，其用于产生外磁场，磁场源固定于转轴的另一端部；第二基板，其设置于磁场源上方，且第二基板与磁场源存在预设间隔；器件测试板，其固定于第二基板上，器件测试板用于承载待测磁角度传感器并与待测磁角度传感器电连接，以输出待测磁角度传感器产生的角度信号。与现有技术相比，发明提供的磁角度传感器测试装置，不但体积小巧、轻量、便携、成本低、配件间可拆卸、还能够灵活地适应多阶段的研发测试需求。