黄伟群 李信合 朱洁乐 蔡国浩
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电机作为电器的动力源之一,由定子与转子构成。定子在绕组线圈嵌槽时,出现其中一个或多个槽的匝线圈嵌反了,该槽的电流方向与正常的工作方向相反,称为反嵌。出现反嵌的定子跟正常的转子组装成电机时,反嵌的绕线中流过的电流方向相反,使电机的磁动势不平衡,造成电机启动困难,三相电流不平衡,电机可能发生噪声、振动甚至烧毁[1]。现有的检测方式主要是通过电机综合性能自动测试系统[2]的功率因数,或者堵转电流等可以检测出来,从而判断异常。但是当成品测试出异常后,重新拆解分析,需要消耗大量的人力物力,还有可能破坏原先设计的系统性能,如匝间绝缘性能、电气绝缘性能。
对于电机的制造商,定子反嵌的检测有两层意义,一个是“能不能检测出来”;另一个是“能不能准确地指出反嵌的位置”。
本系统利用电流磁效应原理[3],设计了一套专门用于检测定子反嵌的测量系统,通过给定子绕线组施加恒流源产生磁场,霍尔传感器检测磁场强度大小并通过霍尔信号判断磁场方向,通过软件算法计算出反嵌的不良定子,并指出对应的位置。系统采用芯片自动检测的方法,在组装成电机之前对定子测量,检测出不良的定子。通过实验研究证明,该检测方案能够有效且准确的指出反嵌的位置。
根据奥斯特发现的电流磁效应原理,通电的导体周围产生磁场,那么把导体缠绕成线圈的形状后,周围磁场会增强,此时线圈相当于一个条形磁铁,产生的磁极用右手定则。
图1为三相Y型接法,18槽的定子绕线方式,每个槽的绕线等同于一个线圈,给单个绕线组通恒流源时,同相的6个线圈产生6个相同指向的磁场,磁场方向由电流的方向决定,同时指向内圈,或者同时指定外面。
图1 定子绕线方式
直流电产生的磁场强度的计算公式为:
式中:H为磁场强度,单位为A/m;N为励磁线圈的匝数;I为励磁电流(测量值),单位为A;Le为测试样品的有效磁路长度,单位为m。
定子中,每一槽线圈的匝数N相同,励磁电流I相同,磁路长度Le也相同,所以每一个槽产生的磁场强度也相同。但是,当定子绕线反嵌时,它的电流方向发生改变,磁场方向也发生改变。通过制作不同工装,在定子的中心,或者定子的外围,每个线圈的磁力方向放置一个霍尔传感器,对定子的每一个绕组施加一个恒流源,通过霍尔传感器的采样电路采样,然后通过MCU计算相对应的极性即可判断出反嵌的定子并指出相应的位置。
总体的设计框图如图2所示,其中:
图2 系统整体方案设计框图
MCU控制系统:MCU最小系统,包括系统需要的其他单元如存储、DAC等,负责整个系统控制,用户按键指令的接收,结果的判定,以及控制显示等。
霍尔传感器采样小板:包括霍尔传感器及其电平转换电路,分体式的设计是为了兼容不同的定子槽极,方便做成定子的放置工装,工装用于定子的定位。
模拟开关:由于定子的槽极较多,而MCU的ADC采样通道有限,通过用模拟开关切换ADC的采样通道,达到扩充ADC的作用,使每一个槽极都有一个ADC采样通道。
按键模块:用户指令输入。
显示模块:显示用户的操作界面,以及结果的判断。
压控恒流源:用于给线圈施加电流,由于不同的产品线圈的圈数不同,产生的磁场强度不同,需要使用DAC或PWM控制恒流源电流的大小输出,使用霍尔传感器得到合适的信号。
继电器板:用于把恒流源输出切换至不同的绕组。
电源供电:AC-DC,用于给整个系统供电。
本系统中的显示模块、控制算法、IO均需要占用较多的MCU资源,所以系统中采用STM32F407VET6[4],ARM Cortex-M4内核,在定子测量系统中,主要负责的内容为:
(1)用户的输入(按键)以及输出(显示模块);
(2)用DAC控制压控恒流源的输出电流大小,以及使用继电器把恒流源输出至不同的绕组;
(3)霍尔传感器的切换以及信号的采样;
(4)系统的控制与算法。
根据直流电产生的磁场强度的计算公式:H=N×I/Le,不同的定子匝数N不一样,H就不一样,所以需要调节电流I,使用不同的定子,磁场强度可以被霍尔传感器检测。本系统中采用了精密程控恒流源的设计[5],利用STM32内部自带的12位DAC,输出对应的电流。
霍尔传感器采用的是HONEYWELL的线性霍尔传感器,其内部结构如图3所示,转换的性能如图4所示,其中,橫坐标的单位是高斯,它与式(1)标准的磁场强度的转换公式为:
图3 霍尔传感器内部结构
图4 霍尔传感器转换性能
由于该传感器的最大输出电压超过了模拟开关芯片的最大工作电压5 V,传感器小板的电平输出要有降压的电路设计,同时模拟开关芯片,以及ADC的输入也要有必要的过压保护电路。
流程的设计如图5所示,软件设计的主要注意事项如下:
图5 软件的工作流程图
(1)定子中每次接通一组绕组,如测量原理中的定子,第一次同时接通的槽级为1-4-7-10-13-16,第二次为2-5-8-11-14-17,第三次为
3-6-9-12-15-18。
(2)霍尔传感器每次以轮询的方式读取对应槽级的信号,如图6所示,在恒流源接通稳定之后读取,每个通道的读取为:打开通道→延时→读取第一个通道信号→关闭通道,顺序跟接通的槽级对应。
(3)恒流源在未接负载时,理论上输出电压为无限大,所以每次必须先闭合继电器接通负载之后再通恒流源。测量数据完毕,必须在关闭恒流源之后,再断开继电器。
(4)每一次操作时,Y-UVW必须相同,并且设置与实物一致,否则软件不能报出对应错误的槽级。
霍尔传感器在绕组未施加恒流源时,输出为5 V,当施加合适的恒流源之后,如果磁场正向穿过传感器,输出大于5 V;反向穿过传感器时,输出小于5 V。通过每一组绕线所有的磁极,判断绕线组中是否存在反嵌,异常时在测量完毕之后,在显示模块中显示出来。
极性的判断如图7所示,用户设定恒流源,极性判定的上下限。如正向时霍尔传感器输出7 V,反向为3 V。在软件中,大于7 V为1,小于3 V为0,3~7 V为不确定区间-1。
图6 轮询方式读取霍尔传感器输出
图7 极性的判定算法
图8 反嵌的判定算法
反嵌判定的算法如图8所示,第一次接通的绕线组槽级为1-4-7-10-13-16,那么读取的数值应全部>7 V,即每一个槽级都为1;或者全部<3 V,即每一个槽级都为0。如果同一个绕线组的6个槽级读取出来有1也有0,那么这个定子就是反嵌的定子。全为1,或者全为0取决于Y-UVW接好之后,霍尔传感器的安装方向。
本实验的定子槽级为18,正常的定子结果如表1所示,定子的每一组绕线的槽级方向全部一致,全部为1。而当定子出现反嵌现象时,就会出现同一组同时出现1和0,如表2中第一组所示。
实验结果表明,Y-U组的第10个槽级反嵌的定子能够被准确有效的检测出来。
本测量系统以电流的磁效应为基础,通过对绕线组施加恒流源,在定子的绕组外围增加霍尔传感器,利用MCU及其他的外围电路对定子绕组进行反嵌检测,实现对不良品的分辨。
表2 反嵌定子测试
实验结果表明,通过对采样数据进行方向性判断,结合相应的软件算法,可以有效检测出反嵌的定子,并清晰指出相应的位置。从而避免反嵌的定子组装成成品之后再检测,为电机制造商带来便利,节省了大量的人力与物力。