黄 娟,周 瑜,李泽碧,吴 毓,张亚勤
(重庆市农业科学院特色作物研究所,重庆永川 402160)
近年来,由于工业“三废”排放、污水灌溉、农药肥料不合理施用等原因,我国大面积农田土壤遭受重金属污染,农产品重金属超标问题突出,对食品安全和人体健康造成严重威胁,其中镉(Cd)已成为最有害的重金属污染物之一。Cd在土壤中分布广泛,而且容易被植物吸收并积累,进入食物链后将严重威胁人类身体健康[1-2]。此外,Cd 还会对农作物产生毒害作用,如抑制光合作用和蒸腾作用,干扰植物代谢过程,加速衰老,影响农作物产量和品质[3-4]。Cd 具有毒性高、移动性强、不易降解等特点[5],随着“镉大米”事件的曝光,土壤Cd污染问题备受关注。
甜高粱能够吸收土壤中残留的重金属,并将土壤修复与生物能源生产有机结合,可有效避免能源和粮食作物间的矛盾冲突[6],使重金属从粮食链转入能源链,同时兼顾了生态效益和经济效益,是在重金属污染土壤中种植的首选植物[7]。种子萌发不仅是植物生活周期的起点,也是感知外界环境变化的最初生命阶段,是评价植物对镉的耐性的关键阶段[8]。因此,研究甜高粱种子萌发阶段受镉胁迫的影响显得尤为重要。本试验研究不同Cd浓度对甜高粱种子萌发及幼苗生长的影响,探究Cd对甜高粱种子萌发的作用,以期为下一步研究提供基础数据。
供试甜高粱为杂交品种辽甜1 号,由辽宁省农科院创新中心提供。
试验根据Cd 溶液浓度设10 个处理,用蒸馏水CdCl2·2.5H2O 分别配制成1(T1)、20(T2)、50(T3)、100(T4)、500(T5)、1 000(T6)、2 000(T7)、3 000(T8)、4 000(T9)、5 000(T10)μmol·L-1的10 种溶液浓度,以蒸馏水为对照(CK)。
选择籽粒健康饱满、大小均匀的甜高粱种子,经自来水反复冲洗后,用10%次氯酸钠消毒10 min,再用去离子水冲洗数次后,均匀摆放在铺有2 层滤纸的直径为12 cm 的培养皿中,每皿40 粒种子,用配制的不同浓度的Cd 培养液浸润种子。每个处理3 次重复,置于25 ℃恒温培养箱内光照培养14 h,暗培养10 h。培养期间每天称重,加相应浓度Cd溶液至原重,保持一定的湿度和浓度。
以芽长达到种子长度的一半为萌发标准[9],每天记载发芽种子数,连续记录7 d。于第4 天计算发芽势,第7 天计算发芽率,并用刻度尺测量幼苗根长和芽长,计算发芽指数、活力指数。
各指标计算公式如下:
发芽势=前4 d正常发芽的种子数/供试种子数×100%;
发芽率=前7 d正常发芽的种子数/供试种子数×100%;
发芽指数=∑Gt/Dt,其中Gt 为t 时间内的发芽数,Dt为相应的发芽天数;
活力指数=发芽指数×芽长;
耐性指数=金属溶液培养后根(苗)长度/对照溶液培养后根(苗)长度×100%。
采用Excel 软件整理试验数据,用SPSS 20.0 软件进行统计分析,差异显著性检验采用Duncan’s法。
Cd 胁迫对甜高粱发芽势和发芽率均有显著影响(P<0.05)(见表1)。随着Cd 胁迫浓度的增加,发芽势和发芽率表现为先升高后降低的趋势,其中T2处理的发芽势和发芽率均为最大,其次是CK、T1、T2、T3处理,这几者之间无显著差异;其余处理随Cd 浓度增加表现出显著下降趋势,除T6、T7处理间无显著差异外,其余处理差异显著(P<0.05);T10处理的发芽势和发芽率最低,与对照相比,分别下降了70.64%和67.86%。
表1 不同Cd浓度处理对甜高粱种子发芽及根长的影响
随着Cd胁迫浓度的增加,甜高粱发芽指数和活力指数表现出一致的变化规律,即先增加后降低,T2处理的发芽指数和活力指数均为最大,但其与CK、T1处理之间无显著差异;其余处理随Cd浓度增加表现出显著的下降趋势(P<0.05);T10处理的发芽指数和活力指数最低,与对照相比,分别下降了64.95% 和91.78%,表明活力指数比发芽指数下降得更明显。
由表1 可以看出,Cd 胁迫抑制甜高粱幼苗根和芽生长,随着Cd 胁迫浓度增加,抑制作用增强。CK、T1、T2处理的根长和芽长差异不显著,其余处理间达显著差异(P<0.05)。与对照相比,T1、T2、T3、T4、T5、T6、T7、T8、T9、T10处理的根长分别下降2.87%、4.01%、7.07%、11.27%、27.98%、46.90%、78.41%、93.98%、95.99%、97.80%,芽长分别下降1.64%、3.44%、6.06%、8.51%、22.09%、40.26%、51.06%、61.37%、72.18%、76.60%,表明Cd 胁迫对甜高粱幼苗根的抑制作用强于芽。
由图1 可知,随着Cd 浓度的增加,甜高粱种子根、芽的耐性指数均显著降低,且根耐性指数均低于芽耐性指数。其中,T8、T9、T10处理的根耐性指数分别为6.05%、4.03%、2.23%,而芽耐性指数分别为38.74%、27.82%、23.46%,说明在高浓度Cd 胁迫时,甜高粱种子根耐性指数比芽耐性指数降低得更明显,表明Cd胁迫对根的毒害作用比芽更显著。
图1 不同Cd浓度处理对甜高粱根、芽耐性指数的影响
Cd对植物种子萌发具有“低促高抑”的影响,即低浓度的Cd能提高胚的活性,促进种子萌发,而高浓度的Cd对胚、芽产生毒害,从而抑制种子萌发[10]。本试验中,低浓度的Cd 胁迫可以促进甜高粱种子的萌发,且在T2浓度时,促进作用最大,而高浓度的Cd显著抑制甜高粱种子的萌发。随着Cd 胁迫浓度的增加,甜高粱种子的发芽势、发芽率、发芽指数、活力指数均表现为先升高后降低趋势,这与周青等[11]、张珂等[12]、何俊瑜等[13]的研究结果一致。
本研究结果表明,Cd胁迫对甜高粱幼苗根长和芽长有显著影响,随Cd胁迫浓度的增加,根长和芽长受到显著抑制作用,且对根长的抑制作用明显大于芽长。这与前人在水稻[14]、玉米[12]、桑树[16]等植物上的试验结果基本一致。本研究结果还表明,甜高粱种子根、芽的耐性指数均随Cd浓度升高呈显著降低,且根耐性指数均低于芽耐性指数;高浓度时,根耐性指数比芽耐性指数降低得更明显,表明Cd对根的毒害作用比芽更显著,这可能是因为种子萌发时,根最先突破种皮吸水,使根部Cd 积累量比芽大,受Cd 胁迫时间长,故受的毒害也更深;同时,根系在Cd胁迫下产生逆境乙烯,并向地上部输导,而逆境乙烯对细胞有很强的伤害作用,且这种伤害也首先发生在根部,从而表现为根对Cd胁迫更为敏感[17]。