檀伟伟* 方艳艳
(1、北京市朝阳区特种设备检测所,北京100122 2、中科院化学研究所,北京100080)
膜分离技术,是一种集浓缩和分离于一体的高效无污染净化技术,具有维护方便、运行成本低、清洁无污染、无化学品消耗、适应性强等优点,已广泛应用于生产、医疗、食品、环境保护盒化工等领域[1-5]便于流量增加后的扩容和出水水质要求的升级变化。在国外,膜法脱氧过程虽然有商业化的应用实例,但是相关研究的文献报道较少。近年来,随着纳米材料和膜技术的发展,有机- 无机复合膜的研究开发[6,7]成为膜研究的一个热点。有机- 无机复合膜的特点在于,它兼具有机膜和无机膜各自的优点,将无机材料的刚性、耐热、化学稳定性与聚合物的柔韧性和低成本相结合,使所得膜的机械强度、空性能、尤其耐污染方面能得到显著提高。本论文是在前期对电泳沉积制备二氧化钛薄膜研究的基础上,根据有机、无机膜各自的特点,研制超疏水纳米TiO2多孔膜,并研究其成膜机理。希望通过有机无机膜的复合制得性能更好的分离膜。
SEM 扫描电子显微镜,日立S4300 型(Hitachi S4300);Bruker Tensor 27 红外光谱;VG Scientific ESCALab220i-XL X- 射线光电子能谱。
钛酸正丁酯:北京化工厂,分析纯。正丁醇:北京化工厂,分析纯。丙酮:北京化工厂,分析纯。γ- 氨丙基三乙氧基硅烷(KH550):湖北省应城市德邦化工有限公司。以上试剂均直接使用,未作进一步处理。
将20mL 钛酸四丁酯 加入到正丁醇和丙酮(体积比6:1)的混合溶剂中。电磁搅拌30 分钟。把搅拌好的溶液转移到反应釜中(密闭),设定温度220℃,反应时间4 小时,自然冷却至室温。反应液转移到烧杯中,电磁搅拌1 小时,超声分散0.5 小时。旋转蒸发至固含量为10wt%左右。
电沉积采用两电极体系,以面积为2cm×2.5cm 的导电玻璃为正极,以Pt 片为负极,两电极垂直放入上述胶体中。两电极间的距离为1cm,采用Solartron SI1287 电化学工作站为电流输出源,以CorrWare2 软件控制电流输出。沉积时间30s。
按照文献[8,9]的方法,将一定质量的硅烷偶联剂置于乙醇水溶液中(乙醇:水体积比95:5),搅拌1h,使其完全水解。将电泳沉积制备的TiO2薄膜浸入上述水解溶液中,保持30min 后取出。用无水乙醇冲洗数次得到硅烷偶联改性TiO2薄膜。
X- 射线光电子能谱(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)表征是在VG Scientific ESCALab220i-XL 型光电子能谱上进行的[10,11]。激发光源为AlKα X 射线,功率约300W。分析时的基础真空为3×10-9mbar, 电子结合能用污染的C1s(284.8eV)峰校正;
傅里叶转换红外光谱(Fourier transformed infrared spectroscopy, FTIR)用于研究硅烷偶联剂与TiO2电极之间的键合作用。所有样品制备都采用溴化钾压片的方法,在Bruker Tensor 27 红外光谱仪(DLaTGS 检测器)上进行测量,分辨率设定为4cm-1。
TiO2薄膜电极的表面形貌通过扫描电子显微镜(Scanning electron microscope,SEM)观察。扫描电子显微镜为日立S4300型(Hitachi S4300)。测试加速电压:15kV,发射电流:5μA。
利用接触角测量仪(OCA20 德国Dataphysics 公司)在室温下进行。
图1 给出了硅烷偶联剂修饰前后TiO2粉末的XPS 谱图。从TiO2及KH550-TiO2的XPS 全谱可以看到,未修饰TiO2粉末只能观测到Ti2s、O1s 及Ti2p 的结合能峰位,但经KH550 修饰之后,能谱图上多出了几个新的峰,分别归属于N1s、Si2s 和Si2p。这些新峰的存在说明KH550 已经存在于修饰后TiO2电极的表面了。
图1 硅烷偶联剂修饰前后TiO2 粉末的XPS 谱图
为了进一步证实硅烷偶联剂对TiO2的修饰,对TiO2及KH550-TiO2粉末做了IR 表征。图2 显示了TiO2及KH550-TiO2电极粉末的FTIR 谱图。从图上可以看出,经硅烷偶联剂修饰后,原本位于3400cm-1处的归属于TiO2电极表面OH 伸缩振动吸收带强度明显减弱,而相应在1654cm-1,1124cm-1处出现了新的吸收谱带,分别归属于NH 和Si-O-Ti 键的吸收谱带。IR 分析结果进一步说明了通过水解反应,KH550 已被牢固的键连在TiO2电极表面了。
图2 硅烷偶联剂修饰前后TiO2 粉末的FTIR 谱图
SEM图显示出电泳沉积制备的多孔薄膜,经过硅烷偶联化后复合膜形成,表面形貌发生变化。从图中可以看出,硅烷偶联剂很好的渗透到了TiO2纳晶多孔结构中,
图3 硅烷偶联剂修饰前后TiO2 截面扫描电镜图修饰前(a)修饰后(b)
图(a)经硅烷偶联剂表面修饰后的薄膜,接触角测试为158.5°±2.0°,表现出显著地超疏水特性。而图(b)未经修饰的表面接触角为93.7°±2.0°。这种改变与薄膜表面的自由能有关。硅烷偶联剂中的亲水性基团与二氧化钛表面的-OH 相结合,致使硅烷偶联剂中的疏水基团向外,大大降低了二氧化钛薄膜表面的自由能,因而薄膜表面的疏水性大大的提高[12]。
图4 硅烷偶联剂修饰前后TiO2 薄膜接触角测试修饰后(a)修饰前(b)
本文通过电泳沉积的方法制备了超疏水的二氧化钛薄膜,先通过电泳沉积制备粗糙的二氧化钛多孔薄膜,然后经过硅烷偶联剂修饰呈现出更好的疏水性质。这种超疏水的二氧化钛薄膜可以被设计运用于水处理领域。