数字集成电路测试技术运用

金山 陕西省电子技术研究所

数字集成电路测试技术运用

金山 陕西省电子技术研究所

集成电路测试系统主要是对半导体存储电路以及测试微处理器等电路，实施直流参数、功能测试以及交流参数等测试。而数字集成电路测试技术，是以计算机技术以及其他现代化技术为基础的一种新型测试技术。本文将以数字集成电路测试特征介绍为切入点，对该项测试技术以及技术运用方式展开全面论述，旨在提高数字集成电路测试技术水平，保证我国集成电路行业发展。

测试特征 数字集成电路 测试技术 交流测试

1 数字集成电路测试特征

1.1 可测性

数字电路主要是为了对数字逻辑系统逻辑行为功能进行实现，能够对数字电路逻辑要求进行证明，以检测基层电路介绍是否存在问题，以便对问题进行解决。若系统设计较为优秀，在理论层面上能够实现数字逻辑系统，但无法通过实验结果对其进行证明，则表明此设计存着设计漏洞，需要进行改进，这也直接证明了测试技术的重要性。从其他层面而言，通过测试，技术人员能够对数字系统状态与逻辑行为进行观察，而测试结果也应与电路逻辑结构相符合，要具被逻辑结构覆盖性与代表性。

1.2 可控性

完整新信号是系统可靠性的重要保障，而输入信号与输出信号也有着较为明显的相对性。即将完整信号作为输入信号时，便能够对系统信号反映进行预知，技术人员能够通过对数字电路的控制，对系统行为进行控制，该项技术的可控性极为明显。就数字逻辑系统而言，在可控性较为明显的数字电路中，输出信号与输入信号属于相互映射的关系，技术人员能够按照信号关系对结构逻辑进行推算。

2 数字集成电路测试技术与应用

2.1 测试技术

2．1．1 交流参数测试

这一测试主要是对器件晶体管转换时所存在的时序关系进行测试，能够对器件状态转换时间进行合理控制，确保其状态转换能够在规定时间内完成。一般会通过频率测试、有传输延迟测试以及时间测试等方式，完成该项测试工作。

2．1．2 生产测试

如果数字电路设计方案经过检验无误之后，会按此设计方案大批量投入生产，并会通过对完成调试流程的应用，对生产展开测试。由于在该阶段测试中，所有的数字电路都要经历生产测试，因此企业应注意对测试成本的控制。同时需要注意的是，测试人员应将测试机以及测试输入数尽力控制在最小范围之内，并要确保能够拥有一定水平的故障覆盖率，以保证测试质量。

2．1．3 功能测试

这一测试方式，主要是为了对数字电路设计预期以及功能进行检验。在进行具体检验过程中，测试人员会对输入端进行激励信号添加，其目的就是为了根据电路规定频率将信号添加到测试器件之中，从而获得器件输出状态，并将其与预期图形进行对比，并按照对比结果对电路功能进行判断。

就时序层面而言，功能测试手段主要分为时序电路以及组合电路矢量生成两种。其中组合电路测试生成计算方式主要由随机法、穷举法以及代数法等等；而时序电路测试主要分为建立电路模型以及运用矢量生成器与故障模拟器两种类型。测试人员要根据实际需要选择合理的测试手段，从而获得高质量功能测试图形。

2．1．4 老化测试

在经过生产测试之后，数字电路之间会出现一定差异，并且部分数字电路可能会存在不同类型以及不同程度的问题，很难被人所发觉，而其中最为典型的问题便是即使是同一型号数子电路，其使用寿命也会存在着较大的差异。为了对电路产品使用可靠性提供保证，测试人员会通过调高供电电压以及延长测试时间等老化测试方式，对每一块数字电路进行检测，并会从中挑选出不合格产品，以确保产品质量。

2.2 测试技术的应用

当对测试技术理论知识进行明确之后，技术人员需要按照测试系统，对测试技术进行有针对性的挑选，并要将其进行有机结合。本文将以某公司生产的半导体自动测试系统为例，对测试技术实际应用进行阐述。

该公司所研究的测试设备，不仅能够对半导体进行电路测试方式进行规划，同时还能对存储器、模拟信号以及混合信号等内容进行测试。该设备拥有着成本低以及性能较高等方面的优势，是以windows操作系统为基础的，智能化人机操作模式。同时因为该设备人机界面操作简单、智能，且板卡硬件构架维护性能较为良好，测试性性价比相对较高。

设备系统中的器件能够与测绘系统连接在一起，能够对芯片逻辑功能进行快速检验，而其测试编程界面属于全窗口模式，具有容易操作以及操作简单的特点。设备中的每一个测试系统，都拥有属于自己的程序开发环境与硬件配置，工程师要按照测试器件电特性以及逻辑结构，对相应的测试流程进行制定，以保证系统资源优势能够得到切实发挥，编制出更加高质的测试程序，进而为用户带来更高水平的服务。

数字集成电路测试技术是对传统测试技术的一种突破，其拥有的自动化、智能化优势，势必会在一定时间内，取代传统测试成为现代电路测试的新方向。所以技术人员还应对该项技术进行继续性研究，做好各项准备，以应对现代社会中存在的各种阻碍，为我国电路测试技术发展贡献出自己的一份力量。

[1]于维佳,秦臻,潘羽.数字集成电路系统基本构成与测试技术研究[J].无线互联科技,2015,18:39-40

[2]王博洋.探讨数字集成电路系统基本构成与测试技术分析[J].智能城市,2016,10:249