上颌窦内提升对上颌窦底黏膜的影响:基于CBCT的影像学研究

孟 岩

（新疆医科大学第一附属医院影像中心CT室 新疆 乌鲁木齐 830000）

上颌窦内提升对上颌窦底黏膜的影响:基于CBCT的影像学研究

孟 岩

（新疆医科大学第一附属医院影像中心CT室 新疆 乌鲁木齐 830000）

目的：通过CBCT影像学手段，测量和分析上颌窦内提升术对上颌窦黏膜的影响。方法：纳入因上颌后牙缺失行上颌窦内提升术的25例患者共36侧上颌窦。其中男11例，女14例，平均年龄(45.32±11.34)岁。结果：术前上颌窦底黏膜厚度0.65～3.56mm,平均(0.45±0.55)mm，术后上颌窦底黏膜厚度2.31～6.54mm，平均（3.64±1.02）mm，术后黏膜厚度较术前显著增加，差异具有显著性（P＜0.05）。结论：上颌窦内提升术可导致术后上颌窦黏膜的暂时性增厚，但未对预后产生明显影响。

上颌窦内提升；上颌窦黏膜；CBCT；影像学研究；种植体

上颌后牙区在牙缺失后由于上颌窦腔的不断气化和牙槽骨的病理和废用性吸收，而导致这一区域牙齿种植修复所需的垂直骨量不足。上颌窦提升技术的产生有效地解决了这一问题，然而，这一手术成功的关键是在植骨的同时保证上颌窦黏膜的完整。上颌窦窦壁内衬一层厚0.13～1.0mm的黏膜，该层黏膜又被称Schneiderian膜，其结构组成与其他呼吸道黏膜相似，但其厚度较鼻腔黏膜薄，血供也差。正常的上颌窦黏膜有一定的抗撕裂、抗拉能力。因此，能够耐受提升、剥离等外科手术操作[1]。然而，以往由于X线等平片影像检查手段的限制，无法对上颌窦黏膜在上颌窦提升手术的改变进行准确评价，CBCT的产生能够准确评价上颌窦的黏膜情况及术后的生理变化[2]。本研究的目的旨在通过CBCT影像学手段，分析上颌窦内提升对上颌窦黏膜的影响，以期对临床工作提供指导。

1 资料和方法

1.1 病例资料：选择2014年1月-2015年7月在新疆医科大学附属第一医院影像科就诊，因上颌后牙缺失行上颌窦内提升术的25例患者，共36侧上颌窦，其中男11例，女14例，平均年龄（45.32±11.34）岁。纳入标准：①上颌后牙缺失大于3个月；②上颌窦内无急慢性炎症；③年龄大于18岁。

1.2 影像测量：所有患者于术前、术后即刻拍摄CBCT，影像学检查采用CBCT(西诺德,德国)。CBCT扫描参数：电压85kv，电流5.0～7.0mA，扫描时间16s，扫描层厚0.1mm。将CBCT检查获得的DICOM文件导入Simplant软件，测量缺牙区上颌窦底最低点的黏膜厚度，分别在矢状面中线、冠状面中线处测量最低点黏膜厚度后取平均值[3]。术前第一次测量时记录扫描层数以确保术后测量的精确性，保证术前、术后上颌窦测量位点的一致性。

1.3 统计学分析：所有测量数据均录入SPSS18.0，计量资料采用均值±标准差表示，对于不同时期上颌窦黏膜厚度的比较采用独立样本t检验；P为双侧概率，小于0.05表示有统计学意义。

2 结果

影像学测量结果：通过对25例患者36侧上颌窦黏膜测量和观察分析后可见，术前黏膜厚度0.65～3.56mm，平均（1.45±0.55）mm，术后上颌窦黏膜厚度2.31～6.54mm，平均（3.64±1.02）mm。术后黏膜厚度较术前增加明显，差异具有显著性(P＜0.01)。见图1。

图1 上颌窦内提升术后不同时期黏膜厚度变化

3 讨论

上颌窦内提升术是通过配套的系列骨凿敲击并抬起上颌窦底部的皮质骨板，在保证上颌窦黏膜完整的情况下通过植骨材料、血液等混合产生的液压力提升上颌窦底，进而满足种植体植入所需的垂直骨高度。由于在术中无法直视上颌窦底的解剖及黏膜情况，在提升过高、敲击力量过大、窦底解剖复杂等情况下，黏膜有可能撕裂，使得植骨材料进入上颌窦内，引起上颌窦的急慢性炎症[4-5]。因此,对于术前上颌窦黏膜的健康状态需要客观地评价与风险评估。在以往的上颌窦手术中，多采用全口曲面断层片等二维影像手段测量上颌窦的窦嵴距及上颌后牙区的骨质情况，但其存在一定的放大失真率，同时容易遗漏上颌窦黏膜的病理状态，增加了术后并发症的发生几率[6]。CBCT具有较低的放射剂量，可以获得真实的上颌窦内复杂的解剖形态，如：窦底斜坡、纵膈的存在、上颌窦黏膜及上颌窦内存在的血管等。在本研究中，笔者首先通过CBCT测量25例患者术前的上颌窦底黏膜厚度，其平均厚度为（1.45±0.55）mm，最小黏膜厚度0.65mm，最大黏膜厚度3.56mm。这一测量结果接近于其他学者的CT测量结果，然而却高于尸体标本的测量，造成这种差异的原因可能是CBCT的测量误差，大多数患者缺失牙在拔除前均存在不同程度的根尖炎症导致黏膜受刺激而增厚。已经有研究表明，不健康的牙齿大多数伴有上颌窦黏膜的增厚，即使在患牙拔除后黏膜厚度仍无法恢复正常[7]。Pommer在一项研究中对20具尸体上颌窦黏膜厚度测量后发现，上颌窦平均黏膜厚度为（0.1±0.05）mm[8]。对于影像学上正常的上颌窦黏膜厚度的阈值尚存在争议，而大部分研究都将2mm作为一个参考。上颌窦黏膜的厚度存在很大的个体差异，Janner[9]通过CBCT测量143例患者的上颌窦黏膜，最小值0.2mm。而最大值达到了34.6mm。在本研究中，黏膜厚度的个体差异并不明显，这与本实验的纳入标准有关，为了降低冲压术中的黏膜穿孔风险，术前过厚的上颌窦黏膜将会转诊到耳鼻喉科行进一步治疗。

对上颌窦内提升术前、术后的上颌窦黏膜测量分析后发现，术后即刻均出现了上颌窦黏膜的肿胀，而这一肿胀并不局限于术区周围，通常表现为整个上颌窦底的肿胀。uirynen等[10]在上颌窦内提升后同样观察到黏膜一过性增厚的现象。尽管从影像学上观察到了黏膜增厚明显，本实验中，25例患者在术中鼓气实验均为阴性，且患者术后均发生鼻腔出血、上颌窦内急性感染等情况。术后黏膜增厚的具体原因尚不清楚，冲压术中黏膜与骨板的分离以及骨代用品与黏膜的直接接触可能对黏膜产生直接刺激，而这一刺激可能会导致黏膜的肿胀。CBCT上黏膜肿胀处抬起的上颌窦底皮质骨界限清晰，提示肿胀可能发生在黏膜本身而非出血所致。但这一肿胀对上颌窦内的生理功能及最终修复结果暂无明显影响。

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编辑/李阳利

Inf l uences of Internal Sinus Elevation on Sinus Membrane:CBCT Based Radiographically Evaluation

MENG Yan
(CT room in Medical Image Center, the First Afflliated Hospital of Xinjiang Medical University, Urumqi 830000, Xinjiang, China)

Objective To evaluate inf l uences of internal sinus elevation on sinus membrane by using CBCT from pre to prooperation.Methods All CBCT scans were input simplant software. The Schneiderian Membrane Thickness(MT) of the sinus floor was evaluated.Results Based on pre-surgery CBCT scans,Membrane thickness was (1.45±0.55)mm,0.65-3.56mm. On pro-surgery CBCT scans,Membrane thickness was (3.64±1.02)mm,2.31-6.54mm.The Schneiderian membrane exhibited signif l cant swelling immediately after surgery (P＜0.05).Conclusion Except postoperative transient swelling showing CBCT. Internal sinus elevation may not be affect the sinus membrane.

internal sinus fl oor elevation;sinus membrane;CBCT imaging;radiographic analysis;implant

R782.2

A

1008-6455（2017）04-0077-02

2016-12-08

2017-02-10