扁铜线“起泡”原因调查

2016-12-19 08:58杭州富通昭和线缆材料研究开发有限公司周林平
现代传输 2016年5期
关键词:铜线横断面研磨

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扁铜线“起泡”原因调查

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一 引言

根据客户的反馈,A公司生产的扁铜线表面出现了“起泡”现象(见图1-4),其中图1-2是扁铜线的正常表面,图3-4是扁铜线表面出现了“起泡”现象,而且起泡现象在扁铜线表面是连续的,故需要对“起泡”现象的出现的可能原因进行调查分析。

图1 扁铜线正常表面线x50

图2 扁铜线正常表面线x50

图3 扁铜线正常表面线x50

图4 扁铜线正常表面线x50

二 试验

为了调查扁铜线的“起泡”原因,需要截取扁铜线的横断面,进行镶样研磨处理后

进行观察。现在送样的“起泡”扁铜线上随机截取二段,进行液体树脂镶样研磨处理,在研磨过程中需要注意镶样圆柱体二端都需要研磨,直到二端都露出扁铜线金属部分(处理目的是为之后进行的SEM观察提供观察之便,有利于电子束的导通 ,排除电子集聚导致观察 模糊现象)。制备好“起泡”扁铜线的横断面试样后,分别进行徕卡显微镜和扫描电镜的观察,并进行横断面中出现 孔隙部分进行元素分析。

2.1 试验工具及试剂

尖嘴钳,镶样夹,镶样盒,环氧树脂,固化剂,脱模剂,研磨机,徕卡显微镜,扫描电镜

2.2 试验结果

2.2.1 横断面徕卡显微镜分析结果

在待测“起泡”试样上截取的二个断面,经过镶样研磨等一系列处理后在徕卡显微镜下观察,得到的写真照片见图5-8。二个断面在“起泡”表面下面都出现了孔隙。

2.2.2 孔隙周边元素分析结果

为了调查孔隙产生的原因,需要了解孔隙周围元素分布状况,是否存在铜以外的

图9 断面1x1500(正常部位点扫描元素分析)

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