X荧光光谱法测定碳酸盐型石墨中除碳外的9种主要组成元素

2016-07-05 07:14薛福林蔚志毅青海省地质测试应用中心青海西宁810008
化学工程师 2016年6期
关键词:灰分

薛福林,蔚志毅,石 华(青海省地质测试应用中心,青海西宁810008)



X荧光光谱法测定碳酸盐型石墨中除碳外的9种主要组成元素

薛福林,蔚志毅,石华
(青海省地质测试应用中心,青海西宁810008)

摘要:碳酸盐型石墨在高温分解后的灰分使用四硼酸锂+偏硼酸锂混合熔剂熔融制成玻璃熔片,采用X荧光光谱仪直接测试Si、Ca、Mn、Mg、Ti、K、Na、Al、Fe 9种成份。该分析方法具有检测范围广,精密度、准确度高的优点,适应于碳酸盐型石墨的分析。

关键词:碳酸盐型石墨;灰分;熔融法;X荧光光谱仪

石墨是一种重要的工业原料,广泛应用于石油化工、冶金、机械、电子、原子能、航天工业。石墨矿石基本分析项目为固定碳,组合分析项目除固定碳、挥发分、灰分、水分、硫酸熔铁外,还可以根据矿石多元素分析资料,增加其它有用有害元素分析。由于高纯度的石墨矿产有限,很多石墨矿含碳酸盐。而碳酸盐类的石墨矿其灰分的主要成分类似于硅酸盐的成分,采用熔融制片法制备样品,X荧光光谱仪直接测试Si、Ca、Mn、Mg、Ti、K、Na、Al、Fe元素的分析方法具有一次性分析元素多,测试范围广,精密度高,准确度高,简便快捷的特点。

1 实验部分

1.1主要仪器与试剂

日本理学ZSX PrimusⅡ型X射线荧光光谱仪(4.0kW端窗铑靶X射线管);日本理学3084A001型高频感应熔样机熔融温度900~1250℃;Pt- Au坩埚(ωPt95%+ωAu5%,底面直径Ø32mm);

复合熔剂:Li2B4O7∶LiBO2∶LiF=4.5∶1∶0.4(优级纯);硝酸铵(优级纯);LiF(优级纯);氩甲烷(Ar/CH4)混合气体混合比为9∶1。

1.2测量条件

测量条件见表1。

1.3背景校正

式中IN:扣除背景后的分析线强度;IP:分析线峰值强度;IB:分析线背景强度。

采用一点法扣背景。

本分析方法采用一点法扣背景

1.4工作曲线的绘制

1.4.1标准物质样片的制备选用水系沉积物国家一级标准样品GBW07302~GBW07318、GBW07 301a;土壤国家一级标准样品GBW07401~GBW074 08、GBW07423~GBW07430;岩石国家一级标准样品GBW07103~GBW07108等标准物质,按(1.5.2)的步骤制备成标准物质样片,测定并绘制标准曲线。

1.4.2校准与校正校正计算包括基体校正、重叠校正和内标校正。样品中共存组分会影响被测组分的浓度与其X射线强度的相关性,基体校正就是用于校正这种影响。用于基体校正(包括重叠校正)的公式如下:

式中Wi:定量值;Ii:X射线强度;Ki:常数;Ci:常数;A、B、C、D:校正曲线系数;Aij/aij:吸收增强校正系数;Qij/qij:吸收/增强校正系数(二次校正项);Rij/rij:增强校正系数;Dij/dij:吸收/增强校正系数;Bij/bij:重叠校正系数;Fj,Fk:共存元素和的分析值或射线强度。

1.4.3重叠谱线和影响元素谱线重叠干扰的校正,使用多个校准样品,由公式(2)通过线性回归求得。各分析元素的影响元素见表2。

表1 分析组分的测量条件Tab.1 Measurement conditions for elements

表2 重叠谱线和影响元素Tab.2 Overlapping spectral lines and affecting elements

1.5样品的处理与制备

1.5.1称取1.0000g碳酸盐型石墨样品放置在已经950℃恒重了的铂金坩埚中,105℃在烘箱中烘烤2h,取出在950℃的马弗炉中灰化30min。

1.5.2准确称取0.6000g±0.0002g(1.5.1)样品,6.0000g±0.0005g混合熔剂(Li2B4O7∶LiBO2∶LiF=4.5∶1∶0.4),0.5000±0.0005g硝酸铵,加LiF 20mg做脱膜剂,放入瓷坩埚中,搅拌均匀,倒入铂-金坩埚(ωPt95%+ωAu5%)内。将坩埚置于自动熔样机中,650℃下预氧化2min,升温到1150℃,摇摆及自旋,熔融10min后降温冷却制成玻璃熔片,脱模,贴上标签放入干燥器。

1.6各元素的检测范围

表3 测定范围Tab.3 Concentration ranges for elements in calibration samples

2 结果与讨论

2.1碳酸盐型石墨样品灰化实验

灰化温度选择950~1000℃,时间为30min最好。由于不同的样品其灰分的含量不同,为了得到合适的取样量,经试验单次称取1~2.0g样品能够灰化完全。

2.2仪器参数条件优化选择

为保证分析元素的仪器参数条件最佳,通过配置与分析样品基体基本一致的熔片,通过谱仪维护软件进行人工比对选择得到了理想的参数条件。

2.3熔融温度

高频熔样机熔融温度控制在1100~1200℃为最佳,为保证每次熔片的温度达到一致,在实验前必须在高频熔样机熔融两个废样后方制备试验样品。

2.4验证曲线

为验证本方法工作曲线的科学性,选择一个未参与曲线回归的国家一级标准物质按照1.5.2方法进行制样,进行5次精密度,准确度的重复测量,结果见表4。

3 结论

本实验通过高温除去碳酸盐型石墨的碳基体影响,使用四硼酸锂+偏硼酸锂混合熔剂熔融制成玻璃熔片后,直接采用X荧光光谱仪测定多元素,方法有效,简单可行。

参考文献

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Determination of 9 major components in carbonate type graphite by X fluorescence spectrometry

XUE Fu-lin,WEI Zhi-yi,SHI Hua
(Qinghai Provincial Geological Test Application Center,Xining 810008,China)

Abstract:The high-temperature decomposed ash from carbon graphite was melt to glass by lithium tetraborate+lithium metaborate. Nine elements were detected by X fluorescence spectrometer. The analytical method has the advantages of wide detection range,high precision and high accuracy,which is suitable for the analysis of carbonate type graphite.

Key words:carbonat graphite;ash;melting method;X fluorescence spectrometer

中图分类号:O657.34

文献标识码:A

DOI:10.16247/j.cnki.23-1171/tq. 20160627

收稿日期:2016- 04- 12

作者简介:薛福林(1976-),青海西宁,男,1998年毕业于西安工程学院,工业分析专业,工程师,长期从事地质样品实验测试。

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