据报道,NIST纳米科学与技术研究中心 (CNST)和韩国国家计量院 (韩国标准科学研究院,KRISS)刚刚研制出一种独特的纳米测量技术,可用于观察碳化硅基石墨烯的无序结构。
石墨烯是一种单层的、只有一个原子厚度的碳材料,从柔性显示器到高速晶体管,其应用前景非常广阔。然而,这些应用也对大面积制造方法以及潜在的、与制造相关的结构缺陷检测方法提出了新的要求。
该团队研制出一种基于局部热电势测量的新方法,利用从扫描探针针尖到样品表面的热传递,形成对石墨烯层无序纳米结构的超敏感成像。研究人员认为,根据最初的测量结果来看,这种新式扫描探针测量技术将在基于石墨烯等新兴电子材料的技术领域具有重要的应用价值。
(摘自NIST官网,编译/李莉萍)