孙永鑫,胡春秀,2,刘 东
(1.哈尔滨大电机研究所,哈尔滨 150040;2.哈尔滨理工大学 电气与电子工程学院,哈尔滨 150080)
大型电机定子线棒端部电场较高,易产生电晕和放电腐蚀现象,严重威胁机组的运行安全。为改善这种状况,线棒端部需要进行防晕处理,目的在于:使线棒端部电场分布均匀,使线棒在电晕试验时不产生电晕,在耐电压试验时不放电、表面不过热,在运行时定子绕组端部相间不起晕、不放电[1]。随着电机额定电压及容量的提高,防晕结构变得复杂,防晕设计难度增大[2]。如何通过合理的计算方法辅助防晕设计,是绝缘技术领域亟待深入研究的问题。
传统上采用阻容链方法进行防晕层电场分布的计算[3,4]。典型的多段防晕层阻容链电路结构如图1所示。其中:C1为主绝缘体积电容;C2为主绝缘表面电容;C3为附加绝缘的表面电容;Ri为第i段防晕层的表面电阻。引线接交流高压,定子铁心接地,防晕搭接处用双层电阻表示。由于防晕层的非线性特性和电路的复杂性,模型的计算较为困难。通常将模型简化为多组非线性常微分方程,使用相应的数值方法进行求解。已有的研究包括二分法、龙格-库塔法[5]和有限差分法[6]等。这类方法建模简单、求解快速,无需考虑空间电场状态。缺点在于:无法进行三维建模,不能对转角、窄边等处的电场情况进行定位分析;模型基于求解常微分方程,程序不易拓展。由于这些原因,限制了阻容链计算方法的应用。
图1 典型的多段阻容链结构
近期,随着工程应用的需要,电机端部电场研究成为国内外研究热点,有限元方法也逐渐应用于这一领域[7,8]。这些模型中,线棒端部被分为三个区域:主绝缘区、防晕区和外部空气区,如图2所示。由于防晕区与空气区交界面的电场是待求量,建模时的外部空气区通常不能省略[9]。这就产生了一些问题:⑴空气区中远离防晕区的边界(图2中的上边界)为接地条件,为不影响电场计算,须保证此边界与防晕层的距离足够远。这就使空气区域的高度要大于主绝缘厚度的几倍甚至十几倍,建模体积骤增,求解效率将大大降低。⑵同主绝缘厚度与空气区域高度相比,防晕区的厚度很小,网格剖分后,防晕区域的网格很小,网格数量较多,致使防晕区附近的网格增长率增大,网格质量下降。⑶传统有限元方法中,防晕层为体积单元,须将常规测量值表面电阻率转化为体积电阻率,才能带入模型进行设定。然而,表面电阻率与体积电阻率的产生机理是不同的,与场强的关系也各异,这种单位转换势必影响求解准确性。
图2 传统有限元方法的几何结构
通过在防晕层边界设定电场控制方程,能够有效结合阻容链方法和有限元方法的优点,建立不含空气区的有限元模型。该方法求解效率高、求解精度好,并能够对三维电场及热场进行定位分析,满足线棒端部电场设计的工程需要。
碳化硅材料的非线性,是指防晕材料的表面电阻率与防晕层切向电场呈反向变化,关系式为[10]
式中:0ρ为防晕层的固有电阻率,Ω;0β为防晕层的非线性系数,m/V;Et为防晕层的切向电场强度,V/m。
0ρ为未加电场时的电阻率,也是最大电阻率。碳化硅材料在低电场下,由于空间电荷限制电流效应,电阻率较大,接近0ρ。由于隧道效应,当电场增大到一定程度后,电阻率将迅速减小[11]。非线性防晕层很薄,切向电场对其阻值的影响是决定性的,而法向电场的作用很小,所以建模时无需考虑外部空气区,直接在防晕边界建立控制方程:
式中:σs为防晕层的表面电导率(ρs的倒数),S;ε0为真空介电常数,F/m;εrs为表面相对介电常数;Us为表面电位,V;J为电流密度,A/m2。
线棒端部防晕处理后,在外部通常包扎几层云母带,称为附加绝缘。附加绝缘不但可以保护防晕层,改善端部电场[12],而且其耐电弧、耐电晕的能力也远好于半导体层。式(2)括号中的第二项为附加绝缘影响项,表面相对介电常数与相对介电常数的关系为
式中:εr为相对介电常数;d为附加绝缘的厚度。附加绝缘覆盖在半导体防晕层表面,起到了一定的电容分流的作用。由式(2)、式(3)可知,附加绝缘的介电常数越大,厚度越大,则分流作用越大,改善电场的效果越明显。但附加绝缘过厚,将占用主绝缘尺寸,使端部尺寸增大,减小斜边间隙。附加绝缘对于防晕电场的影响,本文不做进一步探讨。
在交流电压作用下,主绝缘区控制方程为准静态时谐电场控制方程:
式中:σv为主绝缘的体积电导率,S/m;U为电位,V。
比较式(2)与式(4),两者形式相似,但含义却不同。首先是梯度和散度算符的意义不同,前者只针对边界切向方向,后者针对整个求解域;其次是电导率与介电常数的含义和对象不同,前者为半导体层的表面电导率和附加绝缘的表面介电常数,后者为主绝缘的体积电导率及其介电常数;最后是两者的源项不同,后者为拉普拉斯方程形式,源项为零,而前者的源项为法向电流密度,通过此源项,防晕层与主绝缘的电场得以耦合。
在线棒端部电场计算中,防晕层表面损耗为温升产生的热源,损耗密度公式为
以某大型发电机定子线棒为仿真对象,建立端部三维几何模型见图3。该线棒端部包含三段非线性防晕层:中阻层、中高阻层和高阻层。线棒截面为矩形,中阻区域有50°转角,中高阻和高阻区域均为直线,曲线a、b分别为转角外侧棱线和转角内侧棱线。防晕层材料参数见表1,边界条件见表2。
图3 定子线棒端部几何模型
表1 防晕层材料参数
表2 模型边界条件
2.2.1 电位及电场分布
图3为1~3UN下,防晕区域转角内、外侧(图3中曲线a、b)的电位分布曲线。转角内侧的尺寸小于外侧,所以电位上升位置更靠近防晕始端。额定电压下,电压最高值出现在整个防晕区中部,随着额定电压的升高,最高电压向防晕末端移动。为保证防晕区域能经受多倍额定电压的考验,防晕带的阻值通常按3倍或更高的额定电压来计算,所以要偏高一些。在表面电位测量试验中,电位变化的趋势通常包括升高、凸起、稳定三个阶段,计算与试验的趋势一致。
图4 不同电压下电位分布
不同额定电压下的防晕区场强分布见图5。额定电压下,最大场强出现在中阻和中高阻交界处,而在中高阻与高阻交界处的场强较小,原因是额定电压下此处电位分布较为平缓。在高倍额定电压情况下,最大场强出现在中高阻和高阻交界处,场强也随电压的升高向高阻区移动。由于防晕材料的非线性特性,最大场强的增幅要小于电压的增幅。从图5可以看出,从2UN到3UN,电压增加50%,而最大场强仅增加33%。
图5 不同电压下电场分布
2.2.2 损耗密度分布
在耐压及电老化时,防晕层常因产生的高温而受到破坏。防晕层的表面温度与其损耗密度密切相关,图6显示了不同额定电压下转角内外侧的表面损耗密度。转角内侧的表面损耗密度较大,为转角外侧的 2倍甚至数倍。由于槽口处的表面电流较大,在防晕前段的损耗密度较高,最高值一般出现在中低阻交界处。电场对损耗密度的影响明显,损耗密度的增幅较大,约为电压增幅的2倍多。从图6可以看出,从1UN到2UN,电压增加 100%,而最大损耗密度增加 275%;从2UN到3UN,电压增加50%,而最大损耗密度增加121%。
图6 不同电压下的表面损耗密度分布
在转角附近,相同截面上各点的损耗密度是不同的,甚至差别很大。图7显示了3UN下转角附近的损耗密度云图,最大值出现在中低阻交界面的转角内侧棱线附近。图8为某线棒在3倍电老化试验中出现局部烧伤现象,部位正在转角内侧棱角处。烧损部分位于窄边而不在宽边的原因,可能是由于在高温条件下,上表面比侧面的空气对流散热作用更为显著。
图7 3UN下防晕层损耗密度云图
图8 线棒在电老化试验中的热损伤
通常采用静电电压表法和补偿法进行表面电位测量。静电电压表法测量中,由于电极间电容及裸铜线杂散电容等的影响,测量结果偏低,误差较大,甚至达到35%以上[12]。相位补偿法测量较为精确,缺点是使用设备多(要两台高压变压器,一台移位器等),操作较为繁琐,误差因素较多。为了验证本文计算方法,根据文献[4]编制了阻容链方法的计算程序,并与本文有限元计算方法进行了比较,结果见图9。
图9 两种计算方法的比较
两种计算方法的电位分布趋势一致,差别很小,场强各极值点基本吻合。本文方法与阻容链方法相比,最大场强仅相差1.81%,说明本文的有限元方法的计算结果正确,可满足工程上对防晕设计的要求。
(1)建立了不包含空气区域的线棒端部防晕层电场分布的有限元模型,大幅提高了求解效率和准确率,可对三维电场及热场分布进行定位分析,为进一步防晕优化设计的分析提供基础。
(2)随着电压升高,由于高阻层的分压作用加强,端部防晕层的表面电位、场强和表面损耗密度峰值分布均出现向防晕末端移动现象。
(3)对于防晕覆盖线棒转角的结构,转角内侧的损耗密度明显大于外侧,最大值一般出现在中低阻交界面的内侧棱角处。
(4)通过电老化试验和阻容链方法对比,对本文防晕层电场分布的有限元方法进行了试验及理论验证,说明了此方法的正确性。本文方法还对存在表面电阻率的有限元电场计算提供了求解思路。
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