杨茜
摘要:半导体技术的发展需要以半导体材料作为支撑,而在不断的发展过程中,半导体材料先后经过了多次演变,当前被广泛应用的是第三代半导体材料,其典型代表包括氮化镓(GaNg)、氧化锌(ZnO)、金刚石以及碳化硅(SiC),相比较前两代材料,第三代半导体材料的禁带宽度更大、导热率更高、抗辐射能力更强,能够实现更好地电子浓度以及运动控制。本文以SiC为例,对其晶体生长设备技术及研究进展进行了分析和讨论。
关键词:第三代半导体材料;SiC;晶体生长设备;技术
前言:半导体材料发展过程中,先后经历了以硅(Si)为代表的第一代,以砷化镓(GaAs)为代表的第二代以及以碳化硅(SiC)为代表的第三代,对比第一代和第二代半导体材料,第三代半导体材料SiC的性能更加优越,应用领域更广、产业关联性更大,被广泛的应用在移动通信、智能电网、太阳能、新能源汽车等领域,对于社会经济的稳定健康发展有着非常积极的作用。
1 SiC晶体的特性
SiC本身是由石英砂、煤焦、木屑等在电阻炉内高温冶炼得到,是一种无机物,自然界中同样存在。SiC具有稳定的化学性能,导热系数高,热膨胀系数小,可以制作高级耐火材料,耐热性好,强度高且自重轻,有着良好的节能效果。低品级SiC(SiC含量85%左右)具备良好的脱氧性,可以加快炼钢的速度,方便对钢材的化学成分进行控制,促进其质量的提高平。不仅如此,SiC还可以被应用到电热元件硅碳棒的制作中。
SiC的应用领域体现在几个方面:分别是功能陶瓷、高级耐火材料、磨料、冶金材料,当前,SiC粗料已经得到了大量供应,但是其本身并不属于高新技术产品,技术含量较高的纳米级SiC粉体在短时间内,依然无法实现规模化生产。以“三耐”材料为例,凭着SiC本身耐腐蚀、耐高温和抗冲击等特性,可以用于冶炼炉衬以及碳化硅板、衬板等,也可以用于有色金属冶炼中的高温间接加热材料,如竖罐蒸馏炉、精馏炉塔盘、铝电解槽等
在对SiC晶体进行制备的过程中,可以采用的方法包括高温化学气象沉积法、物理气象输运法以及液相法等,其中最为常见的是物理气象输运法,其基本原理,是利用中频感应圈,对高密度的石墨发热体进行加热,石墨坩埚底部填充碳化硅原料,相隔一定距离设置碳化硅籽晶,整体放入石墨发热体中,通过外部石墨毡来对温度进行调节看主机hi,确保氧化硅原料能够处于高温区,碳化硅籽晶则处于低温区。通过这样的方式,碳化硅原料在分解后形成的气相组分会向低温区输送,围绕碳化硅籽晶逐渐生长成为碳化硅晶体。
2 SiC晶体生长设备技术
SiC晶体生长设备要求能够满足“改进升华法”(见图1)的技术要求,将外延生长的工艺需求考虑在内。
SiC晶体生长对于很多条件都有着严苛的要求,最为核心的工艺参数包括隔热性强、密封性好以及工作温度高(2000-2500℃)等,加热设备需要选择中频电源感应加热,提升温度控制的效果,同时选择高温密封和高效冷却系统,在整个晶体生长过程中,都必修切实做好加热温度的测量和控制。
SiC晶体生长设备包含了多个子系统,分别是SiC晶体生长室、坩埚加热、温度控制、真空测量、气体供给与过滤、籽晶杆运动及控制以及水冷系统。
3 SiC晶体生长设备技术进展
3.1国际进展
作为第三代半导体材料的典型代表,SiC晶体生长设备技术在很多国家都得到了足够的重视,研究处于国际前列同时形成一定生产规模的包括德国的SiCrystal公司、美国的Dow Corning公司、日本的Nippon Steel公司等,其产品以LED、微波器件、电力电子器件等为主。不过,这些公司从保护自身技术的角度,并没有面向市场提供相应的SiC晶体生长设备,在可以查阅到的公开文献中,很难看到相关报道,而向市场提供SiC晶体生长设备的厂商主要是德国AIXTRON 公司、PVA Tepla公司、Linn公司和美国的GTAT公司等。
不过,国外生产的设备普遍存在着价格偏高的问题,而且设备生产商本身并不会针对SiC晶体生长工艺进行研究,同时SiC晶体生长工艺对于设备又有着极强的依赖性,设备生长工艺参数会直接影响SiC晶体的质量。基于此,即便引入了国外先进的设备,依然需要加强对于SiC晶体生长工艺的自主研究,这样才能得到高质量的SiC晶体材料。
3.2国内进展
我国从20世纪60年代开始,就已经借助物理气象输运法尝试进行SiC晶体生长实验,但是实验成果并不理想,无法得到高质量大尺寸的SiC晶体。1996年,国家在“863”计划中纳入了SiC晶体生长项目,2000年国家自然科学基金也提供了相应的经费支持,推动了相关研究的快速发展。就目前而言,我国很多单位在SiC晶体生长研究以及产业化方面都取得了显著成果,以山东大学晶体材料国家重点实验室为例,在从国外引进先进SiC晶体生长设备的基础上,又自主研发了相应的SiC晶体生长炉,经过十数年的研究,于2011年,实现了SiC晶体重大项目的产业化发展。現如今,山东大学晶体材料实验室已经可以利用自主研发的SiC晶体生长炉,得到2英寸、3英寸和4英寸的导电型及半绝缘型晶体,生产出的SiC晶体在市场上进入了批量销售的阶段。
中科院物理研究所同样从1999年就已经开始了对于SiC晶体生长技术的研究,开发出了SiC晶体生长炉,并于2006年和天富热电合作,成立了北京天科合达蓝光半导体有限公司,开始了产业化探索的脚步,借助自主研发设备,生产出了2英寸SiC单晶衬底,实现了产业化,之后相继研发成功了3英寸和4英寸的SiC单晶衬底,同样进入到了批量销售阶段。2014年底,中科院物理研究所的研究人员与北京天达公司达成协议,借助自主研发的SiC晶体生长炉,完成了对于6英寸SiC晶体的加工。SiC晶体生长炉的核心技术参数如下:
炉内真空度:在极限条件下,SiC晶体生长炉内部的真空度最高可以达到6.6×10-4Pa;
系统漏率:在停泵关机时间超过12h的情况下,炉内的真空度在10Pa以下;
系统抽速:开机60min以内,真空度不超过2×10-3Pa;
炉体快提拉速度连续升降可调:超过50mm/min(含);
坩埚快提拉速度连续升降可调:超过50mm/min(含);
坩埚转速:0-30r/min;
温度测量控制范围:1000℃-2600℃;
温度控制精度范围:±1℃。
另外,西安理工大学、中科院上海硅酸盐研究所以及中国电子集团等单位也在不断进行SiC晶体生长设备的自主研发,对于相关技术的研究从未停止,中科院上海硅酸盐研究所研发出的SiC晶体生长设备在配合50.8mm和76.2mm直径的SiC单晶生长技术的情况下,成功生产出了100mm直径的4H型SiC单晶。
针对我国多家研究机构自主研究的SiC晶体生长设备以及得到了SiC单晶产品进行分析,其在尺寸、质量等方面,相比较国际先进水平依然存在有不小的差距,以全球SiC晶体龙头企业Gree公司为例,其本身在国际SiC基片市场中,占据了较高份额,而结合该公司在“ICSCRM 2013”国际SiC学会上发布的内容分析,截止2013年,使用6英寸產品功率元件的微管密度通常单个体积在1cm2以下,平均水平可以达到0.5cm2,最佳状态甚至能够达到0.01cm2,而我国的产品最佳状态只能达到0.19cm2。
结语
总而言之,伴随着半导体技术的快速发展,对于半导体材料的研究也受到了相关部门的重视。从技术层面分析,我国在宽带半导体技术领域,距离国际领先水平依然存在一定差距,分析原因,一方面是因为我国在相关技术方面额研究起步较晚,另一方面则是国外掌握高端技术的企业禁止设备和技术外销。面对第三代半导体材料发展中存在的各种问题,科研机构需要进一步加强对于SiC晶体生长技术及设备的研究,注重设备的自主研发工作,将SiC晶体生长工艺与生长设备紧密结合起来,推动技术的完善和设备的优化,逐步实现SiC晶体生产的产业化发展。
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