华东光电集成器件研究所 张舒婷 王浚宇
自1990年代以来,出现了以GaN,ZnO和SiC为代表的新一代宽带隙半导体材料。这些材料在紫外光电探测器,大功率器件,短波长发光二极管和大功率激光器中具有优异的性能,具有良好的发展前景。ZnO具有紫外线激发发射的性质,使其很快成为继GaN之后具有更好性能的半导体材料。ZnO是具有纤锌矿结构的宽带隙直接带隙半导体材料。禁止的带宽约为3.37eV。ZnO在室温下具有高的激子结合能(60meV),熔点为1975℃,压电常数为11.9Pm/V。ZnO具有优异的光学性能,电性能,压电性能,化学稳定性和热稳定性,它适用于紫外线检测器,发光二极管,压敏电阻和表面声波设备。ZnO材料已经成为最有前途的新型功能材料之一。
ZnO薄膜的发光特性一直是材料科学家关注的热点。该特征使得ZnO可用于大规模制备短波长发光二极管。在将Mg引入ZnO膜中之后,可以改变材料的带隙宽度,并且可以通过改变引入的杂质元素的百分比来调节ZnO膜材料的带隙。带隙调整范围在3.4eV至4.2eV之间。
近年来,ZnO材料在电学、磁学等方面取得了巨大的研究进展,人们对ZnO薄膜材料发光特性的研究也取得了进步。采用多种方法都能够制出具有优异发光性能的ZnO基薄膜,但掺杂对ZnO薄膜光学性能的影响却鲜有报道。介绍了宽禁带半导体ZnO薄膜的制备工艺,并且综述了国内外掺杂元素、掺杂浓度的不同对ZnO薄膜禁带宽度、光学性能等方面的影响。最后,对掺杂ZnO薄膜应用和今后的发展方向进行了展望。
ZnO薄膜的制备方法可大致分为物理方法和化学方法,根据需求不同,可以选择不同的制备方法。
溅射法:在衬底上淀积成膜的前提下,使带电粒子轰击靶材,导致材料粒子团被激射出来。该方法对真空度的要求很高,还需要合适的溅射功率和衬底温度。
脉冲激光沉积法:在超高真空(背景压力10-8Pa)系统中,受激准分子激光器产生的高功率脉冲激光束聚焦在目标表面上,从而使目标材料瞬间升华和离解,并且高温高压产生等离子温度(T≥104K)。等离子局部取向并膨胀以发射并冷却,以沉积在基板上以形成膜。该方法需要更高的基板温度和反应气氛。
原子层外延生长法:将参与反应的蒸汽源(Zn源和氧化物气体)依次引入生长室,以使它们在基底表面交替吸附并反应,从而沉积薄膜。在将两个反应源引入生长室之后,在气态反应源和表面官能团之间发生反应。每次反应后,都会生成一个新的官能团,并将挥发性分子解吸并泵送出去。当表面完全更改为新的组时,反应会自动停止。在完成这两个步骤之后,将生长薄膜。
PECVD法:通常,有机锌和稳定的含氧气体(如NO2,CO2或N2O等)用于反应沉积。影响薄膜质量的主要因素是基板温度,反应压力和等离子体电离电压。
MOCVD法:金属有机化学气相沉积是生长异质薄膜的常用方法。使用此方法沉积ZnO膜。常用的锌源是DMZ,DEZ和丙酮丙酮锌。反应气体主要是O2,H2O+O2,D2O。当将DMZ用作锌源时,反应相对剧烈,ZnO膜的生长更快,难以控制,并且所得膜包含更多的碳杂质,因此经常使用DEZ。
Sol-gel法:可溶性盐用作前体,并且在催化剂的作用下将其溶解在有机溶剂中以形成前体溶液,并将该前体溶液旋涂在基板上并在热处理后固化以形成膜。溶质,溶剂和稳定剂的选择和用量将直接影响ZnO膜形成的质量和工艺的复杂性。溶胶-凝胶法的生产成本低,工艺简单并且膜的组成易于控制,并且所得到的ZnO膜与基材的粘附性强。
2014年,梁鸣用超声喷雾热解(USP)方法制备了Na-Mg共掺杂的ZnO薄膜,明显观察到很强的紫色发光峰。紫色发光峰的强度比纯ZnO膜强近7倍,这足以证明Na+浓度为0.02具有相对优异的光学性能。最佳结论条件是,当Na+浓度为0.02,基材温度为500℃,喷嘴到基材的距离为5cm,氧气流速为1.8L/min时,Na-Mg共掺杂ZnO薄膜是最佳的。
2016年,张彩珍等人利用溶胶-凝胶旋转涂膜法在耐热玻璃衬底上制备了膜厚约为300nm的Na/Mg共掺ZnO薄膜具有优良的结构特性及透光特性,在可见光范围内平均透光率(T)可达75%~80%。室温下,在波长为380nm左右处存在一个窄而强的近紫外发光峰,说明此薄膜中缺陷很少,薄膜结晶质量很好,是很好的紫外发光材料。
2017年,王玉新等人采用超声喷雾热解法,在不同的衬底温度(480~560℃)下制备Na-Mg共掺杂ZnO薄膜。当石英玻璃衬底温度为500℃时制备的Na-Mg共掺杂ZnO薄膜的c轴择优取向最明显,表面形态更致密,晶体质量最好,PL性能最好。UV发射峰在375nm波长附近,绿色发射带在525nm波长附近,半高宽仅为10nm左右。
2017年,刘子伟等人在玻璃基底上制备的Na0.02Mg0.2Zn0.78O复合薄膜结晶质量良好,且光学性能优异,PL光谱只有一个高强度的紫光发射峰。与本征ZnO相比,紫外线发射峰的强度显着增强,表明复合膜具有更好的紫外线发射性能,发射峰具有蓝移现象,并且发射峰的FWHM发生变化。其窄,并且紫外线发射峰的强度增加了约2-6倍,这表明在将Na和Mg一起引入膜中之后,合金膜的结晶质量得到改善。
2019年,王艳等人利用溶胶-凝胶旋涂工艺在玻璃基底上生长了NaxMg0.2Zn0.8-xO(x=0.02、0.04、0.06)复合薄膜和本征ZnO薄膜。结果表明:引入Na元素和Mg元素可有效提高薄膜的结晶质量,随着Na掺杂量的增加,薄膜的晶粒尺寸逐渐增大,x=0.06时,薄膜平均晶粒尺寸相对最大,达到43.9nm。由扫描电镜结果可知,x=0.02时薄膜晶粒较为致密,而当x=0.06时,出现若干较大白色晶粒,可能是过量的Na元素以NaCl的形式析出所致。PL谱分析可知,样品主要有两个发射峰,一个是在约370nm处的强紫外线发射峰。另一个是500nm附近的绿光峰。
对于n型的ZnO薄膜,通过掺杂可改变禁带宽度。常见的掺杂元素包括Ⅲ族元素B、Al、Ga和In;Ⅳ族元素Si、Ti、Ge、Zr、Sn、Hf和Pb;稀土元素La、Pr以及Li。ZnO中掺Al的相关研究比较充分。掺Al的薄膜(AZO)禁带宽度显著增大,可达4.54±0.05eV。
2001年,美国密苏里州立大学的Ryu等人首次使用脉冲激光烧蚀通过在(001)平面GaAs衬底上进行砷掺杂获得p型ZnO。薄膜中As受体的浓度随退火温度和时间的不同在1017cm-3至1021cm-3之间变化。紧密结合的激子带的发射峰分别位于3.36eV和3.32eV。
2003年,PBhattachsrcha等。用PLD法制备了多层ZnO/MgO膜。带隙宽度随着Mg掺杂量的变化而变化,并且还随着基板沉积温度而变化。带隙可以扩大到6eV。与ZnMgO合金相反,ZnCdO合金的带隙变窄,从而增加了ZnO系列合金的波长覆盖率。例如,在ZnO中添加Mg可以形成MgxZn1-xO合金,控制ZnO中的Mg含量可以有效地调节MgxZn1-xO合金的带隙宽度。据报道MgxZn1-xO合金的带隙宽度可以在3.3至7.9eV之间变化。
2004年,FKShan等人。通过掺入Mg元素,获得了良好的近紫外发光峰。这使得MgxZn1-xO合金在紫外波段光电器件中显示出更广阔的应用前景。
2007年,Z.Q.Ma等人采用溶胶-凝胶法在玻璃衬底上制备了导电透明的Na-Mg共掺ZnO薄膜。膜厚度的增加导致晶粒尺寸的增加。在最佳沉积条件下制备的薄膜厚度为0.25μm,然后在真空中退火处理,其电阻率为102Ω·cm,具有p型导电性。
2014年,R.Vettumperumal等人采用溶胶-凝胶旋涂法在不同退火温度下,在玻璃衬底上制备Na掺杂和Na-Mg共掺杂ZnO薄膜观察到,在3.24eV附近的强近带边发射由于自由载流子的带填充而发生蓝移。在370nm处观察到基本吸收边,相对于ZnO光学带隙减小。
2017年,Azzez等人以硝酸锌和硝酸镁为前驱物和掺杂剂,采用简单的水热法成功地将单晶掺镁ZnO纳米棒(NR)沉积到ZnO晶种硅衬底上。在150℃的沉积温度下,获得了具有高密度的单向锥形锥体Mg掺杂ZnONRs,有利于发光二极管(LED)的应用。正向偏压下的电致发光(EL)光谱表明,二极管发射一个中心波长为382nm的独特的紫外光。
2017年,Verma等人采用溶胶-凝胶旋涂法制备了纯Mg和Mg掺杂的ZnO薄膜。在Mg掺杂后的吸收边间隙呈现蓝移。已经观察到,随着Mg掺杂的增加,所制备的薄膜的带隙增大。
2018年,Kumar等人由丝网印刷的ZnO薄膜获得显性的绿色光致发光,得到15倍于At%的Mg掺杂,比紫外光发射强5.4倍,感光度得到提高了近三倍,达到71.68。单独的连续379nm~371nm吸收峰蓝移。
2018年,Akcan等人采用溶胶-凝胶浸涂系统在玻璃衬底上制备了掺Na的ZnO薄膜,采用溶胶-凝胶浸涂技术成功地制备了0.01、0.02、0.03、0.04和0.05薄膜。XRD分析表明,沉积的ZnNaO薄膜具有单纤锌矿相,具有c面(002)取向,在x=0.01时,Na浓度下具有较高的择优c轴取向和较好的晶体质量。对ZnNaO薄膜的晶粒尺寸进行了计算,发现晶粒尺寸在33.43nm~35.35nm之间。Na掺杂ZnO的晶粒尺寸随Na浓度的增加而增大。ZnNaO薄膜的透光率在82%以上。Na掺杂ZnO薄膜的光学带隙值在x>0.03浓度时从3.275eV下降到3.268eV。
掺杂ZnO薄膜作为当下光学应用最为广泛的材料之一,具有广阔的研究前景。本次研究为今后光学薄膜的性能研究奠定了良好的理论基础,同样在未来也回应用于人工智能领域。