2021年微电子计量测试技术交流会征文通知

一、会议主题

微电子技术是当代技术革命的先导与核心，微电子技术的发展，离不开微电子计量与测试技术的保障。一方面，微电子器件的高速发展及高端测试系统的广泛应用，给微电子器件参数的计量与测试带来了极大的挑战。另一方面，微电子器件国产化是我国国家发展战略，国家集成电路产业迅速发展，是我国高质量发展的重要保障，也带来了国产化器件参数的计量与测试新问题、新挑战。

为加强国内外学术界与工业界的交流与沟通，深入解析微电子计量与测试的国际化发展趋势，促进微电子器件国产化高质量发展，拟定于2021 年4 月在武汉召开“2021 年微电子计量测试技术交流会”，欢迎相关领域的专家、学者和研究工作者踊跃投稿。

本次会议的主题是“保障微电子器件国产化高质量发展”，希望本次会议能为国内外从事微电子计量与测试相关行业的专家、学者建立一个交流、研讨的平台，通过这个平台来展示和交流国内内微电子计量与测试领域的最新成果、标准和产品，分享微电子器件国产化带来的计量测试新需求、新成果，促进我国微电子计量与测试技术的发展，保障我国微电子器件国产化高质量发展。

二、征文范围（包括但不限于以下内容）

微电子计量：·微电子计量校准技术·集成电路制造/测试/试验设备计量技术·特殊环境下微电子计量测试技术·信息域计量测试技术·综合电子信息系统计量测试技术元器件测试：·集成电路测试与验证技术·元器件老炼中测试技术元器件可靠性：·元器件可靠性分析与提升技术·元器件失效分析技术·元器件可靠性试验与评价技术·环境试验/应力筛选试验技术实验室体系：·计量综合管理·实验室体系管理

三、投稿与出版

1.投稿论文不得涉及国家秘密，请投稿前完成脱密处理。

2.论文不超过5000字，论文题目、作者单位、摘要和关键词应中英文对照；参考文献不少于10篇，中文参考文献应附英文翻译；稿件后请附作者简介，并提供第一作者的联系电话和E-mail 地址（论文格式详见附件一，电子版可访问www.709journal.com下载）。

3.请将投稿论文word电子版本发送到电子邮箱（E-mail：cmmt709@163.com）。

4.会议优录的论文将在《计算机与数字工程》期刊正式发表（中国科技核心期刊）。

四、重要日期

投稿截止时间：2020年10月31日；

论文录用通知：2021年1月31日；

会议召开日期：2021年4月。

五、组织机构

主办单位：国防科技工业微电子一级计量站（中国船舶重工集团公司第七〇九研究所）北京航空航天大学可靠性工程研究所

协办单位：《计算机与数字工程》编辑部

六、联系方式

联 系 人：刘 倩027-81569210/13476020254

周 红027-87534410/13971447132

传 真：027-81569333

投稿邮箱：cmmt709@163.com

通信地址：武汉市藏龙岛开发区藏龙大道709号

邮 编：430205