张正涛 何玮琪
摘 要:在食品安全、环境监测、生化分析以及疾病诊断等领域,微粒分离发挥着非常重要的作用。而其中,针对微流控芯片采用介电泳分离技术,与色谱分析法、离心法以及荧光筛选法等传统技术相比,以容易集成、消耗样片量少、较短时间分析等优势,在微粒分离方面,已成为新兴手段。
关键词:微粒分离;3D电极;微流控芯片
常规情况下的介电泳分离,因电极与PDMS结构难以实现封装,介电泳技术将芯片分离的集成化发展也因此受阻。针对此,笔者在易于封装的新型电极的基础上,简单对介电泳分离微粒的原理作了分析,并在3D微电极阵列的基础上架构了微粒的分离系统。
1 在微流控分离的芯片中如何进行微粒分离
1.1 基于微粒尺寸进行分离
如图1所示,假设浅色和深色的微粒半径不同,浅色半径稍大。首先,不同微粒的混合液从A支路进入主通道,缓冲液从支路B进入。由于主通道内悬浮液流速小于缓冲液流速,浅色与深色的微粒在主通道内便在缓冲液的压迫下移向通道的下侧。电极上无电信号,微粒便随混合液从D支路流出;有电信号时,三维交流电场会在主通道内产生,微粒进入电场后,在负介电泳力的影响下,粒子便会偏转,且偏转方向靠近y轴正方向。由于该力强度与微粒体积大小成正比,因此浅色微粒受力更大、偏转更明显。当偏转使其移动进入上半部分层流,微粒会从C支路流出;深色的颗粒因体积较小,仍然在下半部分层流,便从D流出。这样,分离便得以实现。
1.2 依据颗粒介电性质进行分离
假设图中深色粒子受正介电泳作用,浅色粒子受负介电泳作用。当无电信号时,二者均从D支路流出;但是,当有电信号时,浅色粒子因负介电泳力的影响远离电极,深色则靠近电极。电信号达到一定强度时,C支路会流出浅色粒子,此时,深色粒子有两种可能性:从D支路流出,或被吸到电极上。若是后者,电信号被去掉后仍然会从D流出,对分离没有任何影响。
2 针对微粒分离微流控芯片的设计
据微粒的分离原理,不同粒子在不均匀电场中所受介电泳力不同,运动轨迹也因此不同,从而实现粒子的分离。因此,设计微流控芯片,要力求以下几点:分离过程连续;非均匀电场中通道的方向和高度统一;密封良好不致流体泄露;便于观察。
基于上述条件,一种3D电极的、结构有三层的分離芯片应运而生。其电极为AgPDMS导电材料,其中,顶层为PDMS通道,中间层为3D电极,底层为ITO基底层。芯片整体长90毫米,宽60毫米。主通道通过支路与4个溶液池相连,溶液池的圆孔直径7毫米。主通道侧壁有3D电极,其高度等同于通道的高度,这可以有效地保证在通道的方向上、高度上,电场一致。
该芯片的结构中,ITO玻璃在经过刻蚀后,形成基底层。ITO玻璃,表面沉积着氧化铟锡,氧化铟锡会受刻蚀剂作用溶解。在光刻技术的处理下,ITO被刻蚀形成导线,对3D电极与外部信号源进行连接。中间层即3D电极层,其底端和ITO导线连接,将ITO导线传递的电信号在接受后施加于主通道,使主通道内部有不均匀电场形成。为确保分离芯片有足够好的密封度,3D电极的侧面及顶端,都和PDMS完美键合。
3 制作和封装微粒分离芯片
不同于传统的、在二维电极下进行的微流控芯片的加工,该芯片在加工时,各层芯片的连接和制作三维电极是保证其符合设计要求的重要因素。加工时,ITO导线的制作、3D电极的制作以及PDMS通道的制作,要经历三次光刻,每次光刻使用不同掩膜。为保证每层中元件位置,每次进行加工,务必将掩膜对准。掩膜对准的程度与芯片质量密切相关,为确保每层间连接良好,采用了化学键合、热键合两种方式进行连接。在PDMS通道与基底和3D电极的键合中,使用化学键合;在ITO导线和3D电极的键合中,应用热键合。
分离芯片有着如下加工流程:加工ITO基底层;制备3D电极;制作PDMS通道和每层的对准、装配。
该芯片封装前,主要包括有3D电极的ITO基底和PDMS通道两部分。所谓封装,即对齐二者并键合到一起。其主要操作过程如下:首先进行等离子处理,即把PDMS通道和有3D电极的ITO基底放入等离子机腔室,并使其正面朝上,进行抽真空处理,使其位于真空环境内。然后,进行对准,在基底的电极处,使用移液器滴注一滴纯净水,通过纯净水的润滑作用,使得未对准时通道与ITO基底不致于键合。在工作台上进行目测对准后,放入显微镜下,进行微调。最后,进行键合。对准后把芯片放入真空釜,使基底与PDMS通道键合。再将芯片在80度左右的恒温箱内放置30分钟,使键合效果加强。
4 研究关于微粒分离微流控芯片的实验
作者选取了直径为4μm和12μm的微粒进行分离实验。分离不同颗粒时,获得使颗粒分离的临界电压至关重要。所谓临界电压,既保证一种粒子能够在下侧支路流出,而另一种粒子则在上侧支路上流出的电压值。分离时,首先从入口A将两种粒子混合液通入主通道内,然后从入口B处通入缓冲液,在缓冲液的压迫下粒子运动方向沿着通道下侧,直至从D处流出。待微通道内,流体的流速趋于稳定,在3D电极处施加电信号,观察微粒运动状态。当电压低于48V时,两种粒子都有偏转,12μmPS粒子偏移量比4μmPS粒子要大一些。但是经过观察,两种粒子仍然都从D处流出,表明电压不足分离临界值。当电压达到48V时,可以明显看到粒子偏转幅度较大,4μmPS粒子从支路下侧的D处流出,12μmPS粒子从支路上侧C处流出,说明48V是临界电压。如果电压继续增大,粒子偏移也会接着增大,当电压值达到72V时,12μmPS粒子从支路上侧流出,大部分4μmPS粒子从支路下侧流出,但是有部分流到了上侧。这说明实际电压大于临界电压时分离效果并不好。
5 结束语
作者根据自身掌握的微流控芯片技术,并结合交流电场中,中性粒子的介电泳现象,对微流控下的微粒分离芯片进行了制作,使得不同微粒得以分离。
参考文献
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