倏然一年 更胜往昔——访泰勒霍普森销售总监Neil B Curtis和中国区总经理曾理

本刊记者/Reporter 谭弘颖/TAN Hongying

泰勒霍普森销售总监Neil B Curtis和中国区总经理曾理

2015年4月21日上午，在泰勒霍普森CIMT2015的展台上，本刊记者又见到了老朋友——泰勒霍普森中国区总经理曾理先生，同时，他还为本刊记者介绍了一位新朋友——Neil B Curtis先生，泰勒霍普森销售总监。

曾总风采依旧，欢笑更胜。坐下细聊方知，“喜”出有因。去年曾总曾对本刊记者提到泰勒霍普森在中国的业务目标是增幅15%；很显然，泰勒霍普森2014年在中国的目标达成。

优势再扩

一年下来，让我们看看泰勒霍普森都留下了哪些记录？2014年7月，泰勒霍普森发布了全新500H系列圆度仪、全新电感系统Form Talysurf® i系列；2014年8月，泰勒霍普森在广州计量院内举办了新产品发布会；2015年1月，泰勒霍普森推出Q-Link-Ultra软件最新版本；2015年2月，推出高效率的圆度测量系统 -Surtronic R系列；2015年3月，推出全新的便携式表面粗糙度测量仪Surtronic DUO；2015年3月，上海办事处迎来乔迁之喜；2015年4月，推出全新的Talysurf i系列仪器……

从上面这些记录来看，泰勒霍普森的新品推出速度之快、推出范围之广都令人赞叹。然而，还有一件事不可忽略，那就是阿美特克集团2014年9月收购Luphos公司。众所周知，泰勒霍普森是2004年进入阿美特克电子仪器集团的。阿美特克的公司成长计划立足于4个核心战略：精心运作、战略收购和联盟、拓展全球市场和新产品开发。阿美特克的全球收购让其旗下的产品进一步从顶端提升，完成战略补充。2014年，阿美特克的收购新闻便不断，Teseq、Zygo、Amptek和Luphos纷纷入囊。其中，从技术层面上来说，如Luphos的成功收购，给泰勒霍普森带来了复杂球面镜和光学表面非接触式测量的关键技术——此项技术为泰勒在计量领域中提供了更为广泛的测量应用选择；而从销售角度看，则无疑又增加了泰勒霍普森的销售网络，团队销售优势让泰勒霍普森与对手之间的差距拉得更大。

细作深耕

与去年相比，泰勒霍普森在中国的业务进一步拓展。在拥有一个非常强大的中国团队的基础上，泰勒霍普森在中国的覆盖力度已遍及西南、华南、华中、华北等地区。泰勒霍普森2014年在中国的业务目标之所以能达成，这也是一个重要原因。据介绍，其增长主要集中在汽车行业和光学行业。在汽车行业，泰勒霍普森获通用“最佳供应商”、福特连续3期独家采购泰勒霍普森的产品等等。而在光学行业，则是因其新品的投入应用使得这一领域的增长幅度喜人。

提及泰勒霍普森在华事业，就不得不提其与各地的科研院所组建联合实验室的事迹。除了之前报道过的与北京机床研究所、广州计量检测技术研究院的组建联合实验室之外，近期，泰勒霍普森还分别与厦门市计量检定测试院、四川（国家）重大技术装备几何量计量站等科研院所在商谈组建联合实验室事宜。据介绍，因为接触时间不同，这两个联合实验室的组建相关工作进度也不一样，但都是在按计划、如期地执行。有了这些技术平台的助力，泰勒霍普森在华实力更胜，而合作双方在高端检测设备研发、技术标准制定、国内外检测市场开发等多领域展开紧密的技术合作，又会为我国高端检测仪器的技术发展和应用作出更大的贡献。

关注新品

在此届CIMT上，泰勒霍普森又来诸多新品。

Talyrond®500H系列圆度仪，该系列圆度仪有着精准的速度和位置控制功能,使得该仪器成为生产大量高精密部件测量的理想选择。采用旋转、垂直和水平测量基准，复制机床的移动，从而精确地仿形工件的形状。多年超精密加工的行业经验和FEA(有限元分析优化)设计相结合,能够提供低噪声和接近完美的机械执行的测量轴。此外,通过使用可追溯标准和独家算法有效地消除了仪器的影响,进一步提高了仪器的测量能力。其测量能力更是惊人——一机多用，粗糙度、圆度、轮廓、圆柱测绘、凸轮和活塞“五合一”。

全新电感系统Form Talysurf® i系列电感式粗糙度轮廓仪，这是一款高精度测量系统，能够同时进行表面形状和轮廓测量，适用于汽车、轴承和齿轮等行业。该系统拥有低噪音轴和高分辨率传感器,通过不同传感器类型的选择能够为不同种类的应用提供多样化的完整的测量选择。值得称道的依然是其测量结果可重复性和高超的测量能力（表面粗糙度、轮廓和3D测量）。

Talysurf PGI Matrix一键式全自动光学测量仪，该测量仪配有PGI技术，快速自动的测量台以及全新、易用的软件界面，无论是单一透镜或是批量透镜测量加载和程序设置都非常简单，自动定位调整能保证高精度的测量和平衡分析，自动去除毛刺和半径优化则能够得到可重复的测量结果。先进的非球面分析软件(AAU)对形状误差、半径、斜率误差和环带深度进行即时分析，保证光学质量并节省时间。全新的X轴补偿和半径补偿计算法能够对生产仪器进行快速反馈，提高产量，并且能够减少CNC研磨和金刚石车削的调整时间，对长时间运转产生的温度变化进行快速补偿。

LuphoScan测量平台是一款基于多波长干涉技术（MWLI®）的干涉式扫描测量系统，专为旋转对称表面的超精密非接触式3D形状测量而设计，如非球面光学透镜。该仪器的特点主要包括：高速测量、特殊表面的高灵活度测量（例如，拐点的轮廓或平坦的尖点），最大物体直径可达420 mm。尽管是专为测量对称部件而设计的，但其仍然能够测量偏差较小的球面、非球面或者平面等自由表面部件，例如椭圆体的X射线或者光束整形元件。