基于GB/T 29309标准的HALT测试技术分析

2014-10-16 09:22韩彬
环境技术 2014年2期
关键词:试验设备量级寿命

韩彬

(苏州市产品质量监督检验所 国家信息网络产品质量监督检验中心,苏州 215000)

引言

高加速寿命试验简称HALT(Highly accelerated life test)试验,就是一种通过逐步增强施加在试验样品上的试验应力(如温度、振动、快速温变及振动综合应力等)来确定产品的耐受应力极限的试验,主要应用在产品研发阶段。通过在产品生产测试的早期,在发现产品设计的缺陷或薄弱点(如电路板的开路短路、裂纹或过孔缺陷、紧固件或元器件的松动、焊料不足、连线松脱等问题),然后进行改进分析,达到提高产品可靠性的试验。本文结合标准GB/T 29309-2012,以某款开关电源为例,对试验设备、工作极限与破坏极限、试验步骤及设备维保等方面展开介绍,为电子产品可靠性测试提供相关探讨。

1 HALT试验设备介绍

高加速寿命试验设备主要由振动应力试验系统、温度应力试验系统要求两部分构成。在环境激发试验中,该装置产生强化应力,能加速试验样品的疲劳损伤。前者通过压缩空气驱动多个气锤,作三轴六自由度运动,击打振动台面,输出非高斯宽带随机振动应力;而后者是以大功率电热元件和液氮制冷的方式,实现温度应力阶梯步进或快速温变,具体要求见表1。

本次试验中采用的是美国QualMark公司HALT箱,型号为TYPHOON 3.0,其振动方式为三轴六自由度、振动范围为75grms,温度范围为-100℃~+200℃,温变速率70K/min,振动台面尺寸36" X 36" ,符合标准要求,适用于小批量产品的HASS筛选试验,中大型产品的HALT试验,是目前测试机构的首选设备。左侧分别为数值状态显示区、手动执行区、程序执行区,最后右侧为能量输出控制表(即当前加热、制冷或振动能量);手动执行区启动chamber on后直接设置温度或振动值,按回车就可以运行;程序执行区则通过编辑相关试验程序, 如 Thermal Dwell、Vibration Dwell、Thermal Ramp、Thermal Ramp、Thermal and Vibration Dwell或 Thermal and Vibration Ramp来进行相关复杂试验,见图1。

表1 GB/T 29309对试验装置的要求

2 振动工作极限和破坏极限介绍

标准中对工作极限的定义为:当试验样品的工作特性不再满足技术条件的要求,但试验应力强度降低后,试验样品仍能恢复正常工作特性时所承受的试验应力强度值;而破坏极限则强调试验应力强度降低后,试验样品再也能恢复正常工作特性时所承受的试验应力强度值。以振动应力极限为例来介绍,具体见图2,可按下述步骤及方法进行确定,试验从起始量级开始,按一定的步进值递增。当振动量级增至g2时,试验样品出现失效,再把振动量级降至g1,样品恢复正常;继续将振动量级增至g3,试验样品又出现失效,此时将量级再次降至g1,样品又恢复正常,则确认g1为试验样品的振动工作极限。继续增加振动量级,若当量级升至g4时,试验样品出现失效,接着把量级降至g1,试验样品的性能未能恢复正常,且停止振动后,样品仍不能恢复正常,则确定g4为试验样品的振动破坏极限。

图1 HALT试验软件控制界面介绍

3 HALT试验步骤及注意

以某开关电源为例,见图3,试验前对受试样品进行机械性能(外观和内部结构)和电气性能检查;若带有过温保护的产品,要求将过温保护功能去掉;对于有外壳的样品如果可能要求将样品外壳去掉,保证样品内部电路与环境温度一致变化。试验样品间保持适当距离,并且不应互相重叠,试验样品不得对箱内条件产生明显的影响;振动步进试验和综合应力试验前要对正确地对样品进行装夹。除非相关产品规范另有规定,一般按照表2的规定进行试验。

图2 振动工作极限和破坏极限确认示意图

图3 试验样品(某款开关电源)

试验时,以步进的方式不断增强试验应力,直至试验样品的工作特性不再满足技术条件的要求。此时再以步进值降低试验应力强度,观察样品的工作状态,在每个试验的每个停留阶段进行功能监测,检查试验样品功能是否正常(如输出电压、反复开关机是否正常、输入欠压保护是否正常、负载跳变是否正常等),如果功能正常,继续加大试验应力继续试验,直到满足试验结束条件为止。当试验样品出现下列情况时,则可以停止HALT试验:试验已经满足参考判定标准要求;找到产品的工作极限或损坏极限;对于温度循环或综合应力循环达到规定的循环次数没有发生失效;达到试验设备的极限;出现非功能性失效如焊点融化,PCB严重受损等等;与同类产品相比或根据经验数据认为可以终止试验;继续改进成本较大,得不偿失。

HALT试验设备需要专业人员操作,未经培训不得操作,在试验开始前、试验中、试验结束后等阶段,对设备操作的注意点见表3。

4 结束语

随着标准的更新,对电子产品的寿命测试要求越来越高。本文从测试标准、测试设备、测试步骤等方面进行讨论。HALT测试作为新兴的试验方法,在电子电器产品研发的早期阶段采用,对于提高产品的可靠性,发现潜在缺陷,避免后期生产才能发现相关问题,有利于企业降低产品开发成本。相比传统的GB 2423高温、低温、振动等单一测试技术,HALT测试技术正以其独特魅力,在激烈的市场竞争中,为广大企业所应用。

表2 HALT试验顺序

表3 试验注意点

[1] 樊强.高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述[J].电子产品可靠性与环境试验, 2011, 04(4):53-55.

[2] GB/T 29309-2012 ,电工电子产品加速应力试验规程 高加速寿命试验导则[S].

[3] 崔祥飞,程维明,杨东,高加速寿命可靠性试验HALT技术研究[J].环境技术,2009,06(5):45-48.

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