兰基升,刘忠顺,王海滨
(沧州供电公司,河北 沧州 061000)
2010年6月7日,某220 kV变电站5221断路器速断保护动作跳闸,经检查发现,电容器组电抗器V相绕组有严重的烧伤痕迹,外包封开裂,经试验确认为匝间短路,短路电流使电抗器烧毁。6月9日,5212电容器组发生同样情况,电抗器V相绕组烧毁报废。
2台电抗器型号均为CKSCKL-864/10-12,出厂日期2003年4月,投运日期2003年9月。事故发生当时现场气象条件:大雨,环境温度35 ℃,湿度20%。
2台电抗器故障情况类似,事故发生当晚,时值天下大雨,现场检查发现设备上较多积灰,2台电抗器的V相线绕组对壳体绝缘电阻均为零,电抗器绕组烧毁,全部支持绝缘子被电弧烧灼发黑,绕组下引线固定接线螺栓与支持绝缘子底脚固定螺栓上有放电痕迹。试验人员对5221、5212电抗器进行绕组的直流电阻测试过程中,发现三相绕组的直流电阻数据较初始值及上次试验数据有显著增长,直流电阻相间互差超标,测试数据如表1所示(以5212电抗器为例)。
表1 5212电抗器直流电阻历次测试数据对比
时间相别RUX/ΩRVY/ΩRWZΔR%2007-06-01①实测34.133.933.71.19换算至20 ℃32.2132.0231.831.192008-12-01②实测31.231.1830.950.81换算至20 ℃32.4733.3332.213.482010-06-12③实测127.713099.8930.14换算至20 ℃119.72121.8893.6530.14
注:①例行试验,环境温度35 ℃;②检查性试验,环境温度10 ℃;
③故障后试验,环境温度37 ℃。
依据《河北省电力公司输变电设备状态检修试验规程(试行)》中规定:三相绕组间的差别不大于±4%(警示值),与以前相同部位测得值比较,其变化不大于±2%(警示值)[1]。
计算得知,故障后三相绕组相互间的差别达到30.14%,三相绕组与同相初值(2007年6月7日试验)比较,最小变化为194.22%,远超过2%的警示值[2],连续测试多次,数据基本保持不变,认为三相回路存在缺陷。
2010年8月23日,对因故障返厂的5221、5212电抗器V相进行解体。该电抗器采用多层同心电感绕组并联连接后组成总的电抗值,在绝缘筒体上用高绝缘强度电磁线绕4~10层绕组,绕组外部仍用浸渍过的玻璃丝、布封包成外绝缘筒,形成一个绕组单元包封,每台电抗器通常由3~10个包封组成,包封之间由玻璃丝引拔条隔出自然冷却风道,整台电抗器经过加温固化形成整体。
从烧毁部位看,均在绕组中部,而且烧毁面积较大,伴有熔铝流淌,可以判断产品出现故障延续了一段时间,如图1所示。
(a) 紫外线防护涂层脱落
(b) 绕组匝间绝缘已变色
(c) 绕组上附着的水珠
a. 产品本身带有毛刺、绝缘破损等固有缺陷,在长时间运行状态下绝缘快速老化、失效,引起产品匝间和层间短路,产品烧毁,这情况一般出现在投运1年以内的产品。
b. 产品在每次合、分闸时都会受过电压冲击,这会对产品绝缘造成一定的损害,尤其是在产品绝缘薄弱处,在累积效应的情况下,这些地方的绝缘会出现破损失效,导致产品发生短路烧毁,这情况一般出现在投运多年后的产品。
c. 产品过载运行。过载运行包括产品超负荷
运行,或者流过绕组的电流带有较多的谐波成分,引起产品发热严重,绝缘加速老化失效导致产品烧毁。从该产品型号选择看,12%的电抗率与3次谐波的低阻抗通道非常接近,容易在系统中形成一个3次谐波的滤波通道,引起产品过载,发热严重。
针对烧毁电抗器的运行及损坏情况,认为存在以下情况:2006年前,由于变电站供电范围内有钢厂负荷,谐波超标严重,造成电抗器绝缘材料加速老化,逐渐失去原有的力学性能和绝缘性能;经过7年运行,产品表面的紫外线防护漆脱落严重,造成绕组外绝缘树脂老化,部分包封(干式空心并联电抗器由多个并联的包封组成)出现裂纹进水,当水多次渗入时,造成绕组匝间绝缘损坏,出现匝间短路,短路线匝中电流剧增,致使电抗器烧毁,同时在高温下导线部分熔化。
a. 加强对运行的干式空芯电抗器进行红外测试,对温度出现异常的电抗器停电进行诊断性试验分析[2]。
b. 诊断测试项目应检查各相绕组的直流电阻、电抗值、损耗等基本参数是否与出厂时有明显变化,测试数据和出厂数据有变化的设备必须停运。
c. 对于有紫外防护涂层脱落的,应查看包封是否有裂纹,对于出现裂纹的应检查封包是否进水,无进水受潮的应采取封堵措施,包封进水受潮处理后再采取封堵措施。
d. 校验系统过电压水平是否超出产品的耐受能力,避雷器等保护元件是否正常工作。
e. 监测产品运行参数是否超出允许范围,包括电压、电流等[3]。
f. 检查SVC装置中对3次谐波的滤波通道是否真正起到作用。
g. 按照使用要求,2至3年补涂紫外线防护漆一次。
参考文献:
[1] 陈天翔,王寅仲.电气试验[M]. 北京:中国电力出版社,2005.
[2] DL/T 664-2008,带电设备红外诊断应用规范[S].
[3] 杨昌兴,华水荣.关于并联电容器用串联电抗器的保护问题[J].电力电容器,2000(1):19-22.