张 龙
(中国空空导弹研究院 洛阳 471009)
本文要实现一个X波段跳频微波接收机,其主要技术指标要求如下:
1)跳频带宽:100MHz;2)噪声系数:≤6dB;3)接收增益:≥40dB;4)输入 P1dB:≥-30dBm;5)镜频抑制:≥15dB;6)杂散抑制:≥-60dBc;7)谐波抑制:≥-40dBc;8)跳频时间:≤20us。
由指标可以看出,接收机有两个主要组成部分:接收链路和本振跳频链路。接收链路主要考虑噪声、增益、1dB压缩点等指标,通过对指标进行合理分配实现接收功能。对于本振链路,相位噪声和杂散是本系统的两个关键指标项,本方案以100MHz晶振为基准,采用X波段点频源+L波段跳频源上变频的方式产生。其中X波段点源直接采用PLL合成的方式,PLL相当于一个窄带跟踪滤波器,具有良好的频率稳定度及相位噪声特性,结构简单、便于集成。L波段跳频源采用DDS直接激励PLL的方案,避免了PLL内嵌DDS方案中由于频谱搬移产生大量的杂散谐波。接收机方案原理如图1所示。
图1 X波段跳频接收机原理框图
接收链路方案指标分配如表1所示。从表中相关参数可以得出:
表1 接收链路指标分配
1)接收增益(dB)
2)噪声系数(dB)
在秧苗现青至3叶1心期间不灌水,保持田间湿润,以利于扎根。3叶期后干湿交替,促进秧苗分蘖早生快发。当分蘖达到预定苗数时及时排水晒田,控制无效分蘖,促进根系深扎。后期管水要干湿交替,切勿断水过早,导致早衰倒伏。
3)线性上限(dBm)
4)镜频抑制(dB)
为降低镜频噪声对系统的影响,选择镜频抑制混频器HMC521,其镜频抑制度高于20dB。满足系统≥15dB的要求。
从计算结果看接收链路主要性能指标满足工程要求。
在超外差接收机中,本振相位噪声会由于混频器的频谱搬移转移到中频,导致接收机中频输出噪底抬高,灵敏度降低,所以对本振源必须进行低相噪设计[1~2]。本方案采用X波段点频源与L波段跳频源上变频的方式实现本振跳频功能,根据混频时相位噪声相加原理,X波段点源及L波段跳频源均须进行低相噪设计。
典型锁相环电路包括鉴相器(PD)、N分频器、环路滤波器(LPF)、压控振荡器(VCO)和参考输入等部分组成,它们是影响环路噪声性能的主要因素。根据锁相环理论,在小信号锁定状态下可将其视为线性系统。由噪声传递函数和环路传递函数可知,在环路带宽以内,相位噪声主要由晶振、鉴相器和分频器引入、而在环路带宽外,相噪主要由VCO决定。为降低相噪我们采取了以下措施[6~7]:
1)采用高稳定、低相噪晶体振荡器作为参考振荡源。
2)选用低相噪鉴相器、提高鉴相频率。
3)合理设计环路带宽,兼顾相噪和跳频时间。
根据锁相环相噪经验公式,对该方案相位噪声进行估算:
带内理论相噪值=鉴相器归一化噪声基底+20logN+10log△f (1)
对于X波段点频源,选择100MHz低相噪晶振作为参考信号,同时鉴相频率选择为100MHz,PD选用模拟鉴相器HMC440,其特点是工作频率高,噪声基底非常低(SSB相噪基底-233dBc/Hz),并集成5bit数控程序分频器,是低相位噪声锁相频率合成器的关键部件。对于L波段跳频源,采用DDS直接激励PLL方式,锁相芯片选择AD公司的ADF4106,该产品归一化相噪基底为-219dBc/Hz。
根据混频时相位噪声相加原理,考虑放大器的相噪恶化(按3dB估算),X波段点频和L波段跳频源均进行了低相噪设计,保证了混频放大后相噪满足系统要求。
本方案接收机杂散信号主要来源于本振,本振杂散在接收机下变频中因为自混频产生假信号,必须对本振进行低杂散设计[1~2]。锁相环杂散主要有两种,一种是外部串扰对VCO的调制,另一种是鉴相频率的泄漏,对于外部串扰需要找到干扰源,切断干扰回路。而对于鉴相泄漏一般是通过合理设计环路带宽,利用环路的低通滤波特性来抑制鉴相泄漏,必要时可在环路滤波器之后再加一级低通辅助滤波的方法加以抑制,为了不影响环路滤波的参数,辅助滤波的带宽一般应取环路带宽的十倍以上。另外鉴相频率不能取的太低,避免其落入环路带宽内。对于本方案L波段跳频环环路带宽设计为500kHz,远远小于DDS输出的鉴相频率,由于环路的低通滤波特性可以将鉴相频率抑制到80dBc以下,同样的X波段点源的环路带宽设计为1MHz,也远低于100MHz的鉴相频率,可以较好的抑制鉴相泄漏。
DDS的杂散很多[7~9,12],主要由于幅度量化误差和相位截断误差产生,大小一般在-75dBc~-80dBc之间。当用DDS驱动PLL时,因为PLL相当于一个窄带高Q值的跟踪滤波器,在环路带宽以外,DDS的杂散大部分都会被抑制。
L波段跳频源和X波段点频源上变频产生的组合杂散采用腔体滤波器滤除,腔体滤波器具有插损小、Q值高、带外抑制好的特点,适用微波频段应用,实际定制加工的滤波器阻带抑制达65dB。图2给出了信号和杂散经过混频、滤波、放大后的功率估算。从图中可以看出,输出信号对混频组合分量的泄漏抑制达74dBc,满足指标60dBc的要求。
图2 本振源对混频组合杂散分量的抑制
另外,在本方案中多个器件需要共用电源,为避免信号同过电源线相互串扰,在电源处理上增加去耦电路,低频大容量电容和高频低容量电容配对使用,并在器件引脚出增加去耦电容,提高电路杂散抑制性能。
由于方案采用X波段点源和L波段跳频源上变频方案,跳频时间主要由L波段跳频源决定。L波段跳频环的跳频锁定时间包括DDS的频率转换时间、PLL的转换时间和控制电路转换时间。DDS频率跳变时间为纳秒级,与PLL和控制电路的转换时间相比可以忽略。
PLL频率转换时间与环路状态有关,锁相环存在着相位捕获和频率捕获两个过程。通常频率捕获的时间远大于相位捕获时间,锁相环跳频时间通常指的就是频率捕获时间。本文采用高直流增益的有源比例积分二阶环,频率捕获时间取决于以下因素:
1)跳频步长:步长越小,捕获时间越短,反之越长,对于本方案,DDS激励的频率步进在kHz范围,可以保证环路有较小的捕获时间。
2)环路带宽:带宽越宽,捕获时间越短,反之越长。同时环路带宽的选择还要兼顾PLL的相噪性能,一般选择为VCO的相噪特性曲线和锁相芯片相噪特性曲线的交叉点。
3)阻尼系数:阻尼系数越大,捕获时间越短,反之越长。
ADIsimPLL是ADI公司推出的专门用于锁相环电路设计的软件,其内部提供了大量的器件模型,操作界面简洁,非常适用于ADI公司的PLL芯片进行设计。对锁相环跳频时间仿真结果如图3。从仿真结果中可以看出频率稳定时间只有5us。频码控制部分采用FPGA并行控制DDS芯片的方式,可以将控制转换时间控制在10us以内,频率转换总时间最终可以满足指标。
图3 L波段跳频源跳频时间仿真结果
接收机低频电路板采用FR-4,介电常数为4.6,高频部分采用Rogers5880,介电常数2.2。加工过程包括芯片共晶、金丝键合、基片烧结、回流焊贴装工艺、总装等工序,对于局部需要手工调试的器件采用手工焊接工艺。
由于整个电路结构复杂,既有模拟电路又有数字电路,模拟电路中又含有中频电路和微波电路,为了避免各个部分之间的射频干扰,保证杂散性能,采取了多腔体结构,并在结构设计中尤其注意了微波吸波材料的使用。在整体电路加工完后,加电测试,针对各个功能模块出现的问题,在调试过程中先分腔逐个功能模块进行调试改进,直至最终满足工程要求。
最后为提高中频输出的谐杂波抑制度,在接收链路末级增加一低通滤波电路,有效滤除带外无用频率分量。
表2为电路测试结果。电路测试值表明各项性能均达到了指标要求。图4为实际产品加工图片。
表2 X波段本振源实际测试结果
图4 X波段跳频微波接收机实物
本文通过对接收机链路指标的分析计算,完成了X波段跳频微波接收机的设计和研制。作为接收机的关键组成部分,综合利用DDS和PLL技术完成了X波段本振跳频源的详细设计,通过理论分析和仿真论证了相位噪声、杂散和跳频时间等本振源关键指标的实现方法。最后,测试结果表明接收机方案合理可行,达到了预期的工程目标。
[1]魏宗禄.本振源相位噪声影响雷达导引头接收机工作灵敏度的计算方法[J].制导与引信,1993,14(4):36-43.
[2]魏宗禄.雷达导引头混频器的频谱特性和相位噪声模型[J].上海航天,1993(4):19-26.
[3]费元春.宽带雷达信号产生技术[M].北京:国防工业出版社,2002.
[4]张厥盛.锁相技术[M].西安:西安电子科技大学出版社,2001.
[5]白居宪.低相噪频率综合[M].西安:西安交通大学出版社,1995.
[6]梁刘永,张龙.X波段低相噪跳频源的设计与实现[J].电子设计工程,2012,20(4):135-138.
[7]杨国渝.采用DDS+PLL技术实现S波段频率合成的一种方法[J].电子科技大学学报,1999,28(4):388-391.
[8]任鹏.一种基于DDS和PLL技术本振源的设计和实现[J].现代电子技术,2009(9):178-180.
[9]李俊俊.基于DDS+PLL频率合成器的设计和实现[J].电子测量技术,2009,32(4):26-30.
[10]潘未庄.一种高速DDS结构及其FPGA实现[J].计算机与数字工程,2008,36(12).
[11]雷立云.基于FPGA的DDS研究与设计[J].计算机与数字工程,2008,36(8).
[12]蔡竟业.一种高分辨率低杂散频率合成器的研制[J].电子科技大学学报,2005,34(6):1009-1012.