毛永高
浙江传媒学院电子信息系,浙江 杭州 310018
相对稳压系数:相对稳压系数:是在负载不变的情况下,稳压器输出直流电压的相对变化量与输出电网的相对变化量的比值。绝对稳压系数:是负载不变的情况下,稳压电源输出直流变化量与输入电网变化量的比值。电压稳定度:是负载电流保持在规定的范围内的数值,输入电压在规定的范围内变化所引起的输出电压相对的变化。电网调整率:是表示输入电网电压由额定值变化在10%左右的时候,稳压电源输出电压的相对变化的数值。
电气安全要求
变压器的绝缘:变压器的绕组使用的铜线应该是漆包线,其它的金属部分应该有绝缘物质,在实验当中不能出现绝缘层破裂的现象。变压器的绝缘电阻:变压器绕组之间的绝缘电阻最小应该是10Ω,而且应该施加500V的直流电压,不能出现击穿的现象。变压器湿度电阻:放在潮湿的环境之后,变压器要进行绝缘电阻的实验,而且潮湿环境的要求是:相对湿度是92%,温度稳定在20℃~30℃之间,放置两天之后要立马进行实验。
在带点部分之间和带点部分与非带点金属部分之间的表面﹑空间的距离要求:极间的电压需要是比250VAC大的高压导体之间,无论是在表面之间还是在空间范围内,都应该有0.1英寸的距离;IEC要求在交流线之间有3mm的空隙,交流线与接地导体之间要有4mm的空隙;VDE要求交流线之间有2mm的空隙;IEC和VDE要求在电源的输入和输出之间要最少有8mm的距离。进行绝缘电阻的测试的时候VDE要求是在输入和低电压输出电路之间有7欧姆的电阻,在可以接触到的金属部分以及输入之间应该有2Ω的电阻。
等校内组:在额定电压下,负载电流的变化△IL所引起的输出电压变化△Uo,那么,输出电阻就是|△Uo/△IL|欧;电流调整率:额定电压下,负载电流变化到最大值的时候,输出电压的最大相对变化量用百分数表示。
纹波系数:额定负载电流的情况下,输出纹波电压的有效值与输出直流电压的比值。最大纹波电压:在额定的输出电压和负载电流的情况下,输出电压纹波的绝对值。纹波电压抑制比:在规定的纹波频率下,输入电压中的纹波电压与输出电压中的纹波电压的比值。
稳压器在输入电压﹑外界环境的温度以及负载电流保持一定,元件参数的稳定性也会导致电压的变化,这个变化如果比较慢就叫做漂移。考察漂移的时间范围是1min~10h或者是更长。有两种方法可以表示漂移,分别为:指定的时间内输出电压的变化或者是相对变化。
电磁兼容性是系统在相同的电磁环境当中正常工作而且不对其它系统造成电磁干扰的能力。电磁干扰波有两种途径来传播,一种是长波向电源线传播,给发社区干扰,这种长波的频率在附属电子设备的电源线的长度还不够一个波长,辐射的量很少,所以可以掌握发生在电源线的电压大大笑来估计干扰的大小。随着频率的增加,波长就会越来越短,这个时候如果只是对发生在电源线的噪声源电压来进行控制,就不能满足消除干扰的要求,所以,采用了通过直接测定传播到空间的干扰波的大小的方式,这种噪声叫做辐射噪声。
电磁兼容的试验内容有:静电放电敏感度就是有不同静电电位的物体的靠近所引起的电荷的转移。300PF电容充电到-15000V,通过500Ω电阻放电。在测完以后要保存好数据。磁场敏感度:系统暴露在电磁辐射下不希望有的相应强度。敏感度的电平越小,敏感度就会约稿,抗干扰性就会越差。辐射敏感度:设备降低的辐射干扰场的度量。电源瞬态敏感度:包括电压和频率的瞬态敏感度以及尖峰信号的敏感度。工作状态磁场的干扰:各个方向的交流磁通密度小于0.5mT。传道干扰:是沿着导体传播的干扰。非工作状态的磁场干扰:磁通密度小于0.525μT。辐射干扰:用电磁波的形式传播的,范围是10kHz到1000MHz。传导敏感度:当引起设备不希望有的响应的时候造成了性能降低,对电源和信号线上的干扰信号的度量。
过流保护是一种电源负荷的保护,为了避免发生过负载输出电流对电源的损坏,这个数值的范围一般是额定电流的110%~130%之间。过压保护是对端子间过大电压进行保护的功能,这个数值的范围一般是输出电压的130%~150%之间。当输出电压在标准值以下的时候,检测输出电压下降而停止电源并且发出报警的信号,这个数值是输出电压的30%~80%之间。
[1] 美国力科公司发布电源测试分析软件包用WavePro-(TM)和WaveMaster-(TM)系列示波器[J].国外电子测量技术,2003(3).
[2]闫大新,卢文生,邓孝祥.宽范围输入反激式开关电源稳定性分析及补偿设计[J].电源世界,2006(7).
[3]赵卉, 张波.电流模式开关电源中电流检测电路的分析与设计[J].中国集成电路,2005(11).
[4]王德江,李光旭,张洪阳,何水龙.一种新型交流稳压电源的研究[J].辽宁工学院学报,2005(6).
[5]于遵谨.基于单片机的开关电源测试系统的设计[J].计算机测量与控制,2008(3).
[6]苏彦民,李辉,白晓青.电源测试系统的设计和实现[J].现代电子技术,2005(14).