王 力,张春雷,胡红兵,郑 洁
(国电南瑞科技股份有限公司,江苏南京210061)
传统的变电站测控装置采用的AD芯片一般与保护装置相同,AD芯片内部进行模数转换后把数据直接送给主CPU,主CPU定时对周波进行取点采样,通过傅立叶等算法计算出相应的有效值、相位角等实时信息。这种方式具有很强的实时性,而且数据的处理方式比较灵活。但对于中低压测控装置,往往并不关心每个周波的波形,对采样速率要求不是特别高,侧重点在于数据的精度与稳定性。文中采用一种集合了采样与计算功能的ADE7878芯片,将其应用在中低压测控装置中,有降低成本、节省CPU资源等显著优点[1]。
ADE7878是美国ADI公司推出的三相高精度多功能计量芯片,超越了工业上对电能计量0.2 S级表的精度和动态的要求。ADE7878的电压和电流通道为24bit-型ADC,电压和电流有效值在动态范围为1 000:1下小于0.1%,电能在动态1 000:1下小于0.1%,在动态3 000:1下小于0.2%。ADE7878提供I2C,SPI,HSDC多种数据接口和3个灵活的脉冲输出,还可同时提供基波有功和无功功率、总(基波+谐波)有功和无功功率的计算。
这款芯片推出的初衷是用于电能表领域,主要特点是精度高,成本低廉,集成的CPU实现了对AD采样值的计算功能,能够满足中低压测控装置的采样功能。
图1 ADE7878测控装置硬件框图
基于ADE7878的测控装置硬件框图如图1所示,主要包括交流测量模块、通信模块、数据存储和显示模块等部分。主控制器采用TI公司的一款具有浮点运算能力的DSP,型号为TMS320F28335。其中最重要的电路就是模拟信号输入电路,该电路的设计直接影响波形的精度,如图2所示。由于ADE7878的电压电流通道输入信号范围为±0.5 V,二次交流采样值必须经过处理才能进入芯片的输入通道。以Ic的模拟信号输入为例,图中CT3选用的是一种电流型CT,输出信号为0~2 mA电流,经过电阻转换为电压,在输出端并接的二极管起保护作用。电流转电压后经过二级RC网络滤波,以±0.5 V的电压值接入ADE7878输入端。在选用器件参数时需保证二次电流最大值6 A对应芯片输入端0.5 V,这样芯片采样精度才有保证。
除了模拟信号输入电路,周边电路还包括系统主控芯片DSP的接口电路、电源、晶振等,芯片正常工作所需的电源电压、晶振频率等参数可以由芯片的电气特性查得,在电路设计时只要满足这些条件即可[2]。
该套测控装置采用SPI接口与ADE7878进行通讯,ADE7878的SPI通讯接口最高的允许速率是2.5 MHz。芯片提供了100多个可读写的数据寄存器,通过对这些寄存器的控制可以将芯片的效能发挥出来。
ADE7878交流采样主程序流程如图3所示。在装置上电进行初始化时,首先读取装置的CRC校验寄存器值,该值对于芯片的控制非常重要。在正常采样过程中,如果该寄存器值突然改变,则说明芯片已出现故障,此时的采样值已不可靠,必须丢弃。并且需要对芯片进行复位处理并再次核对。
图2 ADE7878外围硬件电路设计
图3采样程序流程
ADE7878直接提供的电压、电流有效值是基波叠加谐波之后的值。如果需要计算基波和谐波含量,ADE7878同时提供了电压、电流的实时波形数据,这样通过傅立叶算法就可以得出电压、电流的基波值及各次谐波值、畸变率等相关信息[3]。
芯片可提供 ANGLE0,ANGLE1,ANGLE2 等 3个角度寄存器,通过不同的配置方式以取得各相电压角差、各相电流角差、压流角差等测量信息,如图4所示。
图4 ADE7878角度测量
在工程测试中,当运行现场电磁干扰严重时,SPI总线会受到干扰,导致采样数据偶尔会产生突变,对于这种不可预知的干扰,在程序中加入了过滤坏点的算法。流程如图5所示。
试验证明,这种算法能够过滤掉因SPI总线干扰带来的错误数据点。
在二次电压标准输入f=50.5 Hz,U=57.74 V,I=5 A,cosф=0.5的时候,测试结果如表1所示,完全能够满足变电站测控装置的精度要求。
使用ADE7878多功能计量芯片作为变电站测控装置的采样模块可减少外围电路,简化设计过程,提高系统的集成度;同时利用ADE7878自身计算功能,可减轻DSP的运算负担。ADE7878的高精度特性可保证测量结果的准确性,有利于提高变电站数据在线监测能力。该新型测控装置目前在变电站已投运数百台,2年多的实际运行表明,该装置能满足变电站对电力系统运行监测的技术要求,相对于传统测控采样方式,精度更加高,运行更加稳定。
表1性能测试结果
[1]陆祖良.周期信号采样测量策略[J].电测与仪表,2008(10):1-6.
[2]胡志刚,许 凯,崔永峰.电能计量芯片ADE7878在智能电表中的应用[J].电测与仪表,2010(7):128-131.
[3]郭忠华,基于ADE7878芯片的电力参数测量仪的设计[J].电工电气,2010(12):25-30.