赛默飞世尔科技发布全新电子显微分析产品

2010-04-14 13:54
生命科学仪器 2010年4期
关键词:背散射微区界面

2010年6月28日,美国威斯康星州麦迪逊 —— 全球科学服务领域的领导者赛默飞世尔科技今天发布了全新电子显微分析产品QuasOr EBSD(电子背散射衍射),其与NORAN System 7微区分析系统提供了完整的一体化微区分析解决方案。这个系统是业界第一个集成电子背散射衍射(EBSD)和能谱仪(EDS)及波谱仪(WDS)在同一个软件界面的微区分析系统。Thermo Scientific QuasOr 是完全集成到NORAN System 7微区分析平台中,以确保新用户便捷地在同一软件界面下同时完成EBSD、EDS、WDS的数据采集。

EBSD是用于在扫描电子显微镜(SEM)下测定样品的微区晶体结构。当分析例如合金、陶瓷及地质样品时,可以对复合材料和矿物进行晶体学的面分析以表征样品特性。在采集EBSD数据期间,EDS和WDS可以同时测定分析样品的化学成分。Thermo Scientific QuasOr作为NORAN System 7微区分析系统的卓越部分可以使得整个系统提供在高速采集EBSD面分析的同时采集能谱和波谱的全谱图像数据。一体化综合的分析系统避免了对应用程序间的繁琐切换,在同一界面即完成数据采集、分析及完备的报告,从而提升了微区分析采集速率、效率!

赛默飞世尔科技分子光谱和微区分析副总裁兼总经理Mike Jost 先生这样说道:“Thermo Scientific QuasOr EBSD产品的发布,标志着业界首次将EBSD、WDS、EDS分析平台综合集成在一个系统中使用!目的是为客户能同时快速获得成分和结构以更好的揭示样品特性。这个全新的一体化系统将以易用、卓越、完备、高效面向全球实验室。”

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