骆 军 朱航天 梁敬魁
摘要文章介绍了根据x射线粉末衍射线形测定试样晶粒度和点阵畸变(应变)的主要方法,并以c03 04纳米材料晶粒度和应变的测量为例加以说明,通过与扫描电镜观察的统计结果进行比较,分析了各种方法计算晶粒尺寸的可靠性和适用性,
关键词x射线粉末衍射,晶粒尺寸,应变,纳米颗粒
物理2009年4期
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