面向可复用ＩＰ核测试的ＪＴＡＧ设计
2005-04-29 00:44黎东涛
大众科技 2005年1期
黎东涛
[摘要]文章提出了一种基于面向可复用IP核测试的JTAG设计方案。该设计在JTAG工业标准的基础上，支持寄存器查看和设置、IP核程序流跟踪、代码覆盖率检查、代码分析、IP核扫描测试等功能．
[关键词]JTAG；TAP；边界扫描；扫描链;IP
[中图分类号]TN4
[文献标识码]A
[文章编号]1008—1151(2005)01—0045—03
黎东涛
[摘要]文章提出了一种基于面向可复用IP核测试的JTAG设计方案。该设计在JTAG工业标准的基础上，支持寄存器查看和设置、IP核程序流跟踪、代码覆盖率检查、代码分析、IP核扫描测试等功能．
[关键词]JTAG；TAP；边界扫描；扫描链;IP
[中图分类号]TN4
[文献标识码]A
[文章编号]1008—1151(2005)01—0045—03
