安费诺电子装配(厦门)有限公司 周敏杰
在开发连接器时,不管是建模仿真还是实物量测,一个最令开发者头疼的问题就是连接器的共振问题,此问题直接影响连接器的信号传输性能,从而达不到信号完整性要求。常用的解决方法诸如改变端子的形状、尺寸,增加接地片,减小连接处的滑动距离等,可以解决问题,但是所花的时间较长,涉及到模具,费用高。这里给大家介绍一种另类的方法,可以用来降低共振的幅度,从而改善远端串扰,最大的优点是不需要改模,优化的地方在含金手指的PCB 上,只需打样一款PCB 即可,费用也低,在任务重,时间紧的情况下,本方法可以解燃眉之急。本文所有的仿真数据来自CST 软件,实测数据来自VNA 的量测。所给出的结论可供连接器开发者参考,在实在解决不了共振问题的时候,不妨考虑此法,没准可以解决掉当前的问题。
改善已经开模出来的连接器性能,是一个费用高、时间长的过程,也是负责连接器信号完整性工程师一大头疼问题。一般情况下,只要端子的尺寸符合要求,实测的数据与仿真的数据就是一致的,一旦发生不一致的情况,那么就要从3D 到PCB 设计到仿真报告到实物的量测全面去解析,整个过程非常繁琐,所花的时间长。有些时候,碰到固有共振无法根除的问题,为保证结构的要求,就只能允许共振的存在,但要确保共振的幅度满足规范即可。
本文就是基于共振存在的这个情况下,给出一种另类的解决方案,即不去改善端子,而去改善对配的金手指PCB,最终达到降低共振幅度的目的。
如图1所示,左边的PCB 是连接器转接板,中间的是连接器,一般都是端子+塑胶的组合体,右边的是带金手指的PCB,三者组合起连接器基本的互配模型,该模型可用于信号完整性仿真。
图1 普通连接器与带金手指的PCB 互配模型图Fig.1 Interconnection model diagram of common connector and PCB with gold fingers
为了更好的处理好信号完整性,通常都会在金手指的GND Pin 上增加GND 过孔(VIPP0 设计),这种设计可以更好的将共振频率向高频推进[1.2]。另外,PCB 内层的GND 平面也需要完全将上下两层的高速信号完全隔开,从而优化近端串扰问题。如图2所示。
图2 正常带金手指的PCB 金手指处理以及叠层解析Fig.2 Processing and stack analysis of PCB gold fingers with normal gold fingers
本方案反向利用VIPPO 设计,即去掉金手指的GND过孔,让共振点向低频移动,同时减少一半的内层GND平面的屏蔽,形成腔体谐振,降低共振点的幅度,以达到改善的目的。如图3所示。
图3 本方案推荐的金手指设计以及叠层平面处理方法Fig.3 The gold finger design and stacking plane processing method recommended in this solution
仿真结果显示常规方案在高频17GHz 左右会出现共振点[3],而新方案显示在12GHz 左右会出现较小的共振点,总体相差比,新方案会比常规方案在共振点的幅度上有改善4dB 左右。如图4所示。
图4 仿真结果对比Fig.4 Comparison of simulation results
实测结果显示,新方案的共振向低频移动,同时幅度有下降4dB 左右,与仿真结果一致。但实测的共振幅度明显大于仿真,这需要结合实际情况去具体分析,比如形状、材料、尺寸的差异,都会导致这样的结果。如图5所示。
图5 实测结果对比Fig.5 Comparison of measured results
本文通过图示的方式,诠释了一种另类的降低连接器共振幅度的方法,并以仿真数据以及实测数据进行验证,可供设计者参考。另外此方法只能降低共振幅度,并不能根除连接器的共振问题,若想彻底根除连接器的共振问题,还是要从连接器本身出发,逐步解决。本文给出的方法只是给设计者提供另一种方法解决共振,在连接器已经开发出来的情况下,仅共振幅度偏高,可以试着采用。