张欣,潘三博
(上海电机学院电气学院,上海 201306)
GaN功率器件在实际应用中,由于其自身特性,令变换器具有更高的开关频率、更快的开关速度、更大的功率密度、更低的功率损耗和更小的体积。但其驱动电压范围窄、阈值低,更易造成驱动误通、栅极击穿问题[1]。其开关速度快,在应用过程中易产生开关振荡与开关损耗[2]。GaN功率器件应用在变换器中过程中可能会发生过电压、过电流等现象,抑制了GaN功率器件在实际应用的可靠性[3]。因此需要设计相应的驱动电路,保证开关器件在变换器中的可靠利用。文献[4]提出了GaN功率器件谐振驱动技术,实验验证了整机效率提高的可行性。文献[5]从GaN驱动电路PCB设计、驱动电阻、驱动回路优化三个方面提出了一种抑制的GaN功率开关器件抑制振铃方法。
本文从GaN功率器件驱动特性分析,以GS66508B,650 V增强型GaN为开关器件搭建Boost变换器,分析其过电压、过电流现象原因,对GaN栅极驱动电路进行优化设计,解决GaN功率开关器件在驱动过程中可能误通、振铃、过电压、过电流等问题。采用一种过电流分级保护电路;当功率器件出现2倍以内的过电流现象时,采用封锁栅极驱动电压方法实现功率管的快速关断,当开关管额定电流出现2倍以上过电流现象时,采用缓关断方法令栅极电压逐渐降为零。采用这种方法可以对不同的过电流故障做出及时的反应,并进行动态保护。利用LT-spice仿真软件对设计电路进行了仿真分析,并通过搭建实验平台对其驱动电路设计的合理性进行了验证。
GaN功率器件应用在电力电子产品中提升变换器件效率和功率密度[6-9]。将硅基MOS功率器件与SiC功率器件比较,GaN功率器件驱动电压范围为-10 V~+7 V,栅级门槛电压一般为1.7 V左右,驱动电压范围窄[10]。常规的驱动芯片都不适用于GaN功率器件,因此根据GaN功率器件特性,设计驱动电路,令GaN功率器件在实际应用中发挥其优越性。
如图1所示,采用独立拉灌式输出驱动方式驱动GaN功率器件。当功率器件正常开通时,其电流回路为栅极驱动器-开通电阻(Ron)-栅极等效电阻(RG)-开关管-漏极等效电感(LS)-GND。当功率器件正常关闭时,电流回路为功率器件-LG-RG-Roff-GND。在GaN功率器件在开通与关断期间,等效的谐振环路不同,为了严格抑制之间的谐振,需要严格控制栅极环路中的电阻,最好的解决办法就是利用分离式充放电回路对GaN功率器件进行驱动,通过调整开通与关断阻尼,调整器件开通与关断的速度,减少回路中振铃情况,令GaN功率器件发挥更好的开关性能。
图1 GaN功率器件开通与关断回路图Fig.1 GaN power device circuit diagram of turn-on and turn-off
GaN功率器件等效模型中存在容性与感性器件,在器件关断瞬间,会产生较高dv/dt与di/dt,作用在GaN功率器件上会产生关断振铃,误导通,令功率器件功能失效。
基于GaN功率器件搭建Boost变换器,等效电气模型如图2所示,对GaN功率器件源极-漏极产生过电压现象进行分析。如图2所示,用于表示GaN功率器件源-漏集电压UDS表达式为
图2 Boost变换器等效电气模型Fig.2 Equivalent electrical model of Boost converter
式中:LD,LS分别为GaN功率器件源极、漏极等效电感;RD,RS,RG分别为GaN功率器件的源极、漏极、门级等效电阻;LBUS,RBUS为直流母线中电感和电阻;系数KS一般取1~1.5;ESL为直流母线等效电容等效电感;ESR为直流母线等效电感。
通过查阅GS66508B的datasheet可知,GS66508B的RG为1.1 Ω,RDS为50 mΩ,VGS为1.7 V,LDS为3 nH,LG为3 nH,ESL取值为10~40 nH,ESR取值为10~20 nH。
在实际应用过程中,GaN功率器件可能会出现过电压故障,在器件关断瞬间,产生过高的di/dt作用在寄生电感,UDS升高,超过GaN功率开关管关断时的安全电压,器件失效,不能使用。因此在驱动电路设计的过程中考虑过电压保护措施。
在实际应用过程中,GaN功率开关管可能会出现电流故障,当开关管在导通时,发生负载过电流,开关管的漏极-源极会从一个饱和电压值上升至母线电压,漏极电压在上升的过程中,会产生强烈的dv/dt,变化较快的dv/dt会给GaN功率器件的米勒电容充电,进而耦合功率器件门级,功率器件门级电压进一步上升,所以功率器件的工作电流IDS会进一步上升,器件发热严重[11]。如果不采取措施解除其过电流现象,会缩短功率器件寿命,因此需要设计过电流保护电路。在本次的设计过程中,采用短路电流分级保护措施,当检测到电流过额定电流2倍以内,采取快速关断模式;当检测到电流过额定电流2倍以上采取缓关断保护措施。
综上所述,在设计中注意以下要点:1)选择独立的拉灌输出的驱动电路来控制GaN器件开通与关断。2)选择合适的开通电阻与关断电阻,通过设计合理的开通与关断阻尼,来改变器件开通与关断的驱动电流的大小,进而减少开关振荡与开关损耗。3)通过优化功率回路布局,减少寄生电感的产生,门级布线电容要小,避免造成器件振荡或者误导通。4)设计中应考虑器件在开通过程中可能过压、过流现象,利用有源钳位、缓关断等方式保护异常情况下的器件。
本次具体设计过程,采用GaN systems的GS66508B,650 V增强型GaN功率器件。其功率器件具体的技术参数为:漏源电压UDS为650 V,栅极电压UGS为10 V/+7 V,推荐驱动电压UGS为6 V,阈值电压UGS(th)为1.7 V,工作电流IDS为30 A(T=25℃),25 A(T=100℃),开关频率为500 kHz,驱动电压6 V。具有保护功能,防误通、过压和过流。
驱动电路如图3所示。其中,区域①为过电流分级保护设计;区域②为RC吸收电路减缓振铃设计;区域③为有源钳位过电压保护设计;区域④为减少寄生振荡设计;区域⑤为过电流直接关断设计;区域⑥为过电流缓关断设计。
图3 驱动电路原理图Fig.3 Schematic diagram of gate driver
当GaN器件正常开通时,PWM 3.3 V信号输入时,U1导通,A点为低电位,V1,V2导通,GaN功率器件栅极由V2与Ron接通电驱动电源6 V,GaN功率器件由关断变为开通。当其正常开通后,GaN开关器件UDS降为1.7 V,在V1导通的同时,电源通过V1与R4给电容C1充电,H点电位升高,通过选取合适的C1与R4,在开关管器件导通之前,Z1未被击穿。所以二极管D6正常导通,V4,V5截止,因此器件正常开通,不受影响。
当GaN器件正常关断时,PWM 0 V信号输入时,U1截止,A点为高电位,V1,V2由导通变为截止,V3由截止变为导通,GaN功率器件栅极电荷通过关断电阻Roff,V3释放,GaN功率器件可靠性关断。
当器件正常开通时,可能会出现以下过电流故障。当其IDS急剧上升,在GaN开关器件的源极通过串联检测电阻R13测两端的电压来测验电流的变化。在利用电阻检测电流时,在高压大电流情况下,会产生额外损耗。在GaN功率器件源极设计中,分离出两个源极,分别是SS极与S极,其两个极电流值之比为3:1,将检测电阻放在S极间接测得IDS,可将额外的损耗降为直接检测损耗的1/4。测得当 30A<IDS<60 A时,比较器LMV359输出端oc2输出高电平直接令V5导通,GaN栅极电荷直接由V5全部释放,GaN栅极电压实现了GaN功率器件的快速关断;当IDS>60 A时,比较器LMV359输出端oc1高电平通过V6将比较器U2B输出高电平拉低,令快速关断模式不做出反应。比较器U2A输出端通过R10与V4相接通,并令V4导通,C3沿V4放电,E点电位逐渐降低至正偏D1导通,F点电位逐渐降低,直至GaN功率器件缓慢关断。通过更改R11与C4的参数值可以调节器件关断的速度,实现其缓慢关断。
当变换器出现过电压故障时,在工作过程中,遇到换流情况,由于电路中寄生电感的存在,较高的电流变化会产生电压过充,进而加在直流母线UDS上,当UDS超过TVS电压后,TVS管被击穿,电流经过TVS管一部分给电容充电,另一部分通过二极管D5给晶体管寄生电容CGS充电,晶体管栅极电位抬高,IDS下降缓慢,直至过压结束。
针对GaN功率器件振荡与误导通问题,在本次设计电路中具体采取的解决办法如下。
在栅极电路中加入磁珠FB0,利用铁氧体磁珠在电路中起着阻高频通低频的作用,进而来吸收GaN功率器件驱动回路中在高频状态过程中产生的振荡,令驱动更加稳定可靠。
在栅源级之间设计加入两个齐纳二极管,其作用是栅极保护作用,根据GaN功率特性栅极耐压UGS为10 V/+7 V,通过两个齐纳二极管加入,当栅源电压大于7 V时,令栅源之间电压被钳位在5.6 V,保护器件不被击穿。
采用独立的开通与关断输出的驱动电路来控制器件的开启与关断,能够形成独立的开通与关断回路,合适的开通或者关断电阻值可以有效地避免开通与关断回路RLC谐振,从而减小开通与关断期间振铃情况。
在GaN功率器件漏源两端设置阻容吸收电路,进一步防止尖峰、振铃、噪声造成功率管击穿。
在进行实验平台搭建之前,利用仿真软件LTspice对GaN功率器件特性进行仿真分析。GaN功率器件选用GaN system公司的GS66508B-L3V4P1 spice库模型。其中驱动电压为6 V,开关频率为500 kHz。对GaN功率开关器件正常导通、关断、减缓振铃、短路过电流分级保护进行仿真,其器件波形图如图4~图6所示。
图4 GaN功率器件驱动仿真波形图Fig.4 Simulation waveforms of gate driver
图5 减缓UDS振铃仿真波形Fig.5 Simulation waveforms of slow down UDSringing
图6 GaN过电流保护电流仿真波形Fig.6 Simulation waveforms of GaN overcurrent protection current
图4为GaN功率器件驱动波形,可以看出驱动电压约为6 V左右,器件可快速导通与关断器件未出现误通现象。如图5a所示,GaN功率器件在关断过程中UDS会产生关断振铃,波动电压为10 V左右,通过在功率器件的源极与漏极加RC吸收电路。从图5b可以看出关断振铃基本被减缓。通过对功率器件过电流短路仿真测试,当功率开关器件在发生短路时,当IDS在额定电流两倍以内,从图6a可以看出器件在20 ns内做出了快速关断,当IDS在额定电流两倍以上时,器件在80 ns做出了缓慢关断。
本文搭建了Boost实验平台,开关频率为500 kHz,通过实验验证驱动电路设计的正确性。
图7为器件开关频率在500 kHz时,Boost电路中GaN功率开关管的驱动波形图。从图上可以看出,在实验条件下,GaN功率开关器件的开通电压波形约为6 V左右,GaN功率开关器件未出现误通的现象,其开通的时间为20 ns,其关断的时间为15 ns,实现了器件的快速通断,其由于寄生电感引起的尖峰与震荡为0.7 V,符合设计要求。
图7 Boost变换器实验波形Fig.7 Experimental waveforms of Boost convertor
本文对GaN功率器件驱动特性进行了分析,根据其开通与关断回路分析其振铃与误导通现象,提出了一种GaN器件栅极驱动电路优化设计,解决GaN功率器件使用过程中误导通、振铃现象、过电压与过电流情况。通过仿真与实验的波形分析,验证设计的合理性与有效性。