变频电源开关芯片炸裂的失效分析与可靠性研究

王少辉 项永金

摘 要：随着科技的发展，电器设备使用越来越广泛，功能越来越强大，体积也越来越小，对电源模块的要求不断增加。开关电源具有效率高、成本低及体积小的特点，在电气设备中获得了广泛的应用。经分析，开关电源电路多个器件失效主要是电路中高压瓷片电容可靠性差，导致开关芯片失效。本文通过增加瓷片电容材料的厚度提高其耐压性能和其他性能，使产品各项性能有效提高，满足电路设计需求，减少售后失效。

关键词：开关电源；高压瓷片电容；芯片；耐压提升；可靠性

开关电源电路凭借良好的性能得到了广泛应用，作为开关电源电路的重要组成器件，开关芯片决定了开关电源的质量。2019年后，由于空调高端智能化、绿色节能化、友好交互化，空调机型也在不断变化，对电源设计要求更高，电源电路设计也越来越多样化、复杂化；电源电路主题设计也在不断变化，以前开关电源只是用在变频外机，使用量较少，现开关电源电路已用于生产的所有产品。随着开关电源电路的大量使用，因开关芯片导致的售后失效也呈逐年上升趋势，每年因开关芯片失效导致控制器失效的维修成本不断上升。

1 事件背景

变频空调外机开关电源SK开关芯片在售后出现多单失效，核实发现高频变压器[1]输入端连接的高压瓷片电容有多单出现炸裂，未炸裂的瓷片电容测试也有短路失效。外观检查发现，连接开关电源芯片1脚的3个限流电阻、瓷片电容均出现大电流烧坏的现象，如图1所示。因变频外机板整个开关电源电路器件烧坏，导致外机不能工作，严重影响产品质量及品牌形象。

锁定开关芯片失效及电阻烧毁与高压瓷片电容有关，经对高压瓷片电容（型号：10 pF±5%/1 000 V）进行确认均为B厂家生产，经核实该型号电容的生产为A（国外）和B（国产）两个厂家，分析表明，电容本身存在缺陷导致内部短路的可能性较大。

失效控制器主板集中在2018—2019年生產的机器，A、B厂家此编码瓷片电容一直在使用，2019年总使用量差不多60多万，B厂家售后没有出现失效，售后瓷片电容失效全部是A厂家，分析表明，瓷片电容本身质量异常导致开关芯片失效质量异常可能性较大。

瓷片电容介质耐压很高，一般在电路中很难击穿失效，对正常品瓷片电容测试极限耐压，测试50PCS全数通过3倍额定电压3 000 V，没有出现击穿失效。查看近几年复核数据，均无单独瓷片电容故障。统计瓷片电容各厂家供货情况，B厂家主要在2018年开始批量使用。各厂家使用数量见表1。

2 开关芯片的失效故障原因及失效机理分析

分析表明，开关芯片失效及电阻烧毁与为电容本身存在缺陷导致内部短路有关。开关芯片电路及开关芯片失效分析暂未发现异常，此次开关电源电路器件烧坏为B厂家瓷片电容导致。

2.1 开关芯片电路工作原理分析

开关芯片引脚功能图，SK厂家开关芯片工作原理图，如图1所示。

开关芯片各引脚功能描述如表2所示。

2.2 瓷片电容的使用信息

经查，此电容使用商用、家用、出口机器（较多），包括洗衣机，电路主要与电阻并联于开关芯片D漏极与S＼OCP过流电路保护端，搭配SK厂家开关芯片。

其他厂家开关芯片没有搭配瓷片电容，对比SK厂家3款开关芯片外围电路，D-S极间串联均为10 pF瓷片电容+10 Ω贴片电阻，电路无差异。

2.3 失效主板故障现象统计分析

根据售后失效故障现象，主要为瓷片电容炸裂、限流电阻烧坏、开关电源芯片炸裂或烧坏[2]，分析为开关电源芯片第1脚过流信号输入脚连接限流电阻和瓷片电容的电路有大电流进入，导致器件的损坏，且经检查器件焊接无异常。大电流产生的可能性如表3所示。

2.4 失效故障件分析

B厂家高压瓷片电容主要故障为炸裂，本体上有炸裂纹，同时陶瓷芯片介质已经击穿，击穿位置位于陶瓷中部位置，焊接没有问题。失效图片如图2所示。

瓷片电容本体炸开，可以看到明显的孔洞。产品的击穿位置都在电容器芯片内部，而且击穿位置烧痕明显，材料出现明显碳化，这是由于电容器耐压失效时有大电流通过出现的现象，如图3所示。

B厂家绝缘耐压测试结果如表4所示。

3 故障失效电路设计核查及模拟分析

3.1 开关芯片应用电路图

开关芯片电路原理如图4所示，高压瓷片电容 C123是和R57贴片电阻串联形成了“RC阻容模块”，然后和电源芯片的MOSFET D-S两极并联，用于改善MOSFET在高速开关时的EMC性能。

用示波器检测控制器通电时高压瓷片电容两端电压，该高压瓷片电容两端正常工作电压在405 V左右，当压缩机升频到70 Hz时，电压最高在502 V左右，远低于1 000 V工作电压，如图5所示。

经模拟验证，将B厂家高压瓷片电容两端直接短路，并通电测试，出现开关电源芯片炸裂和限流电阻烧坏的情况，分析开关芯片失效与高压瓷片电容质量有关，如图6所示。

为模拟高压瓷片电容漏电的情况，在高压瓷片电容两端分别并联151 kΩ、94 kΩ、47 kΩ、26 kΩ、2.5 kΩ五种电阻进行通电验证，发现47 kΩ电阻在压缩机频率达到70 Hz后，运行2 min出现电阻表面烧坏发黑的情况，2.5 kΩ电阻在压缩机达到70 Hz频率后，就出现电阻烧坏的情况，如图7所示，同时限流电流也烧坏，与售后故障相似，但开关电源芯片已保护，并未出现损坏。即是在限流电阻承受大电流缓慢烧坏的过程中，开关电源芯片都能够及时保护，进一步证明售后故障现象应该是瞬间高压冲击短路产生大电流导致。

对电路工作原理的分析以及結合模拟验证的情况，锁定原因为高压瓷片电容先短路后，使直流电路P点电流经过，并导致限流电阻烧坏、开关电源芯片炸裂。

4 同规格A、B厂家电容性能对比分析

4.1 A与B厂家瓷片电容对比分析

对2个厂家瓷片电容进行对比分析，除本体尺寸外，其他无明显差异，见表5。B厂家的陶瓷芯片比A厂家薄0.5 mm，但直径大0.9 mm。在此种情况下容易因生产过程受力导致裂纹，引起耐压不足，B厂家芯片厚度为0.3 mm，A厂家芯片厚度为0.8 mm；其余极限耐压、焊接质量等无异常。

瓷片电容生产过程原理如图8所示。

4.2 瓷片电容极限耐压测试

1）验证采用50 V的独石电容，没能击穿复现故障，单独测试独石电容的极限耐压可以达到1.3 kV左右（测试阻抗只有20 kΩ左右），远超该电路上的电压（极限500 V左右）；

2）对B和A厂家的瓷片电容进行测试，其中B厂家出现4 pcs击穿的情况，单独击穿电容测试绝缘电阻只有100 kΩ级。

5 瓷片电容失效的解决方案

B厂家电容器属于NPO温度特性的电容器，电容器的芯片尺寸为：芯片厚度0.3 mm，芯片直径5 mm；正常情况下电容器成品破坏电压为6 kV左右。但是该电容器芯片使用的是国产材料，受限于国产材料纯度不高、均匀性不好、工艺参数波动较大等因素，导致国产电容器芯片余量范围不稳定，可靠性存在一定隐患。该规格的国产NPO材质的芯片耐压范围在（3～6）kV，进口（A厂家）NPO材质芯片耐压范围在（5～6）kV，进口芯片的质量稳定性和一致性较好。国产芯片要想达到进口芯片相同的质量，就必须增大安全系数，加大芯片的尺寸，增加芯片厚度将减少芯片结构性缺陷，提升芯片的耐压等级和质量稳定性。增加尺寸后，电容器耐压范围可以提升到（5～8）kV，可有效提升电容器耐压性能和可靠性。

1）提升瓷片电容耐压国产瓷片电容极限耐压在（3～5）kV，提升达到（5～6）kV。

2）瓷片电容尺寸整改

分析发现B厂家的电容芯片相对较薄且面积大，在制程中较容易产生受损裂纹缺陷，导致耐压能力降低甚至击穿，增大瓷片电容尺寸。

3）整改后制品性能对比

新制品规格书确认电容芯片厚度已更改，电容极限耐压提升到（5～6）kV，且各项性能显著提升。分析测试表明，新制品能达到额定电压2 kV，极限电压达到（10～12）kV，性能测试数据对比A厂家无差异。新制品性能测试数据如表6所示。

6 失效整改总结及意义

通过产品实际应用过程中的问题反馈，本文从开关芯片的失效机理、失效因素、应用电路、器件可靠性等多方面进行分析，对瓷片电容单体物料各项性能进行优化，显著提高MOSFET在高速开关时的EMC性能。为了保证开关电源电路的可靠性，通过提高瓷片电容的极限耐压及各项性能参数，解决了器件在实际应用中可靠性的问题，经过实际应用取得显著效果。

参考文献：

[1] 郗亮.高频变压器发展的研究[J].通信电源技术，2018（03）：237-238.

[2] 黄永俊，张居敏，胡月来.开关电源可靠性的设计[J].农机化研究， 2005（02）：147-148.