扫描电镜在金属材料检测中的应用探讨

2020-11-02 09:33韦佳辰
建筑与装饰 2020年28期
关键词:扫描电镜金属材料应用

韦佳辰

摘 要 在对金属新材料及工程的勘探研究中,扫描电子显微镜起了很大的作用,分析功能多种多样,并且具有智能化。随着科学技术水平的不断发展和进步,各个行业和领域对检测技术水平有了一定的要求,扫描电镜在检测过程中要充分的发挥自身的优势,要进一步的对扫描电镜进行研究。在此背景下,文章针对扫描电镜在金属材料检测中的应用进行了分析和探讨。

关键词 金属材料;检测分析;扫描电镜;应用

引言

在对金属材料进行研究和分析时,扫描电子显微镜起着重要的作用。电子显微镜的官方产品是由英国剑桥科学仪器公司开发的,如今扫描电镜能够配合能谱仪、波谱仪等配件进行使用。扫描电子显微镜与电脑图像显示及软件分析相结合,可以很好地观察样品的宏观及微观形式,并且进行相应的定性及定量分析,所以它能够很好地把形貌与元素进行对应,因此在对材料进行研究和分析时,扫描电镜是一种非常有效的设备[1]。

1扫描电镜的原理

扫描电子显微镜结合电子光学、真空和最新的电脑控制技术。在具体工作过程中使用二次电子或者是背散射电子进行成像,基于扫描电子显微镜,开发出了宏观断口学以及显微断口学。电子光学的一部分是聚光镜和物镜构成的。释放电子时使用的是电子枪,电子的交叉点可以作为电子源使用,在第二次电容器和物镜的作用下形成一定量的能量和束流强度。在特定的扫描过程中,会在扫描线圈的作用下进行网格扫描,并通过入射电子和试样的相互作用获得二次电子,以及背散射电子等信息。上述信息的二维强度是会发生变化的,这主要是因为其受到了试样表面特征的影响,收集到的信息可以转换成特定的视频信号,反映样品表面状态的图片是通过图像管的动机扫描获得的[2]。

2现代扫描电镜的发展

(1)低电压扫描电镜。在对电子束流进行加速时,电压如果在1kV左右,那么就成为低点呀。在此情况下,如果非导体样本没有经过导电处理,就可以减少充电效果,与此同时,试样所受到的辐照损伤也会减小,并且还会收到很多二次电子的信息,这时图像信息的敏感度就会提高,并且也提高了边缘效果,对半导体及非导体的分析也会更有帮助。物镜的球像差随加速电压的减少而增加,此时图像的分辨率就会受到一定的影响,这也是低电压工作模式的不足之处。

(2)低真空扫描电镜。在解决不导电试样分析时,低真空是一种分析模式。在此过程中会在一级压差光栏的作用下实现两级真空。在此过程中,电子束的发射靠的是电子室,电子束聚焦靠的是镜筒,要确保上述两个部位处于高真空状态,在具体工作时要使用机械泵以及扩散泵来协助。样品室的真空状态要求不是太高,在高空状态下进行工作时,机械泵能够有效地在样品室中进行工作。聚焦电子束会进入到低真空样品室中,并且在空气分子的作用下会发生电离现象,与此同时,在附加电场的作用下,非导体表面的充电现象会有所消除,这样在自然状态下就有利于对非导体进行观察,在对陶瓷、生物以及化工等材料进行研究和分析时,该方法起着重要的作用。

(3)环境扫描电镜。上面提到的扫描电镜样品室的真空压力是400。随着科学和技术的不断发展,一些制造企业形成了这种低真空压力达到2600的情况。所以样本可以融入更多的分子,此时可以向样品室注入水蒸气或者是混合气体,与高温或低温样品站结合,可模拟样品周围的环境,然后在扫描电镜的作用下,能够很好地反映出环境条件下试样的变化[3]。

3在对金属材料进行检测时,扫描电镜的具体应用

(1)微观组织观察。在对常规组织进行观察时,可以使用光学显微镜,在这个过程中可以看到分布比率,但是光学显微镜的倍率是有一定限度的,所以对片层结构、针状结构等很难观察。而扫描电镜能够更大范围的对倍数进行放大,并且可以做到连续可调,这样就能够对显微组织和宏观形貌进行有效的观察。在对珠光体组织进行观察时,为了得到其片层间距的大小,可以对珠光体片层结构进行放大,然后再利用相关软件,每层之间的距离进行计算。

(2)点扫描。夹杂物的种类随着施工工艺的不断改进和完善出现了多样性的特征,在光学显微镜下,存在不清楚的夹杂物类型,具有能量光谱仪的扫描电子显微镜对其进行观察时,可以明确夹杂物的化学组成和含量。在具体觀察过程中,可以对夹杂物的二次电子成像以及化学元素等进行分析,X70管线钢的非金属介物的一个扫描,所示杂物由镁、铝、钙和硅酸盐组成。夹杂物在断口形貌上扫描的图像,通过能量光谱得出分析结果,夹杂物是Al2O3和MnS的化合物,其直径相对较小,很可能是炼钢过程中夹杂的,几乎不会影响材料的可塑性。当一个大的夹杂物出现在断口上时,那么很可能会导致材料的断裂[4]。

(3)断口分析。在扫描电子显微镜下,景深是可控制的性能指数,可以聚焦高低不均匀的标本。由于景深比较大,所以能够很好地对实验断口以及现场失效断口等进行分析,在此过程中不需要对端口试样进行破坏或者是制样等,这也是扫描电镜所具有的使用优势。

4结束语

由以上可知,扫描电镜(SEM)是比较常用的一种材料分析手段,并且它具有很大的使用优势,所以有关部门要重视对其进行研究和应用。

参考文献

[1] 傅俊超,李莉萍,李艳.扫描电镜在金属材料检测中的应用[J].建筑工程技术与设计,2019(6):4531.

[2] 张丽娟.扫描电镜在金属材料检测中的应用分析[J].建筑工程技术与设计,2019(22):3698.

[3] 赫涛,周渊名,唐亮.扫描电镜在金属材料检测中的应用[J].商品与质量,2017(2):190-191.

[4] 寇沙沙,李智丽,靳燕.扫描电镜在金属材料检测中的应用[J].包钢科技,2016,42(1):42-46.

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